本技术公开了一种多通道全速率误码率测试设备，包含MCU控制器、伪随机码型发生器和检测器、时钟源电路、信号整形电路及电源电路。MCU控制器、时钟源电路、信号整形电路均与伪随机码型发生器和检测器相连。MCU控制器接收用户指令设置测试参数，可...

本技术公开了一种25G时钟数据恢复仪，由时钟提取电路和高速信号输入接口组成。时钟提取电路能从25G高速数据信号中精准提取时钟信号，利用相位比较器、压控振荡器和环路滤波器，跟踪信号相位变化，生成与数据速率同步的稳定本地时钟。这解决了高速数...

本技术提供一种5M‑2.5G的误码率测试设备，包含MCU控制器、时钟源电路和信号整形电路。信号整形电路由芯片U13、电阻R122、R123、电容C148、C149、C150、接头J12和J13组成。芯片U13的多个引脚分别与电容、电阻、...

本技术公开了一种程控可调光衰减器，包含光分路器、可调光衰减单元、光探测器和控制单元。光分路器有第一、第二光分路器，负责将输入光信号分路，增加了系统灵活性与扩展性。可调光衰减单元能改变光传输损耗以调整光衰减量。光探测器检测衰减后的光功率，...

本技术公开了一种新型误码率测试电路，含MCU控制器、时钟源电路及信号整形电路。MCU控制器与二者相连，实现控制功能。时钟源电路提取时钟信号，为信号整形电路提供时间基准。信号整形电路由芯片U603、晶振Y2及众多电容、电阻等构成，可对输入...

本技术公开了一种全速率误码率测试设备含时钟源、MCU控制和电源电路。其中，时钟源电路作用关键，其核心芯片U1与众多电容、电阻、二极管协同工作。芯片U1的多个引脚连接电容接地，稳定内部电路，为时钟信号产生营造稳定环境。通过与时钟发生器相连...