一种用于提供电连接的方法，包括将第一线缆连接到印刷电路板上的第一导电结构，将第二线缆连接到印刷电路板上的第二导电结构，比较下述两项：包括第一线缆和印刷电路板上的第一导电结构的第一信号路径的传播延迟、以及包括第二线缆和印刷电路板上的第二导...

本发明涉及用于校准自动化测试设备(ATE)以对被测器件(DUT)进行自动化测试的设备和方法。根据本发明的一个方面，装置(10)包括：信号提供器，其被配置为生成信号并将信号施加到提供反射的信号路径(4)；并且包括电路装置，其被配置为确定在...

一种用于测试一个或多个被测设备的自动测试设备包括多个端口处理单元，该多个端口处理单元至少包括：相应的缓冲存储器，以及相应的高速输入输出HSIO接口，该HSIO接口用于与被测设备中的至少一个连接。端口处理单元被配置为：接收数据，将所接收到...

一种电滤波器结构，用于以频率选择的方式将电信号从第一端口转发到第二端口，其中，该滤波器是边缘耦合滤波器，该滤波器包括：串联耦合的多个耦合线段，至少包括第一耦合线段和最后的耦合线段；其中，第一端口使用第一传输线与耦合线段中的第一耦合线段连...

本公开涉及用基于存储器的通信协议进行仿真设备测试的系统和方法。本发明实施例提供了一种仿真基于存储器的通信协议以用于测试仿真的设备的方法。该方法包括：将数据存储在主机数据缓冲区的已知位置中，其中，主机数据缓冲区被实现在共享的存储器空间中；...

一种用于测试一个或多个被测器件的自动化测试设备，包括至少一个端口处理单元，包括：高速输入输出接口HSIO，用于与被测器件中的至少一者连接；存储器，用于存储由端口处理单元从一个或多个连接的被测器件接收的数据；以及流传输差错检测块，被配置为...

一种自动化测试设备(ATE)装置包括：包含系统控制器的计算机系统，其中，所述系统控制器通信地耦合到测试器处理器和FPGA。所述系统控制器可用于从自所述系统控制器接收的指令生成命令和数据以用于协调被测器件(DUT)的测试，其中，所述DUT...

本公开涉及分散式存储环境。一种用于控制分散式存储环境中的设备的方法，该方法包括：将网络中的多个设备划分为多个超级小区，其中，每个超级小区包括多个设备的子集。对于每个超级小区，系统控制器被配置为将超级小区中的设备指定为核心设备，其中，超级...

变压器装置包括磁耦合的初级绕组和次级绕组。变压器装置还包括补偿装置，其被电路化以提供初级绕组的端子与次级绕组的端子之间的链路。补偿装置被配置为使得通过初级绕组和次级绕组的磁通的变化在补偿装置中感应电压。补偿装置包括至少一个耦合电容器，其...

本公开涉及低成本内置自测试中心测试。内置自测试(BIST)中心自动测试设备(ATE)框架可以包括主控制器和一个或多个测试器单元。主机控制器可以被配置为接收发起对多个被测设备(DUT)的测试的一个或多个输入。一个或多个测试器单元可以包括多...

本发明涉及一种放大器，该放大器包括放大器件(110)和偏置电路(120)，该偏置电路(120)用于向所述放大器件(110)提供偏置电压。该偏置电路(120)被配置为根据提供电气隔离的光学耦合布置(130)的输出信号来提供偏置电压。

公开了一种用于使用自动测试设备诊断故障的根本原因的方法。所述方法包括使用多个捕获模块来监视与在自动测试设备中测试被测设备(DUT)相关联的数据流量，其中所述多个捕获模块被编程到可编程逻辑设备上，其中可编程逻辑设备由系统控制器控制并且可用...

本公开涉及用于系统级测试的可扩展平台。一种可扩展测试平台可以包括多个不同设备接口板和多个基元中的一个或多个。不同设备接口板可以被配置为提供统一接口以将不同类型的DUT和/或具有不同形状因子的DUT耦合到多个基元。该多个基元可以被配置为将...

所提出的实施例有助于对被测设备进行有效且高效地接入。在一个实施例中，测试系统包括：基元，被配置为控制对被测设备(DUT)的测试；以及设备接口板(DIB)。设备接口板包括：载板、环境控制组件和被测设备接入接口。载板被配置为选择性地与被测设...

在故障情况下实时捕获流量以进行协议调试。根据本发明的实施例，用于同时测试多个器件的自动测试设备包括：流量捕获电路，被配置为捕获与被测器件的通信；捕获存储器，被配置为存储由流量捕获电路捕获的通信；路由逻辑，被配置为从捕获存储器(例如，随机...

本发明提供测试装置及测试方法。降低抖动或漂移的影响并检查被测试设备。时间测定单元(310)测定包含从被测试设备(DUT)(400)输出的串行数据的被测试信号(DUT_Output)的监测对象的边沿的时间间隔。比较判定部(320)从被测定...

本公开涉及利用热管冷却组件进行的装置测试。公开了适用于在对器件的测试中使用的新的冷却组件。新的冷却组件将正接受测试的DUT(受测器件)旁边、附近和/或周围区域中的热传递到远离DUT的目标位置。其结果是，DUT被冷却。通过使用耦合到与DU...

本公开涉及测试程序流程控制。公开了一种用于执行自动化测试的系统。系统包括用户计算机，该用户计算机可操作用于将来自用户的测试程序加载到控制服务器，其中测试程序包括多个测试流程。系统还包括测试器，该测试器部署多个基元。此外，控制服务器通信地...

本公开涉及支持使用不同应用的多个用户的测试系统。公开了一种用于执行自动化测试的系统。该系统包括第一用户计算机和第二用户计算机，第一用户计算机可操作用于将来自第一用户的第一测试计划加载到控制服务器，第二用户计算机可操作用于将来自第二用户的...

本公开涉及用软件应用编程接口对自动化测试特征进行用户控制。公开了一种用于执行自动化测试的系统。方法包括对应用编程接口(API)进行编程以控制测试器上的默认生产流程，其中生产流程包括与对连接到测试器的被测设备(DUT)执行测试相关联的多个...