本公开提供了一种电路板的测试方法、装置及存储介质，所述方法包括：基于原始测试代码，确定待测电路板中每个待测元件的测试类型；针对同一个测试类型的待测元件，确定所述待测元件对应的测试参数中的测试节点；根据所述测试节点，对所述测试参数对应的原...