【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及薄型键盘的键帽拉拔力测试装置,尤其涉及一种用于吸附键帽的吸盘。
技术介绍
薄型键盘包括键板和键帽,在键板上设置有电路结构及按键,键帽通常通过四角的卡扣结构卡合在键板上、并位于相应的按键上方;由于薄型键盘的结构限制,卡扣结构较为微小,因此容易出现卡扣不良,比如未卡合上、卡扣力度不足等,反应在键盘的整体结构上即键帽不齐平、键帽脱落、按键不顺滑等。为了降低甚至避免键帽的卡扣不良,需要在键帽安装在键板上后,对键帽进行拉拔力测试,即使用一定大小的垂直于键板的力向外拉键帽,键帽四角的卡扣结构卡依然卡扣良好则表示键帽卡扣良好。现在对键帽进行拉拔力测试主要有两种方式一是通过人工使用手指一个一个地拽拉键帽对键帽进行拉拔力测试,由于是人工检测,而键盘上的键帽数量较多,因此容易出现漏检情况,另外人工也难以保证对每个键帽施加的力恒定;二是通过真空泵配合吸盘吸附键帽表面对键帽施加一定的拉力进行拉拔力测试,这种检测方式使用电气化控制能够避免漏检的情况,另外对键帽施加的力也能够保持很定,但是现在使用的吸盘均为圆形吸盘,而键帽为方形结构,因此键帽被吸附的表面就十分有限(最大范围为以键帽短边长度为外径的圆环形区域),并且键帽的测试力着力范围在键帽表面被圆形吸盘吸附的圆环形区域,而键帽的卡扣点却在其四角,因此键帽的测试就不够真实。
技术实现思路
专利技术目的为了克服现有技术中存在的不足,本专利技术提供一种薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘,能够增大键帽在进行拉拔力测试时的被吸附表面积,同时能够提高键帽测试的真实性。技术方案为解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案为薄型键盘的键帽拉 ...
【技术保护点】
薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘,其特征在于:该吸盘包括一体成型的固定部分(1)和吸附部分(2),所述吸附部分(2)为中间凹陷的矩形盘结构,所述固定部分(1)上设置有连通吸附部分(2)的中间凹陷处的抽气孔(3)。
【技术特征摘要】
1.薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘,其特征在于该吸盘包括一体成型的固定部分(1)和吸附部分(2),所述吸附部分(2)为中间凹陷的矩形盘结构,所述固定部分(1)上设置有连通吸附部分(2)的中间凹陷处的抽气孔(3)。2.根据权利要求1所述的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘,其特征在于所述吸附部分(2)的边缘四个角部采用圆角过渡。3.根据权利要求1或2所述的薄型键盘的键帽拉拔力测试用吸盘,其特征在于所述吸附部...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘利刚,
申请(专利权)人:昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司,
类型:发明
国别省市:
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