哈尔滨工业大学专利技术

哈尔滨工业大学共有42530项专利

  • 光束扫描器性能检测装置,它具体是一种光束扫描器性能检测装置。它由CCD光学系统(1)、图象采集模块(2)、曝光读出模块(3)、计算机(4)、数据输出输入端口(5)组成;(1)的控制输出输入端连接(4)的控制输入输出端,(1)的图象信号输...
  • 多功能复合光学纳米膜,它涉及一种光学器件表面的膜。现有的膜在长期接受空间辐射环境作用后,这些薄膜会着色,光谱透过率明显下降。本发明各成分所占重量份数分别为:钛酸四丁酯1-4份,无水乙醇3-9份,乙酰丙酮3-9份,二甲基甲酰胺0.001-...
  • 本发明属于光学显微成像及微观测量技术领域,涉及一种具有高空间分辨成像能力的共焦干涉显微镜。该显微镜采用共焦干涉显微成像技术来改善共焦显微镜的轴向分辨力,采用超分辨光瞳滤波技术来改善共焦显微镜的横向分辨力,继而达到改善共焦显微镜的空间分辨...
  • 本发明涉及一种光学增透膜的设计方法。遗传算法优化增透膜系自动设计方法通过如下步骤实现:确定所设计的增透膜系的层数、各膜层折射率范围和厚度范围、基底材料、入射角和增透波段;在每个膜层的折射率数值范围内各取一个等差数列M1、M2…Mi;在每...
  • 本发明公开了一种超精密回转轴与激光直写机直写光轴空间对准方法,该方法利用极坐标直写机系统的差动像散离焦检测装置、调焦伺服系统、精密定位机构以及位相光栅,实现回转轴与直写光轴的对准,所述方法包括以下步骤:把测量范围划分成精确测量区和定位测...
  • 光致发光薄膜及其辐照改性的制备方法,涉及一种光电集成领域中的发光材料及其制备方法。目前制备的发光SiO↓[2]薄膜存在发光不稳定和发光强度不高,制备方法用时较长的弊端。光致发光薄膜,在硅基片表面镀制铝膜,在铝膜表面镀制SiO↓[2]薄膜...
  • 收发离轴式卫星光通信跟瞄装置,它涉及的是高速数字分频器技术领域。它解决了现有卫星光通信跟瞄装置结构过于复杂、体积大、重量大的问题。入射L1输入到2的左端,L1经过2的传输并从2的右端输出到6的左端,L1透过6后入射到7的光输入端中;3输...
  • 本发明属于目标跟踪及仪器技术领域,特别是一种具有高逆反射率,大入射角,定向逆反射特性的球对称梯度折射率微珠阵列反射器。本发明通过采用离子交换(或悬浮扩散共聚)等技术加工出具有球梯度折射率分布的Luneburg微球透镜,在微球的后表面镀高...
  • 本发明属于目标跟踪及仪器技术领域,特别是一种具有高逆反射率,大入射角,定向逆反射特性的麦克斯韦微半球阵列反射器。本发明通过采用离子交换(或悬浮扩散共聚)等技术加工出具有麦克斯韦透镜折射率分布的半球透镜,在半球的后表面镀高反射膜,将其嵌入...
  • 本发明涉及一种漂移量靶标反馈控制的长距离二维光电自准直装置和方法。装置包括二维光电自准直光管、计算机、二维光束偏转装置,和漂移量监测装置,还包括分光式靶标探测器,该分光式靶标探测器位于二维光束偏转装置和漂移量监测装置之间,分光式靶标探测...
  • 本发明公开了一种极坐标激光直写系统单线触发解析对准方法,该方法借助极坐标激光直写系统的差动像散检焦装置和精密定位驱动机构与伺服反馈系统,利用一块带有单刻线的基片实现直写光轴与工作台回转轴的精密对准。其中,单刻线基片包括一条刻线,基片表面...
  • 本发明属于精密仪器制造和精密测试计量技术领域,特别涉及一种基于光程倍增补偿方法的高精度二维光电自准直装置和测量方法。该装置包括依次放置的激光光源、分划板、主分光镜、主CCD图像传感器、准直物镜、测量反射镜,在激光光源和分划板之间放置一前...
  • 本发明提供的是一种材料超高温烧蚀图像采集系统。它包括CCD相机,CCD相机通过连接件连接光学变焦镜头,光学变焦镜头前通过连接件连接套筒,在套筒中安装偏振片组、窄带滤光片、偏光片,偏光片靠近光学变焦镜头,窄带滤光片位于偏光片与偏振片组之间...
  • 本发明提供的是一种保护光纤智能复合材料的入出口的方法。将聚酰亚胺薄膜裁成两个宽度在10mm,长度为90-110mm的片,把光纤传感器作为入出口的部分放在2片薄膜的中间,把加热棒通电加热,当加热棒的表面达到350℃时,开始对薄膜进行加热3...
  • 本发明属于显微成像及微观精密测量技术领域,涉及一种具有数十纳米横向分辨力的反射多光束共焦干涉显微镜,包括光源(1),依次放在光源发射端的准直扩束器(2)、第一偏振分光镜(10),放置在第一偏振分光镜(10)反射光路上的第一1/4波片(1...
  • 本发明属于显微成像及微观精密测量技术领域,涉及一种具有数十纳米横向分辨力的透射多光束共焦干涉显微镜,包括光源(1),依次放在光源发射端的准直扩束器(2)、偏振分光镜(10),放置在偏振分光镜(10)反射光路上的1/4波片(11)、显微物...
  • 高精度光束同轴度调整方法,本发明涉及收发共用同一天线的光学系统的发射光路与接收光路的同轴度调整方法。它克服了现有方法难以满足高精度应用的需求以及不能用于大孔径天线光学系统的缺陷。本方法首先由被测光学系统的发射光路1发射激光束,激光束经分...
  • 本发明属于显微成像及微观精密测量技术领域,涉及一种图像复原及光瞳滤波式横向超分辨共焦显微成像方法与装置,包括光源(1),依次放在光源发射端的准直扩束器(2)、光瞳滤波器(3),偏振分光镜(4),放置在偏振分光镜(4)反射光路上的1/4波...
  • 分布式锥形光纤光栅传感器及其带宽解调装置、检测方法,它涉及光纤布拉格光栅传感技术及光谱分析技术领域,它解决了现有的基于对锥形光纤光栅的反射光进行功率测量来获得所传感的应力/应变信息,致使锥形光栅不能再用于实现分布式的传感方式,以及为区别...
  • 不同应力区结构保偏光纤的拍长测算方法,本发明涉及一种测算偏振保持光纤拍长的方法。它解决了因应力区和芯区掺杂形状各异,偏振保持光纤的拍长很难用通用理论公式计算的问题。本发明通过下述步骤实现:一、获取含有偏振保持光纤的包层区、应力区和芯区的...