埃克斯康特尔股份公司专利技术

埃克斯康特尔股份公司共有9项专利

  • 用于X射线照相术尤其是用于平面束X射线照相术的方法和装置,以及一种探测入射辐射的探测器。在该方法和装置中,其中,由X射线源(60)发射X射线(9),使X射线形成平面束并且透过要成象的目标(62),用探测器(64)来探测透过所述目标(62...
  • 一种用于放射照相术的方法和设备,以及一种用于检测入射放射的检测器。在该方法和设备中,从X射线源(60)发射X射线(9),该X射线形成平面束并透过要成象的目标(62),并且在检测器(64)中检测透过所述目标(62)的X射线。检测入射放射的...
  • 一种用于电离辐射的探测的探测器(64),和一种用在平面束射线照相中、包括这样一个探测器的设备。该探测器包括:一个腔室,填充有一种电离介质;第一第二电极装置(2、1、18、19),提供在所述腔室中,在他们之间有一个空间,所述空间包括一个转...
  • 一种用于电离辐射的探测的探测器(64);和一种用在平面束射线照相中、包括这样一个探测器的设备。该探测器包括:一个腔室,填充有一种电离介质;第一和第二电极装置(2、1、18、19),提供在所述腔室中,在它们之间有一个空间,所述空间包括一个...
  • 一种用于电离辐射的探测的探测器(64);一种用在平面束射线照相中、包括这样一个探测器的设备;及一种用来探测电离辐射的方法。该探测器包括:一个腔室,填充有一种电离介质;第一和第二电极装置(2、1、18、19),提供在所述腔室中,在它们之间...
  • 一种用来探测电离辐射的方法;一种用于电离辐射的探测的探测器(64);及一种用在平面束射线照相中、包括这样一个探测器的设备。该探测器包括:一个腔室,填充有一种电离介质;第一和第二电极装置(2、1、18、19),提供在所述腔室中,在它们之间...
  • 一种用于射线照相的方法和装置及检测入射射线的检测器。在本方法和装置中,X-射线(9)从X-射线源(60)发射。与成像物体(62)干涉的所述X-射线在检测器(64)中被检测。检测入射射线的检测器(64)为一个气体雪崩室,包括在其间施加电压...
  • 一种用于来自一个X射线源的进入辐射的两维探测的、主要用在X射线照相中的探测器单元。该单元包括一种有多个通道(6)在其中延伸、且包括表面部分(7)的固体材料结构(2),该表面部分(7)包括一种转换介质。通道的表面部分倾斜,从而进入辐射以锐...
  • 一种用于探测电离辐射的探测器,一种包含该探测器的用于平面束辐射照相的装置,以及一种探测电离辐射的方法。该探测器包含一个充满可电离气体的腔;第一和第二电极排列(2,1,18,19)被置于该腔内,它们之间有一个空间,该空间包含一个转换区域(...
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