一种高精密新型电容器制造技术

技术编号:9583293 阅读:97 留言:0更新日期:2014-01-16 11:56
本实用新型专利技术公开了一种高精密新型电容器,它涉及电容器领域。它包括铝/聚偏氟乙烯薄膜、金电极和铜丝引脚,铝/聚偏氟乙烯薄膜上溅射有金电极,金电极与铜丝引脚相连,两层铝/聚偏氟乙烯薄膜、金电极卷绕成薄膜电容。所述的薄膜电容通过石蜡封装。本实用新型专利技术结构简单,耗损小,性能稳定,实用性强。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种高精密新型电容器,它涉及电容器领域。它包括铝/聚偏氟乙烯薄膜、金电极和铜丝引脚,铝/聚偏氟乙烯薄膜上溅射有金电极,金电极与铜丝引脚相连,两层铝/聚偏氟乙烯薄膜、金电极卷绕成薄膜电容。所述的薄膜电容通过石蜡封装。本技术结构简单,耗损小,性能稳定,实用性强。【专利说明】一种高精密新型电容器
本技术涉及的是一种电容器,具体涉及一种高精密新型电容器。
技术介绍
薄膜电容一般采用聚酯、聚丙烯或聚碳酸酯等作为电介质。而采用这种电介质电容的性能并不特别优越,在一定条件下,这些电容的性能会影响器件工作的稳定性,而且电容损耗大。
技术实现思路
针对现有技术上存在的不足,本技术目的是在于提供一种高精密新型电容器,结构简单,耗损小,性能稳定,实用性强。为了实现上述目的,本技术是通过如下的技术方案来实现:一种高精密新型电容器,包括铝/聚偏氟乙烯薄膜、金电极和铜丝引脚,铝/聚偏氟乙烯薄膜上溅射有金电极,金电极与铜丝引脚相连,两层铝/聚偏氟乙烯薄膜、金电极卷绕成薄膜电容。作为优选,所述的薄膜电容通过石蜡封装。作为优选,所述的铝/聚偏氟乙烯薄膜的厚度为20微米。本技术结构简单,耗损小,性能稳定,实用性强。【专利附图】【附图说明】下面结合附图和【具体实施方式】来详细说明本技术;图1为本技术的结构示意图。【具体实施方式】为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合【具体实施方式】,进一步阐述本技术。参照图1,本【具体实施方式】采用以下技术方案:一种高精密新型电容器,包括铝/聚偏氟乙烯薄膜1、金电极2和铜丝引脚3,铝/聚偏氟乙烯薄膜I上溅射有金电极2,金电极2与铜丝引脚3相连,两层铝/聚偏氟乙烯薄膜1、金电极2卷绕成薄膜电容。值得注意的是,所述的薄膜电容通过石蜡封装。此外,所述的铝/聚偏氟乙烯薄膜I的厚度为20微米。本【具体实施方式】采用铝/聚偏氟乙烯薄膜作为介质薄膜,其性能相比聚酯、聚丙烯或聚碳酸酯等薄膜更加优异,它的电容性能更加优越,耗损小,绝缘强度高,电容值在一定范围内能够保持稳定。本【具体实施方式】结构简单,耗损小,性能稳定,实用性强。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解,本技术不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理,在不脱离本技术精神和范围的前提下,本技术还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。【权利要求】1.一种高精密新型电容器,其特征在于,包括铝/聚偏氟乙烯薄膜(I)、金电极(2)和铜丝引脚(3),铝/聚偏氟乙烯薄膜(I)上溅射有金电极(2),金电极⑵与铜丝引脚(3)相连,两层铝/聚偏氟乙烯薄膜(I)、金电极(2)卷绕成薄膜电容。2.根据权利要求1所述的一种高精密新型电容器,其特征在于,所述的薄膜电容通过石蜡封装。3.根据权利要求1所述的一种高精密新型电容器,其特征在于,所述的铝/聚偏氟乙烯薄膜⑴的厚度为20微米。【文档编号】H01G4/32GK203397907SQ201320498488【公开日】2014年1月15日 申请日期:2013年8月15日 优先权日:2013年8月15日 【专利技术者】罗学民, 刘宇, 罗浩民 申请人:长兴友畅电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
?一种高精密新型电容器,其特征在于,包括铝/聚偏氟乙烯薄膜(1)、金电极(2)和铜丝引脚(3),铝/聚偏氟乙烯薄膜(1)上溅射有金电极(2),金电极(2)与铜丝引脚(3)相连,两层铝/聚偏氟乙烯薄膜(1)、金电极(2)卷绕成薄膜电容。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:罗学民刘宇罗浩民
申请(专利权)人:长兴友畅电子有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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