【技术实现步骤摘要】
基于X射线K
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吸收边的书画文物颜料成像方法及其应用
[0001]本申请涉及X射线
,特别是一种涉及基于X射线K
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吸收边的书画文物颜料成像方法及其应用。
技术介绍
[0002]书画文物是一种宝贵的历史文化遗产,它们是人类精神文明的体现。文物保护工作者常使用各种现代技术来检测书画文物,以了解它们的内部结构和成分,以及制作过程。了解书画文物包含的颜料种类和分布情况对文物保护尤其重要。了解书画的颜料种类可以帮助文物保护者掌握书画文物的成分,进而方便采取不同的修复和保存方法。另外,颜料的成分可以帮忙文物专家鉴定文物的真假。如果在古代书画文物的颜料中发现了现代的化学成分,则该艺术品大概率是赝品。由于颜料可能存在重叠现象,颜料在纸张上的分布可能不同于表面色彩的分布。书画的颜料整体分布情况可以帮忙文物专家获得不同于表面色彩的信息。此外,书画的内层有时会隐藏着丰富的信息,因为艺术家有时会先在画布上画一层颜色较轻的画作为草稿再用厚颜料绘画。少数特殊情况则是艺术家重复使用画布,在这种情况下画布表面所呈现的画后面其实还隐藏着一幅画。对于文物保护和修复来说,一种能够快速获取元素在书画文物二维平面上的分布情况是必不可少的。
[0003]由于X射线可以穿透大部分文物,能够获得可见光无法发现的信息,自从它诞生起X射线就常被用于文物的无损检测。尽管文物工作者广泛使用X射线透视成像技术检测书画文物,但是传统的X射线透视成像具有一定的局限性。书画文物中的所有物质都会对吸收X射线贡献,书画文物对X射线的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.基于X射线K
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吸收边的书画文物颜料成像方法,其特征在于,包括以下步骤:S00、通过X射线照射待检测书画文物,进行扫描透射测量;其中,部分X射线管发射出的X射线穿过待检查书画文物后会到达探测器,利用X射线探测器探测X射线并记录其强度,每个探测器单元的数据对应书画文物中的一个扫描点位;S10、测量X射线在K
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吸收边上边缘和下边缘处的透射率;S20、移动承载所述待检测书画文物的载物台,将X射线照射到所述待检测书画文物的下一个扫描位置,并重复S00
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S10步骤,直至完成对所述待检测书画文物全部面积的扫描测量;S30、根据扫描测量结果、所需检测的感兴趣元素以及每个感兴趣元素K
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吸收边对应的能量值,计算每个扫描点位的感兴趣元素的面密度;其中,每个感兴趣元素K
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吸收边对应的能量值为已知数据,所述面密度定义为感兴趣元素的密度和厚度的乘积;S40、根据每个扫描点位的感兴趣元素的面密度,以图片的形式展示所需检测的感兴趣元素在书画文物上的分布情况。2.如权利要求1所述的基于X射线K
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吸收边的书画文物颜料成像方法,其特征在于,S00步骤中,所述X射线探测器为硅半导体探测器阵列。3.如权利要求2所述的基于X射线K
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吸收边的书画文物颜料成像方法,其特征在于,S00步骤中,所述硅半导体探测器阵列包括100*100个探测器单元,且每个探测器单元的尺寸为100
µ
m*100
µ
m。4.如权利要求1
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3任意一项所述的基于X射线K
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吸收边的书画文物颜料成像方法,其特征在于,S30步骤中,每个扫描点位的感兴趣元素的面密度的具体计算步骤为:在不同能量的X射线下做两次X射线投影透射率测量;其中一个能量取高于感兴趣元素的K
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吸收边的能量值,另一个取低于感兴趣元素的K
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吸收边的能量值,且两个能量值能够约等于为同一能量大小;将感兴趣元素对透射率的贡献从待检测书画中分离,并根据X射线的能量、感兴趣元素的质量衰减系数、X射线光子在每个扫描点位的透射率计算出感兴趣元素的面密度;其中,透射率是关于能量的函数,透射率和感兴趣元素的质量衰减系数成正比,且透射率和感兴趣元素的面密度也成正比。5.如权利要求4所述的基于X射线K
...
【专利技术属性】
技术研发人员:潘仁奇,沈炜,丁帅斌,岳晓光,沈锴,
申请(专利权)人:杭州宇称电子技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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