信号发送装置、检测电路与其信号检测方法制造方法及图纸

本公开提供一种信号发送装置，包含发射器以及检测电路。发射器用以基于第一基频信号以及第二基频信号发射输出信号，其中第一基频信号与第二基频信号具有基频频率。检测电路用以根据输出信号执行两次的信号调制操作来检测输出信号中具有基频频率的一信号成分，以控制补偿电路校正发射器的通道不匹配。本公开所提供的信号发送装置与检测方法通过对发射器的输出信号进行两次信号调制，以降低检测电路的电路规格需求。

【技术实现步骤摘要】
信号发送装置、检测电路与其信号检测方法
本公开涉及一种信号发送装置，且特别涉及信号发送装置中的检测电路与其检测方法。
技术介绍
通信应用的电路常见于各种电子装置。为了能够正确地传送或接收数据，收发器电路的通道之间的不匹配需要被校正。在现有技术中，发射器的通道不匹配的校正机制需要配置有检测电路来检测发射器的输出信号，以确认校正机制是否有正确工作。然而，随着操作频率越来越高，检测电路所需的规格也越来越高，导致检测电路实作不易并造成检测电路的功率消耗增加。
技术实现思路
为了解决上述问题，本公开的一实施方式提供一种信号发送装置。信号发送装置包含发射器以及检测电路。发射器用以基于第一基频信号以及第二基频信号发射输出信号，其中第一基频信号与第二基频信号具有基频频率。检测电路用以根据输出信号执行两次的信号调制操作来检测输出信号中具有基频频率的一信号成分，以控制补偿电路校正发射器的通道不匹配。本公开的一实施方式是于提供一种检测电路，其用以检测一发射器的一输出信号。检测电路包含第一混频器、第一滤波器以及第二混频器。第一混频器用以根据输出信号执行第一平方运算，以产生第一处理信号。第一滤波器用以根据第一处理信号执行第一滤波操作，以产生第二处理信号。第二混频器用以根据第二处理信号执行第二平方运算以产生第三处理信号，其中第三处理信号还用以经由补偿电路处理，以校正发射器的通道不匹配。本公开的一实施方式是于提供一种信号检测方法，其包含下列操作：通过第一混频器根据发射器的输出信号执行第一信号调制，以产生第一处理信号；通过第一滤波器根据该第一处理信号执行第一滤波操作，以产生第二处理信号；以及通过第二混频器根据第二处理信号执行第二信号调制以产生第三处理信号，其中第三处理信号还用以经由一补偿电路处理，以校正发射器的通道不匹配。综上所述，本公开所提供的信号发送装置与检测方法通过对发射器的输出信号进行两次信号调制，以降低检测电路的电路规格需求。附图说明本公开的附图说明如下：图1为根据本公开一些实施例所示出的一种信号发射装置的示意图；图2为根据本公开一些实施例所示出的图1中的信号收发装置的电路示意图；图3为根据本公开一些实施例所示出图2中的多个信号的频谱示意图；以及图4为根据本公开一些实施例所示出的一种信号检测方法的流程图。附图标记说明：100：信号发送装置110：发射器120：补偿电路130：检测信号IT-I、IT-Q：输入信号SC-I、SC-Q：校正信号SOUT：输出信号SDET：检测信号111-I：数字至模拟转换器111-Q：数字至模拟转换器112-I：低通滤波器112-Q：低通滤波器113：本地振荡器114-I、114-Q：混频器115：加法器116：驱动器SC1、SC2：振荡信号SD-I、SD-Q：调制信号131：衰减器132、134：混频器133、135：滤波器136：放大器137：模拟至数字转换器138：功率分析电路SA～SE：处理信号SF：数字信号fm：基频频率DC：直流信号成分400：信号检测方法S410～S460：操作具体实施方式关于本文中所使用的“耦接”或“连接”，均可指二或多个元件相互直接作实体或电性接触，或是相互间接作实体或电性接触，亦可指二或多个元件相互操作或动作。参照图1，图1为根据本公开一些实施例所示出的一种信号发射装置100的示意图。信号发射装置100包含发射器110、补偿电路120以及检测电路130。发射器110用以基于基频信号IT-I以及基频信号IT-Q发射输出信号SOUT。基频信号IT-I以及基频信号IT-Q具有一基频频率fm。理想上，基频信号IT-I以及基频信号IT-Q具有90度的相位差。补偿电路120用以基于检测信号SDET校正基频信号IT-I以及基频信号IT-Q，以补偿发射器110的同相(in-phase)信号通道以及正交(quadrature)信号通道之间的不匹配。例如，补偿电路120基于检测信号SDET调整基频信号IT-I以及基频信号IT-Q，以输出校正信号SC-I以及校正信号SC-Q至发射器110。如此一来，发射器110可根据校正信号SC-I以及校正信号SC-Q发射输出信号SOUT。于一些实施例中，补偿电路120可基于检测信号SDET决定关联于通道不匹配的调整方向，并相应产生一或多个补偿系数，以对基频信号IT-I以及基频信号IT-Q进行处理。于一些实施例中，补偿电路120可由乘法器以及加法器等电路实现，以根据前述的一或多个补偿系数对基频信号IT-I以及基频信号IT-Q进行处理。上述设置仅为示例，其余各种可用来校正发射器110的通道不匹配的设置方式皆为本公开所涵盖的范围。检测电路130用以根据输出信号SOUT执行两次的信号调制操作以检测输出信号SOUT中具有基频频率fm的信号成分，并输出相应的检测信号SDET至补偿电路120。此处的详细内容将于后面段落参照图2～图3说明。参照图2与图3，图2为根据本公开一些实施例所示出的图1中的信号收发装置100的电路示意图，图3为根据本公开一些实施例所示出图2中的多个信号SOUT以及SA～SD的频谱示意图。为易于理解，图2中的类似元件将参照图1指定为相同标号。如图2所示，发射器110包含多个数字至模拟转换器(digital-to-analogconverter,DAC)111-I以及111-Q、多个低通滤波器112-I以及112-Q、本地振荡器113、多个混频器114-I以及114-Q、加法器115以及驱动器116。本地振荡器113用以分别产生载波信号SC1以及载波信号SC2至多个混频器114-I以及114-Q。其中，载波信号SC1以及载波信号SC2两者具有一载波频率fc，且具有约90度的相位差。等效而言，DAC111-I、低通滤波器112-I以及混频器114-I构成发射器110的同相信号通道，且DAC111-Q、低通滤波器112-Q以及混频器114-Q构成发射器110的正交信号通道。校正信号SC-I经DAC111-I、低通滤波器112-I以及混频器114-I处理后转换为调制信号SD-I。校正信号SC-Q经DAC111-Q、低通滤波器112-Q以及混频器114-Q处理后转换为调制信号SD-Q。加法器115相加调制信号SD-I以及调制信号SD-Q，并输出信号至后方电路(例如包含驱动器116与/或放大器以及天线(未示出))，以发射输出信号SOUT。如图3所示，若当发射器的同相(in-phase)信号通道以及正交(quadrature)信号通道有发生通道不匹配时，在驱动器116的输出观察输出信号SOUT，可以测量到三个信号成分，其频率分别为fc-fm、fc以及fc+fm。如先前所述，输入信号IT-I以及输入信号IT-Q具有基频频率fm且两者具有90度的相位差，且振荡信号SC1以及振荡信号SC2具有频率fc且两者具有90度的相位差。于此条件下，输出信号SOUT可以被表示为下式：其中Asig为关联于输入信号IT-I与/或输入信号IT-Q的振幅，ALo为关联于振荡信号SC1与/或振荡信号SC2的振幅，且Aimg为关联于镜像信号的振幅。在图3中，具有频率fc-fm的信号成分为镜像信号以及频率fc+fm的信号成分为传送信号，且具有频率fc的信号成分为本地振荡器11本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种信号发送装置，包含：一发射器，用以基于一第一基频信号以及一第二基频信号发射一输出信号，其中该第一基频信号与该第二基频信号具有一基频频率；以及一检测电路，用以根据该输出信号执行两次的信号调制操作来检测该输出信号中具有该基频频率的一信号成分，以控制一补偿电路校正该发射器的通道不匹配。

【技术特征摘要】
1.一种信号发送装置，包含：一发射器，用以基于一第一基频信号以及一第二基频信号发射一输出信号，其中该第一基频信号与该第二基频信号具有一基频频率；以及一检测电路，用以根据该输出信号执行两次的信号调制操作来检测该输出信号中具有该基频频率的一信号成分，以控制一补偿电路校正该发射器的通道不匹配。2.如权利要求1所述的信号发送装置，其中该检测电路包含：一第一混频器，用以根据该输出信号调制该输出信号，以产生一第一处理信号；一第一滤波器，用以根据该第一处理信号执行一第一滤波操作，以产生一第二处理信号；以及一第二混频器，用以根据该第二处理信号调制该第二处理信号，以产生一第三处理信号。3.如权利要求2所述的信号发送装置，其中该两次的信号调制操作为两次的平方运算，该第一混频器执行该两次的平方运算中的一第一平方运算，且该第二混频器执行该两次的平方运算中的一第二平方运算。4.如权利要求2所述的信号发送装置，其中该检测电路还包含：一第二滤波器，用以根据该第三处理信号执行一第二滤波操作，以产生一第四处理信号；一模拟至数字转换器，用以根据该第四处理信号产生一数字信号；以及一功率分析电路，用以分析该数字信号，以产生用于控制该补偿电路的一检测信号。5.如权利要求4所述的信号发送装置，其中该第一滤波器为一高通滤波器，且该第二滤波器为一低通滤波器。6.一种检测电路，用以检测一发射器...

【专利技术属性】
技术研发人员：张元硕，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾,71