本发明为一种太阳能电池测试装置，该太阳能电池测试装置包括：测试台，测试台上具有至少一个透光部；用于夹持太阳能电池的测试夹子，测试夹子设置于测试台上，测试夹子上设置有多个第一引脚，测试夹子对太阳能电池进行夹持状态下，太阳能电池与透光部相对...

提供了一种光栅光谱仪的波长校准方法，包括：通过旋转可旋转光栅将校准光源的多个特征峰分别移动到探测器的中心位置，确定可旋转光栅的光栅转角与中心波长之间的函数关系；以及通过分析多个中心波长下获取的多幅光谱图，确定以下用于在中心波长确定时计算...

本发明提供一种自动对焦的光谱仪，包括：用于分光的光栅元件；用于会聚光束的成像元件；用于移动所述成像元件以实现自动对焦的控制器，与所述成像元件连接；以及探测器；所述入射光经所述光栅衍射至成像元件后，再经所述成像元件会聚到所述探测器以得到光...

本申请公开了一种光谱测量的光子计数数据处理方法、装置及系统，所述方法包括：当读取多个通道的累计采样数据时，确定读取次数是否大于所述多个通道写入采样数据的写入次数，所述累计采样数据为对应通道所有采样数据的累计值；若否，依次读取多个通道的累...

本发明为一种光谱采集装置，该光谱采集装置包括：壳体，壳体内形成有相互隔离的第一腔室和第二腔室；用于采集红外信息的光谱采集机构，光谱采集机构设置于第一腔室内；用于对光谱采集机构进行控制的控制机构，控制机构设置于第二腔室内；屏蔽隔板，屏蔽隔...

本实用新型为一种闪烁体性能测试装置，该闪烁体性能测试装置包括：稳态射线源和脉冲射线源中的至少一种；能旋转以调节角度的样品架；能移动以调节位置的移动台，所述移动台上设置有透镜组，所述透镜组的出射端与集光光路的一端相连，所述集光光路的另一端...

本实用新型提供了一种三维荧光摄谱仪包括：一光谱仪，一待测溶液样品，一整形准直聚焦光路模组和一光测试设备；光谱仪的光谱面将不同激发波长的光输出至待测溶液样品。本申请通过重新设计多波长激发光路，激发光路的光谱准直，整形光路结构设计，不仅实现...

本实用新型为一种多样品光致发光测试装置，该多样品光致发光测试装置包括营造测试所需环境氛围的温控腔，温控腔内设置有至少一个样品，温控腔的外部设置有至少两个光纤模组，一光纤模组用于发射激发光，另一光纤模组用于接收样品发出的信号光，两光纤模组...

本实施例提供了一种分层成像系统，系统包括：显微物镜、支撑组件、驱动装置、成像镜组和成像仪；显微物镜、成像镜组和成像仪同轴安装于支撑组件；驱动装置驱动成像镜组沿成像镜组的轴线方向运动，使得成像镜组将接收到的反射光汇聚于成像仪依次生成待成像...

本实用新型提供了一种显微光致发光成像装置，包括：激发光源，高光谱相机，用于扫描样品所发出的荧光；显微物镜，位于所述样品与所述高光谱相机之间的光路上，用于聚集所述激发光源所发出的激发光至所述样品中，以及将所述荧光传输至所述高光谱相机；可透...

本实用新型为一种倒置探针夹具，该倒置探针夹具包括固定吸附于测试平台上的磁吸底座、带动探针移动的位移滑台以及位于探针与位移滑台之间的探针安装管，位移滑台设置于磁吸底座的顶部，探针安装管设置于位移滑台上，探针安装管的顶端位于位移滑台的上方并...

本实用新型为一种探针台，该探针台包括置物平台、带动探针移动以对放置于置物平台上的物品进行测试的两个探针夹具、安放探针夹具的探针座平台以及带动置物平台和探针座平台进行升降动作的升降台，置物平台位于显微物镜的下方，且置物平台设置于探针座平台...

本申请实施例提供一种光谱采集装置，包括：装置主体、设置在所述装置主体内用于对待测光谱进行分光的光栅和用于对所述待测光谱进行聚光的成像镜，所述成像镜的成像镜射入光路或成像镜射出光路上设置有用于对所述待测光谱进行效率校正的校正装置；本申请能...

本实用新型公开了一种用于检测光学特性和电学特性的装置。该装置包括第一透镜，其将面激发光引导至待检测样品的待检测区域；电学特性检测单元，其被配置为检测待检测区域在被面激发光照射之后的电学特性；第二透镜，其将待检测区域在被面激发光照射之后激...

本发明提供了一种拉曼光谱下基于残差分析的物质鉴别方法。该方法包括：采集未知物和对比物的拉曼光谱，进而确定两者的拉曼特征峰并确定两者的拉曼特征峰特征向量组；进行对比物和未知物的拉曼特征峰匹配；若存在未匹配的拉曼特征峰则未知物和对比物不是同...

本发明实施例提供了一种分层成像系统、方法和装置，系统包括：显微物镜、支撑组件、驱动装置、成像镜组和成像仪；显微物镜、成像镜组和成像仪同轴安装于支撑组件；驱动装置驱动成像镜组沿成像镜组的轴线方向运动，使得成像镜组将接收到的反射光汇聚于成像...

本申请实施例提供一种光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置，所述方法包括；获取待测光谱打在探测器不同位置时的效率；构建一斜弧面，并根据所述斜弧面对所述待测光谱进行校正操作，其中，所述斜弧面的长度方向值和高度方向值的数值对应关系由所述待测光...