IO桥接短路的测试方法及测试电路技术

本发明专利技术提供了一种IO桥接短路的测试方法，包括接收测试信号，进入测试模式，将m个管脚的接入模式均设置为输入模式，设置第一管脚为输出模式，采集第一管脚的第一响应信号，采集其余m‑1个所述管脚的第二响应信号，并作为测试结果输出，然后将第一管脚还原为所述输入模式，直至完成对m个所述管脚的检测。所述IO桥接短路的测试方法中，自带测试信号通路，通过接收测试信号进入测试模式，避免了使用成本高的自动化测试测试设备，降低了检测成本；依次将m个所述管脚设置为输入模式，检测后再还原为输出模式，从而使检测能不受管脚数量的限制。本发明专利技术还提供了一种用于实现所述IO桥接短路的测试方法的测试电路。

Test Method and Circuit of IO Bridge Short Circuit

【技术实现步骤摘要】
IO桥接短路的测试方法及测试电路
本专利技术涉及集成电路
，尤其涉及一种IO桥接短路的测试方法及测试电路。
技术介绍
管脚常应用于集成电路中，而应用于集成电路中的管脚之间常需要进行桥接故障检测。现有技术中通常通过自动化测试设备(AutomaticTestEquipment，ATE)对集成电路的管脚之间的桥接故障进行检测，但自动化测试设备价格昂贵，使得测试成本增加，且自动化检测设备的输入/输出(Input/Output，IO)通路数量有限，无法自由的添加额外的输入/输出通路数量，从而使得检测管脚的数量受到限制，无法满足大数量管脚的检测需求。因此，有必要提供一种新型的IO桥接短路的测试方法及测试电路以解决现有技术中存在的上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种IO桥接短路的测试方法及测试电路，避免使用自动化测试设备以降低成本，同时满足对大数量管脚的检测需求。为实现上述目的，本专利技术的所述IO桥接短路的测试方法，包括以下步骤：S1：接收测试信号后，关闭功能信号通路，并开启测试信号通路，以进入测试模式；S2：通过所述测试信号通路向m个管脚连续输入第一信号，以设置m个所述管脚的接入模式为输入模式，所述m为大于0的自然数；S3：接收一个第二信号，通过对应的所述测试信号通路向第一管脚输入所述第二信号，以设置所述第一管脚的接入模式为输出模式；S4：通过对应的所述测试信号通路采集所述第一管脚响应于所述第二信号的第一响应信号，同时通过对应的所述测试信号通路采集其余m-1个所述管脚响应于所述第一信号的第二响应信号，将所述第一响应信号和所述第二响应信号作为测试结果输出，然后将所述第一管脚的接入模式还原为所述输入模式，以完成对所述第一管脚的检测；S5：重复执行所述步骤S3和所述步骤S4，直至完成对m个所述管脚的检测；S6：退出所述测试模式。专利技术的有益效果在于：通过接收测试信号，进入测试模式，避免了使用高成本的自动化测试设备，降低了检测成本；重复执行所述步骤S3和所述步骤S4，依次将m个所述管脚的接入模式设置为输入模式，并在输出测试结果后还原为输出模式，从而使检测不受管脚数量的限制。优选地，根据所述测试结果中的所述第二信号的数量判断所述管脚是否发生桥接短路。其有益效果在于：通过所述测试结果中所述第二信号的数量即可判断出所述管脚是否发生桥接短路，准确性高。进一步优选地，当所述测试结果中的所述第二信号的数量等于1，判断所述管脚没有发生桥接短路。进一步优选地，当所述测试结果中的所述第二信号的数量大于1，判断所述管脚发生桥接短路。优选地，每个所述管脚均包括第一端、第二端和第三端。其有益效果在于：便于对所述管脚的接入模式进行调节。进一步优选地，所述第一端为三态选择端，所述第二端为输出端，所述第三端为输入端。优选地，所述步骤S2中，通过所述测试信号通路向每个所述管脚的第一端和第二端连续输入第一信号，以设置m个所述管脚的接入模式为输入模式。优选地，所述步骤S3中，通过对应的所述测试信号通路向所述第一管脚的第一端和第二端输入所述第二信号，以设置所述第一管脚的接入模式为输出模式。优选地，从每个所述管脚的第三端采集所述第一响应信号或所述第二响应信号。本专利技术还提供了一种测试电路，所述测试电路包括模式控制模块、模式选择模块、信号激励模块、信号处理模块和管脚模块，所述管脚模块包括m个管脚单元，所述模式选择模块包括m个模式选择单元，所述m为大于0的自然数；所述模式控制模块用于向所述模式选择模块发送测试信号；所述模式选择单元用于根据所述测试信号关闭功能信号通路，并开启测试信号通路，以使所述测试电路进入测试模式；所述信号激励模块用于接收第一信号或第二信号，并通过所述模式选择模块的测试信号通路向所述管脚单元传输所述第一信号或所述第二信号，以设置所述管脚单元的接入模式为输入模式或输出模式；所述信号处理模块用于通过所述模式选择模块的测试信号通路采集接入模式为所述输出模式的所述管脚单元响应于所述第二信号的第一响应信号和接入模式为所述输入模式的所述管脚单元响应于所述第一信号的第二响应信号，并将所述第一信号和所述第二信号作为测试结果输出。所述测试电路的有益效果在于：所述模式控制模块用于向所述模式选择模块发送测试信号，所述模式选择模块用于接收所述测试信号，以关闭功能信号通路，并开启测试信号通路，通过所述信号激励模块和所述信号处理模块进行检测，无需额外的检测工具，成本低；m个所述管脚均与所述信号激励模块和所述信号处理模块连接，所述信号激励模块和所述信号处理模块能依次对m个所述管脚进行检测，从而能不受管脚数量的限制。进一步优选地，所述模式选择单元与所述管脚单元一一对应设置，所述模式选择单元包括第一选择单元、第二选择单元和第三选择单元，所述第一选择单元与所述管脚单元的第一端连接，所述第二选择单元与所述管脚单元的第二端连接，所述第三选择单元与所述管脚单元的第三端连接。进一步优选地，所述第一选择单元、第二选择单元和所述第三选择单元均具有所述测试信号通路和所述功能信号通路。进一步优选地，所述管脚单元为具有双向模式的管脚，所述第一端为所述管脚的三态选择端，所述第二端为所述管脚的输出端，所述第三端为所述管脚的输入端。进一步优选地，所述信号激励模块包括m个信号激励单元，所述信号激励单元与所述模式选择单元一一对应设置，所述第一选择单元和所述第二选择单元均与所述信号激励单元连接。进一步优选地，所述信号激励模块为输出移位寄存器，所述信号激励单元为所述输出移位寄存器的位。进一步优选地，所述信号处理模块包括m个信号处理单元，所述信号处理单元与所述模块选择单元一一对应设置。进一步优选地，所述信号处理模块为输入移位寄存器，所述信号处理单元为所述输入移位寄存器的位。附图说明图1为本专利技术的IO桥接短路测试方法的流程图；图2为本专利技术的测试电路的结构框图；图3为本专利技术的模式选择模块的结构框图；图4为本专利技术的管脚模块的结构框图；图5为本专利技术的信号激励模块的结构框图；图6为本专利技术的信号处理模块的结构框图；图7为本专利技术的第一信号激励单元、第一模式选择单元、第一管脚单元、第一个输入选择单元和第一信号处理单元之间的工作状态示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。除非另外定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本文中使用的“包括”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。针对现有技术存在的问题，本专利技术的实施例提供了一种IO桥接短路的测试方法，包括以下步骤：S1：接收测试信号后，关闭功能信号通路，并开启测试信号通路，以进入测试模式；S2：通过所述测试信号通路向m个管脚连续输入第一信号，以设置m个所述管脚的接入模式为输入模式，所述m为大于0的自然数；S3：接收一个第二信号，通过对应的所述测试信号通路向第一管脚输入所述第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IO桥接短路的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：接收测试信号后，关闭功能信号通路，并开启测试信号通路，以进入测试模式；S2：通过所述测试信号通路向m个管脚连续输入第一信号，以设置m个所述管脚的接入模式为输入模式，所述m为大于0的自然数；S3：接收一个第二信号，通过对应的所述测试信号通路向第一管脚输入所述第二信号，以设置所述第一管脚的接入模式为输出模式；S4：通过对应的所述测试信号通路采集所述第一管脚响应于所述第二信号的第一响应信号，同时通过对应的所述测试信号通路采集其余m‑1个所述管脚响应于所述第一信号的第二响应信号，将所述第一响应信号和所述第二响应信号作为测试结果输出，然后将所述第一管脚的接入模式还原为所述输入模式，以完成对所述第一管脚的检测；S5：重复执行所述步骤S3和所述步骤S4，直至完成对m个所述管脚的检测；S6：退出所述测试模式。

【技术特征摘要】
1.一种IO桥接短路的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：接收测试信号后，关闭功能信号通路，并开启测试信号通路，以进入测试模式；S2：通过所述测试信号通路向m个管脚连续输入第一信号，以设置m个所述管脚的接入模式为输入模式，所述m为大于0的自然数；S3：接收一个第二信号，通过对应的所述测试信号通路向第一管脚输入所述第二信号，以设置所述第一管脚的接入模式为输出模式；S4：通过对应的所述测试信号通路采集所述第一管脚响应于所述第二信号的第一响应信号，同时通过对应的所述测试信号通路采集其余m-1个所述管脚响应于所述第一信号的第二响应信号，将所述第一响应信号和所述第二响应信号作为测试结果输出，然后将所述第一管脚的接入模式还原为所述输入模式，以完成对所述第一管脚的检测；S5：重复执行所述步骤S3和所述步骤S4，直至完成对m个所述管脚的检测；S6：退出所述测试模式。2.根据权利要求1所述的IO桥接短路的测试方法，其特征在于，根据所述测试结果中的所述第二信号的数量判断所述管脚是否发生桥接短路。3.根据权利要求2所述的IO桥接短路的测试方法，其特征在于，当所述测试结果中的所述第二信号的数量等于1，判断所述管脚没有发生桥接短路。4.根据权利要求2所述的IO桥接短路的测试方法，其特征在于，当所述测试结果中的所述第二信号的数量大于1，判断所述管脚发生桥接短路。5.根据权利要求1所述的IO桥接短路的测试方法，其特征在于，每个所述管脚均包括第一端、第二端和第三端。6.根据权利要求5所述的IO桥接短路测试方法，其特征在于，所述第一端为三态选择端，所述第二端为输出端，所述第三端为输入端。7.根据权利要求5所述的IO桥接短路的测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，通过所述测试信号通路向每个所述管脚的第一端和第二端连续输入第一信号，以设置m个所述管脚的接入模式为输入模式。8.根据权利要求5所述的IO桥接短路的测试方法，其特征在于，所述步骤S3中，通过对应的所述测试信号通路向所述第一管脚的第一端和第二端输入所述第二信号，以设置所述第一管脚的接入模式为输出模式。9.根据权利要求5所述的IO桥接短路的测试方法，其特征在于，从每个所述管脚的第三端采集所述第一响应信号或所述第二响应信号。10.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路用于实现权利要求1-9任一项所述的IO...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑莉，徐春华，袁智皓，赵永胜，
申请(专利权)人：上海安路信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海,31