对光轴键盘进行光衰补偿的方法技术

本发明专利技术关于一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法，其中光轴键盘包含多个按键单元，多个按键单元中的任一按键单元包含红外光产生器，且该方法包含：读取记忆装置以取得光轴键盘的使用时间信息，其中使用时间信息指出红外光产生器的累计使用时间；基于光衰时间对照表，依据使用时间信息取得光轴键盘的光衰信息，其中光衰时间对照表指出红外线产生器随累计使用时间的红外光强度变化；以及依据光衰信息，控制红外光产生器的红外光强度。本发明专利技术能依据光轴键盘中的红外光产生器的使用状况来进行相对应的强度补偿，以避免光轴键盘因光衰问题而失效。

Method of compensating optical attenuation of optical axis keyboard

The invention relates to a method for compensating the optical attenuation of an optical axis keyboard, in which the optical axis keyboard contains multiple key units, and any key unit of a plurality of key units contains an infrared light generator, and the method includes: reading a memory device to obtain the use time information of the optical axis keyboard, in which the use time information indicates the cumulative use time of the infrared light generator; and based on optical attenuation. The light attenuation information of the optical axis keyboard is obtained according to the use time information in the time comparison table, in which the light attenuation time comparison table indicates that the infrared light intensity of the infrared light generator changes with the accumulated use time; and the infrared light intensity of the infrared light generator is controlled according to the light attenuation information. The invention can compensate the corresponding intensity according to the use condition of the infrared light generator in the optical axis keyboard, so as to avoid the failure of the optical axis keyboard due to the optical attenuation problem.

【技术实现步骤摘要】
对光轴键盘进行光衰补偿的方法
本专利技术涉及光轴键盘(或称光机(opticalmechanical)键盘，诸如具有通过光感应制动的按键的键盘)，尤其涉及一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法。
技术介绍
由于光轴键盘是利用红外光产生器所产生的红外光以及相对应的感测装置来运作的，因此光轴键盘的寿命会受到其内的红外光产生器影响。例如：红外光产生器因自身特性而有光衰寿命的问题，当所产生的红外光的强度随着累计使用时间的增加而减弱，可能造成光轴键盘进行扫描时判断失效。因此，需要一种新颖的方法，来解决光轴键盘因光衰寿命所产生的问题。
技术实现思路
本专利技术的一目的在于提供一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法，以在没有副作用或较不可能带来副作用的状况下，解决上述问题。本专利技术的另一目的在于提供一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法，以侦测光衰的程度并进行相对应的补偿。根据本专利技术的一方面，本专利技术提供一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法。该光轴键盘具有记忆装置、光衰时间对照表及多个按键单元，每个按键单元包含红外光产生器，且该方法包含：读取该记忆装置以取得该光轴键盘的使用时间信息，其中该使用时间信息指出该红外光产生器的累计使用时间；基于该光衰时间对照表，依据该使用时间信息取得该光轴键盘的光衰信息，其中该光衰时间对照表记载了该红外光产生器随累计使用时间的红外光强度变化；以及依据该光衰信息，控制该红外光产生器的红外光强度。作为可选的技术方案，该光轴键盘还具有计时器，该方法还包含：在该光轴键盘操作的期间，利用该计时器产生该使用时间信息，并将该使用时间信息储存于该记忆装置中；以及在该光轴键盘操作的期间，每经过特定时间周期就更新一次储存于该记忆装置中的该使用时间信息。作为可选的技术方案，读取该记忆装置以取得该光轴键盘的该使用时间信息的步骤还包含：每经过该特定时间周期就读取一次该记忆装置以取得该光轴键盘的该使用时间信息。根据本专利技术的另一方面，本专利技术还提供另一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法。该光轴键盘包含记忆装置及多个按键单元，每个按键单元包含红外光产生器以及侦测元件，且该方法包含：在该光轴键盘上电后，通过该侦测元件依据该红外光产生器所产生的红外光强度产生电压值；依据该电压值产生该红外光产生器的补偿信息；将该补偿信息储存至该记忆装置中；以及在该光轴键盘进行正常运作时，依据该补偿信息增强该红外光强度。作为可选的技术方案，该补偿信息包含：补偿强度段数，表示该红外光强度的增强量；异常标帜，其中，在补偿运作中，该异常标帜为真则表示该补偿运作为异常，而该异常标帜为假则表示该补偿运作为正常；重新补偿次数，其表示该补偿运作为异常的连续次数；以及初始电压值，其表示在未按下该按键单元时该侦测元件所产生的电压电位。作为可选的技术方案，依据该电压值产生该红外光产生器的补偿信息的步骤包含：当该电压值大于该初始电压值，依据该电压值与该初始电压值之间的差距调整该补偿强度段数。作为可选的技术方案，依据该电压值与该初始电压值之间的差距调整该补偿强度段数的步骤包含：当该电压值与该初始电压值之间的差距所对应的调整量小于预定调整段数时，依据该调整量调整该补偿强度段数。作为可选的技术方案，依据该电压值与该初始电压值之间的差距调整该补偿强度段数的步骤包含：当该电压值与该初始电压值之间的差距所对应的调整量大于预定调整段数时，依据该重新补偿次数判断是否以该调整量调整该补偿强度段数。作为可选的技术方案，依据该重新补偿次数判断是否以该调整量调整该补偿强度段数的步骤包含：当该重新补偿次数达到预定次数时，依据该调整量调整该补偿强度段数。作为可选的技术方案，依据该重新补偿次数判断是否以该调整量调整该补偿强度段数的步骤包含：当该重新补偿次数未达到该预定次数时，依据该预定调整段数调整该补偿强度段数。综上所述，本专利技术能依据该光轴键盘中的红外光产生器的使用状况，例如光衰状况，来进行相对应的强度补偿，以避免该光轴键盘因光衰问题而失效。另外，依据本专利技术的实施例来进行光衰补偿不会大幅增加额外成本，因此，本专利技术能在没有副作用或较不可能带来副作用的状况下，解决相关技术的问题。以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述，但不作为对本专利技术的限定。附图说明图1为依据本专利技术一实施例的光轴键盘的示意图。图2为依据本专利技术一实施例中多个按键单元的示意图。图3为依据本专利技术一实施例的光衰时间对照表。图4为依据本专利技术一实施例的对光轴键盘进行光衰补偿的工作流程。图5为依据本专利技术一实施例的光轴键盘的示意图。图6为依据本专利技术一实施例的对光轴键盘进行光衰补偿的工作流程。具体实施方式有关本专利技术的前述及其他
技术实现思路
、特点与功效，在以下配合参考图式的一种较佳实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。以下实施例中所提到的方向用语，例如：上、下、左、右、前或后等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用来说明并非用来限制本专利技术。图1为依据本专利技术一实施例的光轴键盘100的示意图，其中光轴键盘100可包含按键阵列10、控制器20、记忆装置30以及计时器40，且按键阵列10可包含多个按键单元(诸如按键单元110)以及对应的选择电路(诸如选择电路120)。在本实施例中，控制器20可耦接至按键阵列10中的按键单元110以及选择电路120，且另耦接至记忆装置30以及计时器40，其中控制器20可利用选择电路120控制按键单元110输出一输出电压(可称为“PT电压”，其中PT可表示此电压为光敏晶体管的输出电压)至控制器20，但本专利技术不限于此。图2为依据本专利技术一实施例中多个按键单元诸如第一按键单元110_1与第二按键单元110_2的示意图，其中第一按键单元110_1与第二按键单元110_2中任一者可作为图1所示的按键单元110的例子，且第一按键单元110_1与第二按键单元110_2可分别耦接至光轴键盘100中的第一选择电路120_1与第二选择电路120_2。第一按键单元110_1可包含红外光产生器诸如第一红外光发光二极管(infraredLight-emittingdiode,IRLED)112_1、侦测元件诸如第一光敏晶体管(phototransistor)114_1、第一负载电阻116_1以及第一遮光板118_1，其中第一负载电阻116_1耦接于第一红外光发光二极管112_1与第一选择电路120_1之间；第二按键单元110_2可包含第二红外光发光二极管112_2、第二光敏晶体管114_2、第二负载电阻116_2以及第二遮光板118_2，其中第二负载电阻116_2耦接于第二红外光发光二极管112_2与第二选择电路120_2之间；但本专利技术不限于此。举例来说，光轴键盘100可为(30*6)的光轴键盘，即光轴键盘100可包含180个与第一按键单元110_1或第二按键单元110_2的架构类似的按键单元，相关领域者于阅读以上说明后应可了解不同按键单元数量的架构，在此不赘述。在本实施例中，由于第一按键单元110_1未被按下，其内的第一遮光板118_1不会被设置于第一红外光发光二极管112_1与第一光敏晶体管114_1之间，而由于第二按键单元110_2被按下，其内的第二遮光板118_2会被设置于第二红外光发光二极管112_2与第二光敏晶体管114_2之间，如此一来，当光轴键盘100依序对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法，其特征在于，该光轴键盘具有记忆装置、光衰时间对照表及多个按键单元，每个按键单元包含红外光产生器，且该方法包含：读取该记忆装置以取得该光轴键盘的使用时间信息，其中该使用时间信息指出该红外光产生器的累计使用时间；基于该光衰时间对照表，依据该使用时间信息取得该光轴键盘的光衰信息，其中该光衰时间对照表记载了该红外光产生器随累计使用时间的红外光强度变化；以及依据该光衰信息，控制该红外光产生器的红外光强度。

【技术特征摘要】
1.一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法，其特征在于，该光轴键盘具有记忆装置、光衰时间对照表及多个按键单元，每个按键单元包含红外光产生器，且该方法包含：读取该记忆装置以取得该光轴键盘的使用时间信息，其中该使用时间信息指出该红外光产生器的累计使用时间；基于该光衰时间对照表，依据该使用时间信息取得该光轴键盘的光衰信息，其中该光衰时间对照表记载了该红外光产生器随累计使用时间的红外光强度变化；以及依据该光衰信息，控制该红外光产生器的红外光强度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该光轴键盘还具有计时器，该方法还包含：在该光轴键盘操作的期间，利用该计时器产生该使用时间信息，并将该使用时间信息储存于该记忆装置中；以及在该光轴键盘操作的期间，每经过特定时间周期就更新一次储存于该记忆装置中的该使用时间信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，读取该记忆装置以取得该光轴键盘的该使用时间信息的步骤还包含：每经过该特定时间周期就读取一次该记忆装置以取得该光轴键盘的该使用时间信息。4.一种对光轴键盘进行光衰补偿的方法，其特征在于，该光轴键盘包含记忆装置及多个按键单元，每个按键单元包含红外光产生器以及侦测元件，且该方法包含：在该光轴键盘上电后，通过该侦测元件依据该红外光产生器所产生的红外光强度产生电压值；依据该电压值产生该红外光产生器的补偿信息；将该补偿信息储存至该记忆装置中；以及在该光轴键盘进行正常运作时，依据该补偿信息增强该红外光强度。5.根据权利要求4所述的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈希圣，王俊升，徐德平，
申请(专利权)人：苏州达方电子有限公司，达方电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏,32