The utility model discloses a portable common chip detector, which comprises a microprocessor IAP15F2K61S2, a digital chip detection module, an analog chip detection module, a time-based chip detection module, a three-terminal voltage stabilizer chip detection module, a display module, a detection operation module, an alarm reminder module and a power supply module. Microprocessor IAP15F2K61S2 judges the quality of the chip by controlling the IO port connected with the detection module and the digital chip detection module, judging the quality of the chip by the true value table of the chip, judging the quality of the chip by the level of the IO port connected with the analog chip detection module and the three-terminal voltage stabilization chip detection module, detecting the quality of the chip by the output signal frequency of the time-based chip detection module, and detecting the quality of the chip by the IO port in the program. The relative mapping of high and low level changes can realize the detection of back-interpolation chips, and promptly remind users to prevent the device from being damaged, which improves the reliability and security of the detector. IO ports of microprocessors are programmable, which makes it convenient to increase the types of chips in the later stage and increases their scalability.
【技术实现步骤摘要】
便携式常用芯片检测仪
本技术涉及芯片检测领域,尤其涉及一种便携式常用芯片检测仪。
技术介绍
在模电类和数电类实验室中,经常需要使用数字芯片和模拟芯片进行实验或设计,实验中经常会出现芯片型号字体模糊无法识别或不能正常使用的情况,因此,需要一台便携式常用芯片检测仪实现芯片型号识别和质量测试。目前,市场上现存的集成芯片测试仪,可以完成芯片的识别和测试,但是普遍存在体积大、不方便携带,成本高,价格昂贵等缺点。鉴于上述缺陷,设计了一种新型的便携式常用芯片检测仪,降低成本,并提高实验效率和芯片利用率。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种便携式常用芯片检测仪,用以克服上述技术缺陷。为实现上述目的,本技术提供一种便携式常用芯片检测仪,其包括微处理器IAP15F2K61S2,以及数字芯片检测模块、模拟芯片检测模块、时基芯片检测模块、三端稳压芯片模块,显示模块,检测运行模块,报警提醒模块和能产生多种电压的电源模块。所述的显示模块,由LCD1602组成,来显示开机初始界面,芯片检测情况和对未知芯片的型号检测,同时能够提醒芯片是否插反,及时矫正。所述的检测运行模块,用来运行常用芯片检测仪的程序,实现检测仪的功能。所述的电源模块,用来产生GND(0V),+5V,+12V,+18V,-12V,-18V等多种电压,供给微处理器,芯片检测模块,显示模块等。所述的芯片检测模块,分为数字芯片检测模块、模拟芯片检测模块、时基芯片检测模块、三端稳压芯片模块,由多个16P锁紧座与微处理器IAP15F2K61S2连接,用来放置待测芯片,放置好芯片后,按下锁紧座的杆,再按一下检测运行模块,然后会在显示 ...
【技术保护点】
1.一种便携式常用芯片检测仪,其特征在于包括微处理器IAP15F2K61S2(1)、电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9),其特征在于所述的电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)与微处理器IAP15F2K61S2(1)连接,所述的电源模块(2)给微处理器IAP15F2K61S2(1)、电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)提供工作电源。
【技术特征摘要】
1.一种便携式常用芯片检测仪,其特征在于包括微处理器IAP15F2K61S2(1)、电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9),其特征在于所述的电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)与微处理器IAP15F2K61S2(1)连接,所述的电源模块(2)给微处理器IAP15F2K61S2(1)、电源模块(2)、显示模块(3)、数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)、报警提醒模块(8)和检测运行模块(9)提供工作电源。2.根据权利要求1所述的便携式常用芯片检测仪,其特征在于所述的微处理器IAP15F2K61S2(1)通过内部算法生成一系列电平变化加载在数字芯片检测模块(4)、模拟芯片检测模块(5)、时基芯片检测模块(6)、三端稳压芯片模块(7)上;所述的数字芯片检测模块(4)包括:电阻R1,电阻R2,电阻R3,电阻R4,电阻R5,电阻R6,电阻R7,电阻R8,电阻R9,电阻R10,电阻R11,电阻R12,电阻R13,电阻R14,电阻R15,电阻R16,所述的电阻R1一端接数字芯片检测模块(4)的1脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^0脚,所述的电阻R2一端接数字芯片检测模块(4)的2脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^1脚,所述的电阻R3一端接数字芯片检测模块(4)的3脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^2脚,所述的电阻R4一端接数字芯片检测模块(4)的4脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^3脚,所述的电阻R5一端接数字芯片检测模块(4)的5脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^4脚,所述的电阻R6一端接数字芯片检测模块(4)的6脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^5脚,所述的电阻R7一端接数字芯片检测模块(4)的7脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^6脚,所述的电阻R8一端接数字芯片检测模块(4)的8脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P0^7脚,所述的电阻R9一端接数字芯片检测模块(4)的9脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^0脚,所述的电阻R10一端接数字芯片检测模块(4)的10脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^1脚,所述的电阻R11一端接数字芯片检测模块(4)的11脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^2脚,所述的电阻R12一端接数字芯片检测模块(4)的12脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^3脚,所述的电阻R13一端接数字芯片检测模块(4)的13脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^4脚,所述的电阻R14一端接数字芯片检测模块(4)的14脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^5脚,所述的电阻R15一端接数字芯片检测模块(4)的15脚,另一端接微处理器IAP15F2K61S2(1)的P2^6脚,所述的电阻R16一端接数字芯...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。