本发明属于半导体技术领域，具体地说是一种光电子器件LED芯片参数智能检测与校准系统，包括非接触式双模激励时序控制器模块、载流子初态复用成像阵列单元、工作态性能逆向映射引擎单元、片上校准码烧录接口以及测试主控单元；所述测试主控单元被配置为...