本发明公开了一种半导体器件用高温高湿反偏试验设备，涉及半导体器件试验技术领域，包括试验箱，所述试验箱的前侧设置有箱门，所述试验箱的内侧设置有试验单元，所述试验箱的内侧固定连接有进风箱，所述试验箱的右侧固定连接有蒸汽发生器、风机一与风机二...