一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统，包括：模拟功能电路单元和数字功能电路单元；所述模拟功能电路单元对电子设备预留测试点进行模拟电路的模拟信号采集，数字功能电路单元通过激励测试向量完成对带边界扫描模块的数字电路的边界扫描测试，最终采用基于标准芯片封装技术对上述的适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统进行芯片封装而成。本发明专利技术有益效果：采用标准的数模电路BIT设计和标准芯片封装技术代替传统的使用分离元器件搭建BIT功能电路进行电子设备数模电路的嵌入式测试的方式，可以较好地实现测试资源的易于隔离和可控性。

【技术实现步骤摘要】
一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统
本专利技术涉及嵌入式传感器
，尤其涉及一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统。
技术介绍
嵌入式测试(BIT)是应用于复杂电子系统中非常重要的一种自测试手段，是测试性设计实现的重要保证。嵌入式测试(BIT)能力的好坏直接关系到系统或设备内部检测和隔离故障的能力优劣。在实际工程应用中，为了达到电子设备数模电路期望的测试性要求，在电子设备的设计之初往往需要进行多信号建模来完成测试性分析，根据期望的测试性能指标来选择并预留合适的测试点，最终通过设计BIT功能电路实现测试数据的采集，并通过阈值诊断等方式实现被测对象的状态监测。目前在工程应用中，针对电子设备数模电路的嵌入式测试设计，多采用分散式电路结合分离式元件来搭建BIT功能电路完成对电子设备预留测试点的数据采集。但是多采用分散式电路结合分离式元件存在着模块间相互关联和耦合影响，这种方式存在如下缺点：第一、使用分离器件搭建嵌入式测试功能电路设计规范性不足、设计资源间的隔离性不强、体积不可控；第二、采用分散式功能电路设计，增加了电路的复杂程度，增大了故障隔离的难度，并且一定程度地增加了设备功能本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统，其特征在于，包括：模拟功能电路单元和数字功能电路单元；所述模拟功能电路单元对电子设备预留测试点进行模拟电路的模拟信号采集，数字功能电路单元通过激励测试向量完成对带边界扫描模块的数字电路的边界扫描测试。

【技术特征摘要】
1.一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统，其特征在于，包括：模拟功能电路单元和数字功能电路单元；所述模拟功能电路单元对电子设备预留测试点进行模拟电路的模拟信号采集，数字功能电路单元通过激励测试向量完成对带边界扫描模块的数字电路的边界扫描测试。2.如权利要求1所述的一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统，其特征在于，所述模拟功能电路单元和数字功能电路单元均通过测试总线实现数据的上传。3.如权利要求1所述的一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统，其特征在于，所述模拟功能电路单元包括：单片机、模拟电路控制与处理单元、多路选择开关、信号调理单元和模/数转换单元；所述单片机通过模拟电路控制和处理单元与多路选择开关连接，所述多路选择开关依次串联信号调理单元、测量单元和数字电压表单元后与模/数转换单元连接，所述模/数转换单元与模拟电路控制和处理单元连接。4.如权利要求3所述的一种适用于电子设备数模电路嵌入式测试系统，其特征在于，所述单片机包括：模拟通用IO接口，所述模拟通用IO接口通过模拟电路控制和处理单元来控制多路选择开关，利用多路选择开关选择电子设备预留测试点的测试通道，进行模拟电路的模拟信号采集。5.如权利要求4所述的一种适用于电子设备数模电路嵌入...

【专利技术属性】
技术研发人员：靳为东，周靖宇，唐建立，陈长乐，董琦，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第四十一研究所，
类型：发明
国别省市：山东,37