本申请公开了一种新的半导体参数测试硬件架构系统，其包括测试模块和开关矩阵，所述测试模块包括源测量单元(SUM)、数字万用表、电容测量单元和脉冲发生器单元(测试模块包括但不限于以上测试单元)，所述开关矩阵上连接有弹簧针(pogo pin)...

本实用新型公开一种探针设备移动滑轨，包括：台面，所述台面顶部设置有横向调节框，所述横向调节框转动连接有第一螺纹杆，所述第一螺纹杆螺纹连接有滑动块，所述滑动块与横向调节框滑动连接，所述滑动块顶部固定连接有纵向调节框。该探针设备移动滑轨，通...

本实用新型公开一种电性测试用触点连接机构，包括：触点连接器主体，所述触点连接器主体一侧开设有连接口，所述触点连接器主体底部一侧固定连接有转动块，所述转动块与支撑板转动连接。该电性测试用触点连接机构，通过设置有转动块、螺纹杆、转动杆、支撑...

本申请公开了一种半导体参数测试系统用工业机柜，其包括柜体、设置于柜体上的柜门，还包括左右对称设置于柜体内的四个竖梁、设置于左右相对的竖梁之间且用于安装仪器的若干分层板、用于调节分层板高度的调节安装组件，所述调节安装组件包括，左右对称设置...

本实用新型公开了一种新的半导体参数测试系统诊断装置，包括半导体参数测试系统、探针卡和PCB板，所述半导体参数测试系统和探针卡之间通过电缆连接，所述PCB板上的节点间连接有多个标准元器件，所述探针卡和标准元器件之间连接，所述标准元器件包括...

本实用新型公开了一种通过开关矩阵内部电路实现开尔文四线测试系统，包括源测量单元、电容测量单元、测试晶圆和控制单元，所述控制单元包括具有低漏电开关矩阵的控制开关，所述源测量单元包括六个SMU，所述电容测量单元包括CMU，所述控制开关分别与...

本申请公开了化学分析用气瓶放置结构，其包括柜体、设置于柜体中的若干气瓶、转动连接于柜体后侧壁上的开合门，所述柜体内前侧壁上与气瓶相对应的位置上下对称设有两个与气瓶配合使用的防倾倒组件，所述防倾倒组件包括左右对称设置于柜体上的两个竖放板、...

本实用新型公开了一种有机物化学分析采气混和盘面，属于半导体与面板制造技术领域，包括底座，所述底座的顶部设有多组流量控制器，且多组所述流量控制器的底部均通过安装组件固定安装于底座的顶部，所述底座的顶部且位于流量控制器的两侧分别设有进气气控...

本发明公开了一种新的并行半导体参数测试系统，包括：调度模块；存储模块；测试模块，控制器、存储器，测量单元，测量单元包括源测量单元(SMU)，数字万用表、电容测量单元和脉冲发生器单元(测量单元包括但不限于以上测试单元)。本发明在使用小规模...