一种可调节微波电路测试夹具制造技术

本发明专利技术涉及一种可调节微波电路测试夹具，其为由一平台以及两个分别固定连接在该平台的两个相对的侧面上且相互平行的竖直部共同构成的U形结构，其中，所述平台用于供一被测电路固定放置于其上，每个所述竖直部包括：一框架，其下部与所述平台固定连接；一滑动连接在所述框架中的滑块，其与外部的一射频同轴连接器连接，并供该射频同轴连接器的探针穿过以压接在所述被测电路的输入或输出部分的微带线上；一固定安装在所述滑块顶面上的安装件；以及一从所述框架的顶面竖直向下旋入并与所述安装件卡接的丝杆。本发明专利技术具有可独立通用、易于加工、体积小、损耗低，精度高、装卸方便等优点，可轻松地实现微波电路或芯片的测试工作，具有很高的实用性。

An Adjustable Microwave Circuit Test Fixture

The invention relates to an adjustable microwave circuit test fixture, which is a U-shaped structure consisting of a platform and two parallel vertical parts fixed on two opposite sides of the platform respectively. The platform is used for fixing a circuit under test on it. Each vertical part includes a frame, the lower part of which is fixedly connected with the platform. A slide connector in the frame is connected with an external radio frequency coaxial connector, and the probe of the radio frequency coaxial connector passes through a microstrip line to press the input or output part of the circuit under test; an installer fixed on the top surface of the slide block; and a wire screwed vertically downward from the top surface of the frame and clamped with the installer. Rod. The invention has the advantages of being independent, universal, easy to process, small size, low loss, high precision, convenient loading and unloading, and can easily realize the testing work of microwave circuits or chips, and has high practicability.

【技术实现步骤摘要】
一种可调节微波电路测试夹具
本专利技术涉及一种可调节微波电路测试夹具。
技术介绍
在微波电路设计技术蓬勃发展的同时，对微波器件的精确测试也提出了更高的要求。微波器件的线性性能指标主要包括驻波比、插入损耗、隔离度、幅频响应、相位一致性、滤波特性等，这些指标都可以用S参数表达。一般采用矢量网络分析仪测量微波元器件的S参数，但这些元器件可能是非同轴器件，例如表贴封装或者插针式封装，不能直接与同轴接口形式的矢量网络分析仪连接来进行测试，必须设计和制作与之相适应的转换夹具。测试夹具在整个测试系统中将被测件与同轴接口形式的测试设备连接起来，起到了桥梁的作用。由于非同轴微波器件不能与同轴电缆直接相连，器件的工作频率较高，所以测试夹具与微波器件的连接方法是很重要的，否则测试出的技术指标数据与实际数据可能相差较大。考虑到被测件类型品种多，封装形式各异，所以测试夹具应具有一定的通用性；但微波测试夹具涉及到精确校准，所以只采用一个可调节的结构来适用于所有元器件几乎是不可能的。
技术实现思路
为了解决上述现有技术存在的问题，本专利技术旨在提供一种可调节微波电路测试夹具，以适用于各种待测元器件与测试设备的精准连接。本专利技术所述的一种可调节微波电路测试夹具，其为由一平台以及两个分别固定连接在该平台的两个相对的侧面上且相互平行的竖直部共同构成的U形结构，其中，所述平台用于供一被测电路固定放置于其上，每个所述竖直部包括：一框架，其下部与所述平台固定连接；一滑动连接在所述框架中的滑块，其与外部的一射频同轴连接器连接，并供该射频同轴连接器的探针穿过以压接在所述被测电路的输入或输出部分的微带线上；一固定安装在所述滑块顶面上的安装件；以及一从所述框架的顶面竖直向下旋入并与所述安装件卡接的丝杆。在上述的可调节微波电路测试夹具中，所述滑块包括：一本体以及两个分别从所述本体的两个相对的侧面向外凸起的突出部，其中，所述本体的外表面上开设有一用于安装所述射频同轴连接器的装配槽，且该装配槽的槽底面上开设有一用于供所述射频同轴连接器的探针穿过的通孔。在上述的可调节微波电路测试夹具中，所述安装件包括：两个结构相同的安装块，每个所述安装块的一侧面上开设有一半圆柱形卡口，两个所述安装块的具有所述半圆柱形卡口的侧面固定连接在一起，以使两个所述半圆柱形卡口共同构成一用于与所述丝杆卡接的圆柱形卡槽。在上述的可调节微波电路测试夹具中，所述框架为由一水平构件以及两个连接在该水平构件的底面上且相互平行的竖直构件共同构成的n形结构，其中，两个所述竖直构件的两个彼此相对的侧面上分别开设有一与所述滑块的突出部滑动配合的滑槽。在上述的可调节微波电路测试夹具中，所述滑块在所述框架中的位置通过以下方式固定：通过一螺钉旋入所述竖直构件外表面上开设的一与所述滑槽连通的螺孔而顶住所述滑块的突出部。在上述的可调节微波电路测试夹具中，所述水平构件与两个竖直构件一体成形，两个所述竖直构件的下部与所述平台固定连接。在上述的可调节微波电路测试夹具中，所述丝杆竖直向下穿过所述框架的顶面，并与该框架顶面上开设的一螺纹孔螺纹配合，所述丝杆的下部固定套设有一用于与所述安装件的圆柱形卡槽卡接的圆环。由于采用了上述的技术解决方案，本专利技术利用丝杆的传动原理，通过采用两个可以独立调节高度的滑块，从而可以根据被测电路的封装高度调节分别装配在两个滑块上的输入和输出射频同轴连接器的高度，以使射频同轴连接器的探针可以直接压接在被测电路的输入和输出分布的微带线上，由此实现同轴与微带之间的转换，使具有不同板材厚度的被测电路都易于与测试设备实现级联。本专利技术具有可独立通用、易于加工、体积小、损耗低，精度高、装卸方便等优点，可轻松地实现微波电路或芯片的测试工作，具有很高的实用性。附图说明图1是本专利技术一种可调节微波电路测试夹具的结构示意图；图2是本专利技术中滑块的结构示意图；图3是本专利技术中安装块的结构示意图；图4是本专利技术中框架的结构示意图；图5是本专利技术中丝杆的结构示意图。具体实施方式下面结合附图，给出本专利技术的较佳实施例，并予以详细描述。请参阅图1-5，本专利技术，即一种可调节微波电路测试夹具，包括：平台1以及两个例如通过螺钉分别固定连接在平台1的两个相对的侧面上且相互平行的竖直部，平台1与该两个竖直部共同构成了一个U形结构，其中：平台1用于供被测电路(图中未示)固定放置于其上，例如，被测电路可通过采用导电银浆固定放置在平台1上；每个竖直部包括：滑块2、安装件3、框架4以及丝杆5，其中，滑块2滑动连接在框架4中，其包括：本体21以及两个分别从本体21的两个相对的侧面向外凸起的突出部22，其中，本体21的外表面上开设有用于安装外部的射频同轴连接器(图中未示)的装配槽23，且该装配槽23的槽底面上开设有用于供射频同轴连接器的探针穿过的通孔24；安装件3例如通过螺钉固定安装在滑块2的顶面，其包括：两个结构相同且彼此固定连接的安装块31，每个安装块31的一侧面上开设有一半圆柱形卡口32，两个安装块31的具有半圆柱形卡口32的侧面例如通过定位销连接在一起，从而使两个半圆柱形卡口32共同构成了一个圆柱形卡槽；框架4为一n形结构，其包括：水平构件41以及两个连接在水平构件41的底面上且相互平行的竖直构件42，其中，水平构件41与两个竖直构件42一体成形，两个竖直构件42的下部例如通过螺钉与平台1固定连接，且两个竖直构件42的两个彼此相对的侧面上分别开设有一与滑块2的突出部22滑动配合的滑槽43，以使滑块2从框架4的开口端伸入并与框架4滑动连接，滑块2在框架4中的位置可通过以下方式固定，即采用螺钉旋入竖直构件42外表面上开设的与滑槽43连通的螺孔44而顶住滑块2的突出部22；丝杆5竖直向下穿过框架4的水平构件41，并与水平构件41顶面上的螺纹孔螺纹配合，丝杆5的下部固定套设有一用于与安装件3的圆柱形卡槽卡接的圆环51。本专利技术在装配时，先将滑块2从框架4的开口端伸入并与框架4滑动连接，再将丝杆5旋入框架4顶面的螺纹孔，然后将两个安装块31的半圆柱形卡口32卡在丝杆5的圆环51处，并通过定位销将两个安装块31固定连接在一起，同时通过螺钉将两个安装块31固定连接在滑块2的顶面上，最后通过螺钉将框架4与平台1固定连接。在使用本专利技术时，先将被测电路固定放置在平台1上，然后根据被测电路的封装高度，分别调节转动两根丝杆5，从而带动两个滑块2上下滑动至合适的位置，以使两个分别装配在两个滑块2的装配槽23中的射频同轴连接器的探针可以穿过通孔24分别压接在被测电路的输入和输出部分的微带线上(射频同轴连接器接口方向与微带传输线方向保持一致，操作方便)，从而实现被测电路与同轴接口形式的测试设备之间的连接，当两个滑块2的高度调节完成后，即可通过螺钉穿过框架4外表面上的螺孔44来固定滑块2的位置。另外，在使用本专利技术时，射频同轴连接器可根据被测电路的频率需要选择不同的频段，可测的被测电路的频率最高可达40GHz。由此可见，通过采用本专利技术，可以独立调节平台1两侧的射频同轴连接器的高度位置，从而适用于不同板材厚度的被测电路。以上所述的，仅为本专利技术的较佳实施例，并非用以限定本专利技术的范围，本专利技术的上述实施例还可以做出各种变化。凡是依据本专利技术申请的权利要求书及说明书内容所作的简单、等效变化与修饰，皆本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可调节微波电路测试夹具，其特征在于，所述夹具为由一平台以及两个分别固定连接在该平台的两个相对的侧面上且相互平行的竖直部共同构成的U形结构，其中，所述平台用于供一被测电路固定放置于其上，每个所述竖直部包括：一框架，其下部与所述平台固定连接；一滑动连接在所述框架中的滑块，其与外部的一射频同轴连接器连接，并供该射频同轴连接器的探针穿过以压接在所述被测电路的输入或输出部分的微带线上；一固定安装在所述滑块顶面上的安装件；以及一从所述框架的顶面竖直向下旋入并与所述安装件卡接的丝杆。

【技术特征摘要】
1.一种可调节微波电路测试夹具，其特征在于，所述夹具为由一平台以及两个分别固定连接在该平台的两个相对的侧面上且相互平行的竖直部共同构成的U形结构，其中，所述平台用于供一被测电路固定放置于其上，每个所述竖直部包括：一框架，其下部与所述平台固定连接；一滑动连接在所述框架中的滑块，其与外部的一射频同轴连接器连接，并供该射频同轴连接器的探针穿过以压接在所述被测电路的输入或输出部分的微带线上；一固定安装在所述滑块顶面上的安装件；以及一从所述框架的顶面竖直向下旋入并与所述安装件卡接的丝杆。2.根据权利要求1所述的可调节微波电路测试夹具，其特征在于，所述滑块包括：一本体以及两个分别从所述本体的两个相对的侧面向外凸起的突出部，其中，所述本体的外表面上开设有一用于安装所述射频同轴连接器的装配槽，且该装配槽的槽底面上开设有一用于供所述射频同轴连接器的探针穿过的通孔。3.根据权利要求1所述的可调节微波电路测试夹具，其特征在于，所述安装件包括：两个结构相同的安装块，每个所述安装块的一侧面上开设有一半圆柱形卡口...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪书娜，李凌云，刘德兴，孙晓玮，
申请(专利权)人：中国科学院上海微系统与信息技术研究所，
类型：发明
国别省市：上海,31