电路和空间电能作用测试仪制造技术

该发明专利技术涉及电路和空间电能作用测试仪。一般人尚未知道那种物理现象，就是某些电路系统的全部或某段、某点处在电路中电能与空间电能强烈性地相互作用状态，应当重视研究它。该测试仪就是用参考模拟电路系统和专用匹配器结合，测试电路中的能量和空间电能相互作用现象。适应于教学、空间电能特性分析、原子物理学研究。

【技术实现步骤摘要】
电路和空间电能作用测试仪 该专利技术涉及电路和空间电能作用测试仪。一般人尚未知道那种物理现象，就是某些电路系统的全部或某段、某点处在电路中电能与空间电能强烈性地相互作用状态，应当重视研究它。该测试仪就是用参考模拟电路系统和专用匹配器结合，测试电路中的能量和空间电能相互作用现象。适应于教学、空间电能特性分析、原子物理学研究电路电能和空间电能强烈互相作用原理和该专利技术的构思电路系统中的电能传递速率C1与该电路中的阻抗Z1有关，而电路中电能向空间辐射速率(2与空间阻抗Z2有关。如果条件为Z1 Φ Z2, C1 Φ c2，则在电路系统(或某段、某点)的电压、电流、频率、阻抗与所处空间电特性适应时，会产生电路电能和空间电能强烈相互作用现象。在闭合电路里，电路中的电能和空间电能强烈相互作用现象的主要特征，就是电路系统中的电压和电流是与空间特性相关的明显函数。因而可以直接测量电路的电流、电压值分析得出这种现象。但一般不宜采用，而我用大量的实验得到了某个些简易方法。例如，某电路某段处于那种电能和空间强烈互相作用现象状态里，用一只氖泡，将其一电极接触到该电路某点上，另一电极悬于空间，即发光；用两只晶体二极管DpD2，将D1的负极和D2的正极共同接触到该电路某点上， D1的正极、D2的负极悬于空间，D1正极和D2负极之间输出电讯号(电压、电流、电特性曲线等)。为了推广其实用性，将这些观察和测量所需要的配件制成专用匹配器，并提供出一套能够出现电路的电能和空间电能强烈相互作用现象的参考电路，即构成了这种测试议。现在参考电路原理图和匹配器示意图，说明该专利技术的实施方案。1、附图说明图1是参考电路原理图电源为直流12V，C。去电源耦合。电阻R1和发光二极管DG串联显示总电源状态。 晶体二极管BG1和电阻R3、R4、R5、R6,电容C。C2，电位器W，振荡变压器B1构成振荡器，其振荡频率为15KH。晶管二极管BG2和电阻RpRpR8,电容C3、C4组成功率推动级。脉冲电源经变电器B2耦合到功率放大级。该中级由三极二极管BG3、电感Li、L2电容C6、C7、C8、C9、C10, Cn，二极管DGpDG2组成。B3*高压变压器。DGtl用于整流。测试区由鞭状尺线Y1两个相同的功率电阻A、W2串联组成。测试区由电路变压器B3的输出线圈和整流二极管DGtl,电阻Wp W2构成闭合电路， 处于电路电能和空间电能强烈互相作用现象状态时，总电流值从电源正端向负端趋于减弱。两个参数完全相同的电阻A、W2两端的电压仏、U2不相等，而为U1 >U2，IB>IC，其中 IB、IC是电路B截面和C截面的电流值。这可以在该仪器内测试。天线Y总长为L = 300mm， 横截面直径为Φ6，高端处有一螺母Φ2. 5以便接匹配器。天线Y接触在电路中高压输出整流二极管DGtl和负载电阻W1之间测试点A上，伸入机壳外，作为一个流动性测试点，便于用匹配器测试。2、图2是该专利技术中专用匹配器的示意图。图(1)是用两只晶体管为主制成的探针式匹配器。晶体二极管D1负极、D2正极和电针T粗端构成一个导电点，二极管封闭于绝缘壳K，电针T及二极管D1正极SpD2负极S2 伸出壳体。使用时针T接触到被测电路上，被测电信号从S” S2两端输出。壳体K直径Φ=6mm,长度 Ii1 = 25mm,针 T 直径 Φ = 0. 8mm,长度 h2 = 50mm。图(2)是用两只二极管为主制成的卡式匹配器。晶体二极管D1负极、D2正极和卡 M构成一个导电点，导电卡与天线Y配合，卡弓度为Φ6.5⑴3. 5mm，横向长度为10mm。使用时卡于天线Y，电信号从D1正极和D2负极间输出。 图(3)是用一只晶体二极管和一只发光二极管DG2为主制作的发光式匹配器。晶体二极管的负极和发光二极管正极焊接触，晶体二极管正极和发光二极管负极及导体杆焊接为一个导电点，晶体二极管封闭入绝缘壳K，壳长度为Ill = 2. 5mm，杆伸出长度h2 = 50mm, 截面直径Φ = 3mm，端处为螺栓，旋入天线Y螺母，即可显示电路所处状态。图(4)是制作的氖泡式匹配器。一只氖泡的导电头焊接一根导电杆，杆另一端制为螺栓，杆长度为h = 50mm，截面直径Φ = 2. 5mm，氖泡另一电极与杆用绝缘屋封闭。螺栓旋入天线Y螺母，即可显示电路状态。权利要求1.该专利技术由一套能够出现电路的电能和空间电能强烈相互作用现象的参考电路和观察和测量所需要元配件制成的专用匹配器构成参考电路电源为直流UVAtl去电源耦合。电阻R1和发光二极管DG串联显示总电源状态。晶体二极管BG1和电阻R3、R4、R5、R6，电容CpC2,电位器W，振荡变压器B1构成振荡器， 其振荡频率为15KH。晶管二极管BG2和电阻礼為乂，电容C3、C4组成功率推动级。脉冲电源经变电器B2耦合到功率放大级。该中级由三极二极管BG3、电感L^L2电容C6、C7、C8、C9、 C1(1、Cn，二极管DGpDG2组成。B3*高压变压器。DGtl用于整流。测试区由鞭状尺线Y1两个相同的功率电阻A、W2串联组成。测试区由电路变压器B3的输出线圈和整流二极管DGtl,电阻Wp W2构成闭合电路，处于电路电能和空间电能强烈互相作用现象状态时，总电流值从电源正端向负端趋于减弱。两个参数完全相同的电阻W1J2两端的电压U”U2不相等，而为U1 >U2，Ib > Ic，其中‘1。是电路B截面和C截面的电流值。这可以在该仪器内测试。天线Y总长为L = 300mm，横截面直径为Φ6，高端处有一螺母Φ2. 5以便接匹配器。天线Y接触在电路中高压输出整流二极管DGtl和负载电阻W1之间测试点A上，伸入机壳外，作为一个流动性测试点，便于用匹配器测试。2.依据权利要求1，该专利技术中专用匹配器为(1)是用两只晶体管为主制成的探针式匹配器。晶体二极管D1负极、D2正极和电针T 粗端构成一个导电点，二极管封闭于绝缘壳K，电针T及二极管D1正极S1A2负极S2伸出壳体。使用时针T接触到被测电路上，被测电信号从S1A2两端输出。壳体K直径Φ = 6mm， 长度 Ii1 = 25mm,针 T 直径 Φ = 0. 8mm,长度 h2 = 50mm。(2)是用两只二极管为主制成的卡式匹配器。晶体二极管D1负极、D2正极和卡M构成一个导电点，导电卡与天线Y配合，卡弓度为Φ6. 5…3. 5mm，横向长度为10mm。使用时卡于天线Y，电信号从D1正极和D2负极间输出。(3)是用一只晶体二极管和一只发光二极管DG2为主制作的发光式匹配器。晶体二极管的负极和发光二极管正极焊接触，晶体二极管正极和发光二极管负极及导体杆焊接为一个导电点，晶体二极管封闭入绝缘壳K，壳长度为Ill = 2. 5mm，杆伸出长度h2 = 50mm，截面直径Φ = 3mm，端处为螺栓，旋入天线Y螺母，即可显示电路所处状态。(4)是制作的氖泡式匹配器。一只氖泡的导电头焊接一根导电杆，杆另一端制为螺栓， 杆长度为h = 50mm，截面直径Φ = 2. 5mm，氖泡另一电极与杆用绝缘屋封闭。螺栓旋入天线Y螺母，即可显示电路状态。全文摘要该专利技术涉及电路和空间电能作用测试仪。一般人尚未知道那种物理现象，就是某些电路系统的全部或某段、某点处在本文档来自技高网...

【技术保护点】
１．该专利技术由一套能够出现电路的电能和空间电能强烈相互作用现象的参考电路和观察和测量所需要元配件制成的专用匹配器构成参考电路：电源为直流１２Ｖ，Ｃ０去电源耦合。电阻Ｒ１和发光二极管ＤＧ串联显示总电源状态。晶体二极管ＢＧ１和电阻Ｒ３、Ｒ４、Ｒ５、Ｒ６，电容Ｃ１、Ｃ２，电位器Ｗ，振荡变压器Ｂ１构成振荡器，其振荡频率为１５ＫＨ。晶管二极管ＢＧ２和电阻Ｒ０、Ｒ７、Ｒ８，电容Ｃ３、Ｃ４组成功率推动级。脉冲电源经变电器Ｂ２耦合到功率放大级。该中级由三极二极管ＢＧ３、电感Ｌ１、Ｌ２电容Ｃ６、Ｃ７、Ｃ８、Ｃ９、Ｃ１０、Ｃ１１，二极管ＤＧ１、ＤＧ２组成。Ｂ３为高压变压器。ＤＧ０用于整流。测试区由鞭状尺线Ｙ１两个相同的功率电阻Ｗ１、Ｗ２串联组成。测试区由电路变压器Ｂ３的输出线圈和整流二极管ＤＧ０，电阻Ｗ１、Ｗ２构成闭合电路，处于电路电能和空间电能强烈互相作用现象状态时，总电流值从电源正端向负端趋于减弱。两个参数完全相同的电阻Ｗ１、Ｗ２两端的电压Ｕ１、Ｕ２不相等，而为Ｕ１＞Ｕ２，ＩＢ＞ＩＣ，其中ＩＢ、ＩＣ是电路Ｂ截面和Ｃ截面的电流值。这可以在该仪器内测试。天线Ｙ总长为Ｌ＝３００ｍｍ，横截面直径为Φ６，高端处有一螺母Φ２．５以便接匹配器。天线Ｙ接触在电路中高压输出整流二极管ＤＧ０和负载电阻Ｗ１之间测试点Ａ上，伸入机壳外，作为一个流动性测试点，便于用匹配器测试。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赵秀卿，
申请(专利权)人：赵秀卿，
类型：发明
国别省市：41