本发明涉及缘子污秽检测技术领域，具体地说，涉及一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽检测方法及系统。其包括以下步骤：利用高光谱成像系统对绝缘子表面污秽的高光谱图像进行数据采集；对采集到的高光谱图像数据进行黑白校正和感兴趣区域提取，获取原始光...