一种ADC采样和环路计算控制方法和相关设备技术

本发明专利技术提供一种ADC采样和环路计算控制方法和相关设备，本发明专利技术实施例提供的方案，数字控制环路启动时，先控制ADC采样结果对目标对象进行采样，并对采样结果进行存储，当所述数字控制环路启动达到预设周期时，在对存储的采样结果进行数字环路计算，在进行数字环路计算的同时，继续进行ADC采样，使得所述ADC采样和环路计算的总时长缩短约一半，提高了ADC采样和环路计算的数据处理速度和处理效率。和环路计算的数据处理速度和处理效率。和环路计算的数据处理速度和处理效率。

【技术实现步骤摘要】
一种ADC采样和环路计算控制方法和相关设备


[0001]本专利技术涉及电子电路
，具体涉及一种数字电源使用的新型ADC采样和环路计算控制方法和先关设备。

技术介绍

[0002]目前，电源行业在数字电源控制计算过程中采用的常规做法是：先通过ADC采样，然后再计算的顺序实现方法，这样做虽然也能实现数字电源的数字控制环路，但缺点是数字环路带宽受限，因为只能先采样后计算。数字电源相比于模拟电源，由于MCU的处理速度和ADC采样的原因，导致数字电源的数字控制环路带宽就会比模拟电源低，降低计算速度。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种ADC采样和环路计算控制方法和相关设备，以提高ADC采样和环路计算的计算速度。
[0004]为实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：
[0005]一种ADC采样和环路计算控制方法，应用于数字控制环路中，所述数字控制环路包括ADC采样设备和数字环路计算单元，方法包括：
[0006]当所述数字控制环路启动时，控制ADC采样设备每个周期对目标信号进行采样，并存储采样结果；
[0007]当所述数字控制环路启动预设周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，以使得ADC采样和数字环路计算同时进行。
[0008]可选的，上述ADC采样和环路计算控制方法中，所述在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算包括：
[0009]以所述数字控制环路的周期信号为触发条件控制ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算；
[0010]或，以所述数字控制环路的周期信号为触发条件控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，同时，以所述数字环路计算单元的启动信号作为触发条件，控制ADC采样设备对目标信号进行采样。
[0011]可选的，上述ADC采样和环路计算控制方法中，当所述数字控制环路启动预设周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，包括：
[0012]当所述数字控制环路启动至少1个周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算。
[0013]可选的，上述ADC采样和环路计算控制方法中，对存储的采样结果进行数字环路计算，包括：
[0014]基于先存储先计算的原则对存储的采样结果进行数字环路计算，并且，每个周期
仅处理一个存储的采样结果。
[0015]一种ADC采样和环路计算控制装置，应用于数字控制环路中，所述数字控制环路包括ADC采样设备和数字环路计算单元，装置包括：
[0016]ADC采样设备控制单元，用于当所述数字控制环路启动时，控制ADC采样设备每个周期对目标信号进行采样，并存储采样结果；
[0017]数字环路计算单元，用于当所述数字控制环路启动预设周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，以使得ADC采样和数字环路计算同时进行。
[0018]可选的，上述ADC采样和环路计算控制装置中，所述数字环路计算单元在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算时，具体用于：
[0019]以所述数字控制环路的周期信号为触发条件控制ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算；
[0020]或，以所述数字控制环路的周期信号为触发条件控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，同时，以所述数字环路计算单元的启动信号作为触发条件，控制ADC采样设备对目标信号进行采样。
[0021]可选的，上述ADC采样和环路计算控制装置中，所述数字环路计算单元当所述数字控制环路启动预设周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，具体用于：
[0022]当所述数字控制环路启动至少1个周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算。
[0023]可选的，上述ADC采样和环路计算控制装置中，所述数字环路计算单元在对存储的采样结果进行数字环路计算时，具体用于：
[0024]基于先存储先计算的原则对存储的采样结果进行数字环路计算，并且，每个周期仅处理一个存储的采样结果。
[0025]一种MCU处理器，应用有上述任意一项所述的ADC采样和环路计算控制装置。
[0026]一种电子设备，应有上述MCU处理器。
[0027]基于上述技术方案，本专利技术实施例提供的上述方案，上述数字控制环路启动时，先控制ADC采样结果对目标对象进行采样，并对采样结果进行存储，当述数字控制环路启动达到预设周期时，在对存储的采样结果进行数字环路计算，在进行数字环路计算的同时，继续进行ADC采样，使得所述ADC采样和环路计算的总时长缩短约一半，提高了ADC采样和环路计算的数据处理速度和处理效率。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0029]图1为本申请实施例公开的ADC采样和环路计算控制方法的流程示意图；
[0030]图2为本申请另一实施例公开的ADC采样和环路计算控制方法的流程示意图；
[0031]图3为本申请另一实施例公开的ADC采样和环路计算控制方法的流程示意图；
[0032]图4为本申请另一实施例公开的ADC采样和环路计算控制方法的流程示意图；
[0033]图5为本申请实施例公开的ADC采样和环路计算控制装置的结构示意图；
[0034]图6为现有技术中ADC采样和环路计算的耗时图；
[0035]图7为采用本申请实施例公开的方案的ADC采样和环路计算的耗时图。
具体实施方式
[0036]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0037]实施例一
[0038]基于现有技术中，先进行ADC采样，在进行环路计算的顺序造成的数据处理效率低的问题，本申请公开了一种ADC采样和环路计算控制方法，应用于数字控制环路中，所述数字控制环路包括ADC采本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ADC采样和环路计算控制方法，其特征在于，应用于数字控制环路中，所述数字控制环路包括ADC采样设备和数字环路计算单元，方法包括：当所述数字控制环路启动时，控制ADC采样设备每个周期对目标信号进行采样，并存储采样结果；当所述数字控制环路启动预设周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，以使得ADC采样和数字环路计算同时进行。2.根据权利要求1所述的ADC采样和环路计算控制方法，其特征在于，所述在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算包括：以所述数字控制环路的周期信号为触发条件控制ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算；或，以所述数字控制环路的周期信号为触发条件控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，同时，以所述数字环路计算单元的启动信号作为触发条件，控制ADC采样设备对目标信号进行采样。3.根据权利要求1所述的ADC采样和环路计算控制方法，其特征在于，当所述数字控制环路启动预设周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算，包括：当所述数字控制环路启动至少1个周期后，在ADC采样设备对目标信号进行采样的同时控制所述数字环路计算单元对存储的采样结果进行数字环路计算。4.根据权利要求3所述的ADC采样和环路计算控制方法，其特征在于，对存储的采样结果进行数字环路计算，包括：基于先存储先计算的原则对存储的采样结果进行数字环路计算，并且，每个周期仅处理一个存储的采样结果。5.一种ADC采样和环路计算控制装置，其特征在于，应用于数字控制环路中，所述数字控制环路包括ADC采样设备和数字环路计算单元，装置包括：ADC采样设备控制单元，用于当所述数...

【专利技术属性】
技术研发人员：李酉，
申请(专利权)人：深圳市雷能混合集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：