本发明涉及一种面团样品测量系统，用于确定面团样品的特性，其中，面团样品测量系统（10）至少包括：升降装置（12），其高度沿升降轴（H）可平移调节，以实现不同的升降位置，使得面团样品受到平移力；固定施力构件（14），用于由于面团接收装置（...