本发明公开了一种电子元件性能测试系统，具体涉及电子元件性能测试领域，包括路径建构模块、参照提炼模块、语义校验模块、偏差建模模块、闭环归档模块，路径建构模块通过以当前电子元件性能测试操作中的控制、响应与观测三类行为数据为基础，构建具有时间...