【技术实现步骤摘要】
一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置
[0001]本专利技术涉及集成电路
,具体涉及一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置。
技术介绍
[0002]逐次逼近型模数转换器(successive approximation register Analog
‑
to
‑
digital converter,SAR ADC)是一种常见的模数转换器,被用来采样模拟信号并将其转换成数字信号。
[0003]SAR ADC主要包括五个部分:控制电路、采样保持电路、模拟比较器、SAR逐次逼近寄存器和数字模拟转换器(Digital
‑
to
‑
analog converter,DAC)。控制电路接收到外部输入的采样使能信号后,先在采样阶段对模拟信号进行采样保持为输入电压Vin,然后从高位到低位逐次改变DAC数字模拟转换器的数字信号,让DAC输出一个模拟输出电压Vo;模拟比较器逐次比较Vin和Vo,让Vo最终逼近Vin,得到最终的DAC的数字信号,作为SAR ADC模数转换后最终数字结果。转换时,DAC默认的输入数字信号全零;先将DAC的输入数字信号最高位设置为“1”,将Vin和Vo进行比较,如果Vin不高于Vo,则DAC的输入数字信号该位改为“0”;然后采用类似方法,从高位到低位,每个周期决定DAC的一位输入数字信号,直到全部数字信号比特位判定完,结束转换,DAC最终的输入数字信号就是SAR ADC的数字信号转换结果。
[0004]为了降低 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种逐次逼近型模数转换器过采样方法,其特征在于,包括:若接收到过采样使能信号,则获取过采样误差指数M;获取上一组结果寄存器存储的转换数据P
N
‑1P
N
‑2P
N
‑3…
P1P0,其中,N为采样位数,P
N
‑1为最高位转换数据,P0表示最低位转换数据;设置本次转换数据为D
N
‑1D
N
‑2D
N
‑3…
D1D0,其中,N为采样位数,D
N
‑1为最高位转换数据,D0表示最低位转换数据;按从低位到高位的顺序,从所述转换数据P
N
‑1P
N
‑2P
N
‑3…
P1P0中查找距离误差指数位数据P
M
‑1最近的比特位数据P
L
=0时的比特位参数L;令逼近位参数K=L;设置D
N
‑1D
N
‑2D
N
‑3…
D
K+1
=P
N
‑1P
N
‑2P
N
‑3…
P
K+1
,D
K
=1,D
K
‑1…
D1D0=0;从D
K
开始,按从高位到低位的顺序,采用逐次逼近方法,确定D
K
D
K
‑1D
K
‑2…
D1D0;将D
N
‑1D
N
‑2D
N
‑3…
D1D0作为输出的模数转换数据并存储在结果寄存器中。2.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器过采样方法,其特征在于,还包括:若从所述转换数据P
N
‑1P
N
‑2P
N
‑3…
P1P0中查找不到距离误差指数位数据P
M
最近的比特位数据P
L
=0时的比特位;则令逼近位参数K=N
‑
1;从D
K
开始,按从高位到低位的顺序,采用逐次逼近方法,确定D
K
D
K
‑1D
K
‑2…
D1D0。3.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器过采样方法,其特征在于,还包括:若L=N
‑
1,则令逼近位参数K=N
‑
1;从D
K
开始,按从高位到低位的顺序,采用逐次逼近方法,确定D
K
D
K
‑1D
K
‑2…
D1D0。4.根据权利要求1所述的逐次逼近型模数转换器过采样方法,其特征在于,还包括:若输入电压V
in
大于输出电压V
o
,则令逼近位参数K=N
‑
1;从D
K
开始,按从高位到低位的顺序,采用逐次逼近方法,确定D
K
D
K
‑1D
K
‑2…
D1D0。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的逐次逼近型模数转换器过采样方法,其特征在于,所述从D
K
开始,按从高位到低位的顺序,采用逐次逼近方法,确定D
K
D
K
‑1D
K
‑2…
D1D0,包括:令D
K
=1;若输入电压V
in
不大于输出电压V
o
,则令D
K
=0;令K=K
‑
1,继续执行判断输入电压V
in
与输出电压V
o
的步骤,直至K=0时结束;若输入电压V
in
大于输出电压V
o
,则令K=K
‑
1,继续执行判断输入电压V
in
与输出电压V
o
的步骤,直至K=0时结束。6.一种逐次逼近型模数转换器过采样装置,其特征在于,包括:使能模块,用于若接收到过采样使能信号,则获取过采样误差指数M;获取模块,用于获取上一组结果寄存器存储的转换数据P
N
‑1P
N
‑2P
N
‑3…
P1P0,其中,N为采样位数,P
N
‑1为最高位转换数据,P0表示最低位转换数据;设置本次转换数据为D
N
‑1D
N
‑2D
N
技术研发人员:郭军,王良清,鲁金梅,
申请(专利权)人:上海国微芯芯半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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