本发明实施例提供一种时序电路设计方法、时序电路、电子设备及存储介质，其中，所述时序电路包括：至少两级寄存器，相邻两级的寄存器通过目标数据路径传输数据信号，且从起始级的寄存器到终点级的寄存器，各个目标数据路径的路径长度逐级递减。本发明实施...

本发明实施例公开一种存储芯片的测试方法及相关装置，涉及集成电路技术领域，能够测试多种类型的存储芯片，有效扩大测试对象的适用范围，从而大大降低测试成本。所述方法包括：根据被测存储芯片中预设芯片管脚所属的管脚类型，配置测试机的数据传输管脚，...

本公开提供一种系统测试方法、装置、平台和存储介质，其中所述方法包括：配置与交换设备之间的通信链路工作在链路聚合保护模式；向所述交换设备发送测试指令，指示所述交换设备转发至对应的被测对象和/或被测辅助设备，以使被测对象在被测辅助设备的辅助...

本发明实施例公开一种判定异常芯片的方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片验证领域，能够有效提高异常芯片判定的准确性。所述方法包括：对第一晶圆上第一芯片的第一引脚，依次施加至少两个检测输入值，得到对应的检测输出值；基于所述检测输出值及预...

本申请实施例提供一种芯片、芯片的信息安全保护方法及电子设备，芯片包括：多个功能模块，所述多个功能模块中的目标功能模块设计有存储敏感信息的安全设计，所述目标功能模块为所述多个功能模块中的部分功能模块或者全部功能模块；至少对所述目标功能模块...

本发明实施例提供了一种寄存器释放方法、处理器、芯片及电子设备，其中，方法包括：确定当前指令中目标逻辑寄存器对应的指令结果标识；在所述指令结果标识指示所述目标逻辑寄存器的值为预设值时，将所述目标逻辑寄存器映射至预设物理寄存器；其中，所述预...

一种用于缓存的检测方法及装置、用于缓存的填充方法及装置、电子设备与存储介质。该缓存包括多个分组和多个路，每个分组包括与多个路分别对应的多个缓存行，多个分组包括目标分组，目标分组包括与第一路对应的目标缓存行。该用于缓存的检测方法包括：检测...

本发明实施例公开一种电路延时的估计方法及装置

本说明书提供访存控制方法

本申请提供一种混沌电路

本发明实施例提供一种封装基板及其形成方法、封装结构，封装基板包括基板，所述基板包括相对的底面和顶面；位于基板底面和顶面的介质层和位于所述介质层中的信号互连结构；位于所述基板底面的介质层上的第一焊盘和位于所述基板顶面的介质层上的第二焊盘；...