闪烁体性能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术为一种闪烁体性能测试装置，该闪烁体性能测试装置包括：稳态射线源和脉冲射线源中的至少一种；能旋转以调节角度的样品架；能移动以调节位置的移动台，所述移动台上设置有透镜组，所述透镜组的出射端与集光光路的一端相连，所述集光光路的另一端连接有光检测元件；控制所述稳态射线源或所述脉冲射线源的工作状态，并调节所述移动台的位置和/或所述样品架的旋转角度，以形成不相同的测试光路。本实用新型专利技术可完成对于闪烁体样品多种性能的测试，具有集成度高、成本低、功能多样的优点。点。点。

【技术实现步骤摘要】
闪烁体性能测试装置


[0001]本技术涉及光学测试领域，尤其涉及一种闪烁体性能测试装置。

技术介绍

[0002]闪烁体是一种在吸收高能粒子或射线后能够发光(探测器灵敏波段)的元件，在辐射探测和成像领域发挥着十分重要的作用。目前，对于闪烁体性能的测试方法中多数需要用到放射源，存在设备成本高、电离辐射防护难度大等缺点。
[0003]现阶段，闪烁体性能测试设备多为在铅箱内集成稳态X射线源，在垂直于X射线方向设置收集光路模组，通过收集光路模组收集闪烁体样品的辐射发光，并通过收集光路模组中的集光光路将辐射发光导入荧光光谱仪，完成闪烁体的辐射发光光谱测试。但现有闪烁体性能测试设备功能单一：
[0004]一、无法完成辐射位置X射线辐射剂量测试；
[0005]二、无法同时实现闪烁体样品透射和反射发光测试；
[0006]三、无法进行闪烁体样品的温度特性测试；
[0007]四、无法进行闪烁体样品X摄像成像质量对比实验；
[0008]五、无法完成闪烁体样品相对光输出(光子数/MeV)实验；
[0009]六、无法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪烁体性能测试装置，其特征在于，包括：稳态射线源和脉冲射线源中的至少一种；能旋转以调节角度的样品架；能移动以调节位置的移动台，所述移动台上设置有透镜组，所述透镜组的出射端与集光光路的一端相连，所述集光光路的另一端连接有光检测元件；控制所述稳态射线源或所述脉冲射线源的工作状态，并调节所述移动台的位置和/或所述样品架的旋转角度，以形成不相同的测试光路。2.如权利要求1所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述稳态射线源包括高压发生器和第一射线光管，所述高压发生器与所述第一射线光管之间连接有输电线，所述第一射线光管的出射端朝向所述样品架。3.如权利要求1所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述脉冲射线源包括脉冲激光器、第一反射镜和第二射线光管，所述脉冲激光器的出射端朝向所述第一反射镜，调节所述第一反射镜的角度，以使所述第一反射镜反射的光线射入至所述第二射线光管的入射端，所述第二射线光管的出射端朝向所述样品架。4.如权利要求1所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述透镜组至少包括用于对光线进行汇聚的第一透镜和第二透镜，所述第一透镜的入射端朝向所述样品架，所述第一透镜的出射端朝向所述第二透镜的入射端，所述第二透镜的出射端与所述集光光路相连。5.如权利要求1所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述闪烁体性能测试装置包括轨道，所述移动台能滑动地设置于所述轨道上，所述移动台能沿所述轨道至少在第一位置与第二位置之间移动。6.如权利要求5所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，调节所述移动台至所述第一位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第一角度，以在所述稳态射线源、所述闪烁体样品、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的透射发光性能的第一测试光路。7.如权利要求5所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，所述闪烁体性能测试装置还包括第二反射镜；调节所述移动台至所述第二位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第二角度，所述第二反射镜能接收所述闪烁体样品反射的光线并将所述反射的光线反射至所述透镜组的入射端，以在所述稳态射线源、所述闪烁体样品、所述第二反射镜、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的反射发光性能的第二测试光路。8.如权利要求5所述的闪烁体性能测试装置，其特征在于，调节所述移动台至所述第一位置时，所述样品架上设置有闪烁体样品，并转动所述样品架至第三角度，以在所述脉冲射线源、所述闪烁体样品、所述透镜组、所述集光光路和所述光检测元件之间形成用于测试所述闪烁体样品的辐射衰减时间性能的第三测试光...

【专利技术属性】
技术研发人员：王冰，闫高齐，石广立，赵怡然，
申请(专利权)人：北京卓立汉光分析仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：