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邓光亮专利技术

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制糖浓度法过饱和度计算尺制造技术

本实用新型为制糖工艺生产设计。用于煮种、助晶操作及工艺管理，过饱和度Ｎ是ＡＰ（纯度）、ｔ（温度）、Ｂ（锤度）、Ｋ（饱和因素）的函数，本计算尺经研究、实验、测罐后，消掉Ｋ，仅知道前三个参数，就能简便、准确的拉出饱和度Ｎ。

最后更新日期：2012-04-11 18:40 访问量：381