在第一方面，本说明书涉及一种通过使用超声非侵入性地表征非均匀介质的系统，该系统包括：至少一个第一换能器阵列(10)，其被配置为在所述非均匀介质的区域内产生一系列入射超声波并记录由所述区域反向散射的超声波随时间的变化；以及计算单元(42)...

根据一个方面，本发明涉及用于通过透射以光学检测在流体样品中运动的纳米粒子的设备(100)，包括：光源(10)，用于发射用于照射样品的空间非相干光束；包括显微镜物镜(31)的成像光学系统(30)；二维光学检测器(40)，其包括通过成像光学...