用于测量样品浓度的方法、检测器和系统技术方案

技术编号:5504375 阅读:158 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种用于测量样品混合物中的样品的浓度的方法,所述方法包括:使样品混合物与有机半导体晶体管接触;向所述晶体管的电极施加测量信号,从而实现对通过所述晶体管的漏极电流的测量;向栅电极施加刷新信号,以抵消在所述测量信号期间对所述晶体管施加的影响;测量漏极电流;对所述信号中的至少一个进行调整,以使所述漏极电流稳定;以及基于所述调整确定所述浓度。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种用于测量样品混合物中的样品的浓度的方法,所述方法包括: -使所述样品混合物与有机半导体晶体管接触, -向所述晶体管的电极施加测量信号,从而实现对通过所述晶体管的漏极电流的测量, -向栅电极施加刷新信号,以抵消在所述测量 信号期间对所述晶体管施加的影响, -测量所述漏极电流, -对所述信号中的至少一个进行调整,以使所述漏极电流稳定,以及 -基于所述调整确定所述浓度。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:NP威拉德IF黑尔韦根M萨尔明克TJ温克
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

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