【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及集成电路领域,特别是涉及在晶片内限定的集成电路(或 管芯)的测试。10
技术介绍
如熟练的技术人员知道的那样,在与电子装置集成之前必须对管芯进 行测试。实践上,在管芯仍属于晶片即在管芯被沿着它们之间所限定的划 线通道(或线条)切割处理而彼此分离之前,必须对它们进行测试。15 管芯单独或并行地通过自动测试装置(ATE)控制的探针板进行测试。测试时,管芯必须提供有内部焊盘,这些内部焊盘通常经过仅在测试期间 使用的内部测试电路,与管芯的一些集成元件相连。当管芯包括第一和第二互补信号处理部件(或双部件)时,每一部件 都必须测试。例如这适用于任何类型的双电路(dud circuit)如发送和接20收通路(在无线电通信装置的情况下)、数模转换器(DAC)和模数转换 器(ADC)、或其他的解调器和调制器。最经常地,双部件(dual parts)(例如接收和发送通路)单独进行测试。 有时候使用回送结构。在该情形中,或者射频(RF)发送信号连接至RF 接收的输入端,或者接收通路的接收基带输出信号反馈至发送通路的输入i山25 顺。一个优点是接收通路和发送通路两者同时测试,这能减少测试时间因而也降低费用。另一优点是不再需要例如由ATE产生RF信号,这能减少 ATE的费用。连接经过探针并经过位于连接探针的探针板上的一些适配电 路。30 这种回送结构可要求在管芯内限定一些内部测试电路以易于晶片测试。但增加这些内部测试电路在面积方面的管芯成本可能太高。 因此,本专利技术的目的是改善这种情况。
技术实现思路
5 为此,本专利技术提供一种晶片,包括至少一个管芯,其包含第一和第 ...
【技术保护点】
一种晶片(W),包括:包含第一和第二互补信号处理部件(P1、P2)的至少一个管芯(D),所述第一部件(P1)具有接收第一输入信号的输入端和发送第一输出信号的输出端,所述第二部件(P2)具有接收第二输入信号的输入端和发送第二输出信号的输出端;以及在所述管芯(D)之间和周围限定的划线通道(SL),所述晶片(W)的特征在于:至少包括耦连装置(CM),所述耦连装置(CM)限定在所述划线通道(SL)的至少一部分中,并i)连接所述管芯中的一个管芯(D)的第一部件输出端至所述管芯中的至少一个(D)的第二部件输入端,使得当所述第一部件被馈以第一输入信号并被配置为工作时,所述第一部件输出端向所述第二部件输入端馈送第一输出信号,并且,使得当接受馈送的第二部件(P2)被配置为工作时,接受馈送的第二部件(P2)的输出端发送第二输出信号,和/或ii)连接所述管芯中的一个管芯(D)的第二部件输出端至所述管芯中的至少一个(D)的第一部件输入端,使得当所述第二部件被馈以第二输入信号并被配置为工作时,所述第二部件输出端向所述第一部件输入端馈送第二输出信号,并且,使得当接受馈送的第一部件(P1)被配置为工作时,接受馈送的 ...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】EP 2005-9-27 05300779.51.一种晶片(W),包括包含第一和第二互补信号处理部件(P1、P2)的至少一个管芯(D),所述第一部件(P1)具有接收第一输入信号的输入端和发送第一输出信号的输出端,所述第二部件(P2)具有接收第二输入信号的输入端和发送第二输出信号的输出端;以及在所述管芯(D)之间和周围限定的划线通道(SL),所述晶片(W)的特征在于至少包括耦连装置(CM),所述耦连装置(CM)限定在所述划线通道(SL)的至少一部分中,并i)连接所述管芯中的一个管芯(D)的第一部件输出端至所述管芯中的至少一个(D)的第二部件输入端,使得当所述第一部件被馈以第一输入信号并被配置为工作时,所述第一部件输出端向所述第二部件输入端馈送第一输出信号,并且,使得当接受馈送的第二部件(P2)被配置为工作时,接受馈送的第二部件(P2)的输出端发送第二输出信号,和/或ii)连接所述管芯中的一个管芯(D)的第二部件输出端至所述管芯中的至少一个(D)的第一部件输入端,使得当所述第二部件被馈以第二输入信号并被配置为工作时,所述第二部件输出端向所述第一部件输入端馈送第二输出信号,并且,使得当接受馈送的第一部件(P1)被配置为工作时,接受馈送的第一部件(P1)的输出端发送第一输出信号。2.根据权利要求1所述的晶片,其特征在于所述晶片包括至少一条第一导电轨线(T1),所述第一导电轨线(T1)限定在所述划线通道(SL) 的至少一部分中,并设置成向待测试的每一管芯(D)的第一部件(Pl) 馈送第一输入信号,和/或向待测试的每一管芯(D)的第二部件(P2)馈 送第二输入信号。3.根据权利要求1和2中的一项所述的晶片,其特征在于所述晶片包括至少一条总线(Bi),所述总线(Bi)限定在所述划线通道(SL) 的至少一部分中,并设置成向待测试的每一管芯(D)馈送配置信号使所 述管芯(D)使用第一部件(Pl)或者第二部件(P2)。4.根据权利要求3所述的晶片,其特征在于每一总线(Bi)包括 开关装置(SWi),所述开关装置(SWi)设置成有选择地向所述管芯(D)馈送配置信号。5. 根据权利要求1至4的任一项所述的晶片,其特征在于所述晶片包括至少一条第二导电轨线(T2),所述第二导电轨线(T2)限定在所 述划线通道(SL)的至少一部分中,并设置成收集待测试的每一管芯(D) 5所发送的所述第二输出信号和/或待测试的每一管芯(D)的所述第一输出 信号。6. 根据权利要求1至5的任一项所述的晶片,其特征在于所述晶 片包括与耦连装置(CM)相关的至少一组(Gj)的至少三个管芯(Dl-D4), 所述耦连装置包含至少一个开关装置(SW3),所述开关装置(SW3)设io 置成有选择地向该组(Gj)的一个管芯(D2、 D4)的第二部件输入端馈 送由所述组(Gj)的另一所选择的管芯(Dl、 D3)的第一部件输出端所 发送的第一输出信号。7. 根据权利要求6所述的晶片,其特征在于每一组...
【专利技术属性】
技术研发人员:埃尔韦玛里,索菲阿勒埃卢,
申请(专利权)人:三叉微系统远东有限公司,
类型:发明
国别省市:KY[开曼群岛]
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