电力装置及其制造方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电力装置及其制造方法。在电力装置(26)及其制造方法中，在电抗器(80)的轴向上，第二电流传感器(64)的检测元件(230)和卷线部(114a)的中心位置的距离(D2)比第一电流传感器(62)的检测元件(230)和卷线部(114c)的中心位置的距离(D1)短。另外，第二电流传感器(64)的铁芯(212)的间隙长度(G2)比第一电流传感器(62)的铁芯(212)的间隙长度(G1)短。采用该电力装置及其制造方法，在受到周边磁场的影响的情况下，能够有效地利用在磁体铁芯中用于配置检测元件的间隙的间隙长度。

【技术实现步骤摘要】
电力装置及其制造方法
本专利技术涉及一种具有多个电流传感器的电力装置及其制造方法。
技术介绍
在日本专利技术专利公开公报特开2014-006116号中，其课题是，在除具有用于输出三相交流电流的三根母线(busbar)外还具有第四母线的逆变器(inverter)中，降低由来自输出母线的电流传感器的漏磁通对第四母线的电流传感器的影响(摘要、说明书的【0009】段)。为了解决该课题，在日本专利技术专利公开公报特开2014-006116号(摘要)的逆变器中，将用于驱动马达的UVW三相的输出电流传输给马达的三根输出母线和第四母线平行排列。三根输出母线中的至少两根输出母线和第四母线上具有电流传感器。电流传感器具有包围母线的C字型的磁体和配置于磁体的C字的间隙的磁敏元件。在输出母线上所具有的电流传感器中，离第四母线上所具有的电流传感器较远的电流传感器5a的间隙长度ga大于离第四母线上所具有的电流传感器较近的电流传感器5c的间隙长度gc。此外，第四母线上所具有的电流传感器也被称为靶(Target)电流传感器(【0010】段)。
技术实现思路
如上所述，在日本专利技术专利公开公报特开2014-006116号中，使离第四母线上所具有的电流传感器(靶电流传感器)较远的电流传感器5a的间隙长度ga大于离第四母线上所具有的电流传感器(靶电流传感器)较近的电流传感器5c的间隙长度gc(摘要)。换言之，在日本专利技术专利公开公报特开2014-006116号中，根据与靶电流传感器的距离(直线距离)来设定间隙长度。然而，铁芯的间隙长度的利用方法有改善的余地。本专利技术是考虑到上述那样的课题而作出的，其目的在于，提供一种电力装置及其制造方法，其在受到周边磁场的影响的情况下，能够有效地利用在磁体铁芯中用于配置检测元件的间隙的间隙长度。本专利技术所涉及的电力装置具有：具有卷线部的电抗器(reactor)；第一电线和第二电线，其沿与所述电抗器的轴向正交的方向在所述电抗器的侧方延伸；第一电流传感器，其具有第一检测元件和形成有第一间隙的环状的第一铁芯，且对在所述第一电线中流动的第一电流进行检测，其中所述第一检测元件配置于所述第一间隙；第二电流传感器，其具有第二检测元件和形成有第二间隙的环状的第二铁芯，且对在所述第二电线中流动的第二电流进行检测，其中所述第二检测元件配置于所述第二间隙；电路，其使所述第一电流的最大值大于所述第二电流的最大值，所述电力装置的特征在于，在所述电抗器的轴向上，所述第二检测元件和所述卷线部的中心位置的距离比所述第一检测元件和所述卷线部的中心位置的距离短，所述第二间隙的长度、即第二间隙长度比所述第一间隙的长度、即第一间隙长度短。根据本专利技术，由于以下的理由，能够有效地使用形成有用于配置受周边磁场的影响的检测元件的间隙的磁体铁芯的间隙长度。即，在本专利技术中，第一电流传感器和第二电流传感器对在电抗器的侧方延伸的第一电线和第二电线的电流进行检测，因此，配置于离电抗器较近的位置而受到来自电抗器的漏磁通的影响。电抗器的漏磁通在沿着从电抗器起的同心圆或者接近该同心圆的形状的方向上容易产生。第一电线和第二电线沿与电抗器的轴向正交的方向在电抗器的侧方延伸。因此，例如在通过第一检测元件对由在第一电线中流动的第一电流所产生的磁场强度进行检测而使第一电流传感器检测出第一电流的情况下，存在第一检测元件所检测出的磁场的方向(检测磁场方向)接近电抗器的漏磁通的方向的可能性。换言之，存在如下可能性：电抗器的轴向上的第一检测元件和卷线部的中心位置的距离越短，第一电流传感器越容易受到漏磁通的影响，该距离越远，第一电流传感器越不容易受到漏磁通的影响。第二电流传感器也同样如此。根据本专利技术，在电抗器的轴向上，第二检测元件和卷线部的中心位置的距离比第一检测元件和卷线部的中心位置的距离短，第二间隙的长度、即第二间隙长度比第一间隙的长度、即第一间隙长度短。据此，在电抗器所产生的漏磁通对第二电流传感器的影响较大的情况下，通过缩短第二电流传感器的第二间隙长度，而容易检测出随着第二电线中的第二电流而在第二铁芯产生的磁通(原本想要检测出的磁通)。因此，能够减少由来自电抗器的漏磁通引起的第二电流的灵敏度变化。据此，能够提高第二电流传感器对来自电抗器的漏磁通的耐受性。另外，在电抗器所产生的漏磁通对第一电流传感器的影响较小的情况下，通过增长第一电流传感器的第一间隙长度，而降低随着第一电线中的第一电流而在第一铁芯产生的磁通(原本想要检测出的磁通)的影响。据此，能够不容易产生对第一电流传感器的直线性的影响或者铁芯的磁通的饱和。尤其是，这种效果在使第一电流的最大值大于第二电流的最大值的情况下有用。再者，这种效果在使第一检测元件和第二检测元件的规格相同的情况下显著。所述第一检测元件例如可以为第一霍尔元件，所述第二检测元件例如可以为第二霍尔元件。也可以为与所述第二霍尔元件的磁场检测面相比，所述第一霍尔元件的磁场检测面以与所述电抗器所产生的漏磁通的朝向更接近平行的角度配置。根据本专利技术，与第二检测元件的磁场检测面相比，第一检测元件的磁场检测面与电抗器所产生的漏磁通的朝向平行地配置，并且，第二间隙长度比第一间隙长度短。据此，第二电流传感器容易受到随着第二电线中的第二电流而在第二铁芯产生的磁通(原本想要检测出的磁通)的影响，另一方面，减少了第二电流相对于漏磁通的灵敏度变化，由此，相对地不容易受到来自电抗器的漏磁通的影响。据此，能够提高第二电流传感器对来自电抗器的漏磁通的耐受性。另外，增长检测磁场方向离电抗器所产生的漏磁通的朝向较远(换言之，来自电抗器的漏磁通的影响较小)的第一电流传感器的第一间隙长度。因此，第一电流传感器不容易受到随着第一电线中的第一电流而在第一铁芯产生的磁通(原本想要检测出的磁通)的影响，由此，能够减弱与第一电流传感器的直流成分相对应的磁通，不容易产生对第一电流传感器的直线性的影响或者铁芯的磁通的饱和。所述第二检测元件和所述电抗器的第二直线距离可以比所述第一检测元件和所述电抗器的第一直线距离短。据此，即使在为了设计上的方便而将检测磁场方向离电抗器所产生的磁通的朝向较近(换言之，来自电抗器的漏磁通的影响较大)的第二电流传感器配置于电抗器附近的情况下，也缩短第二间隙长度，由此，能够提高第二电流传感器对来自电抗器的漏磁通的耐受性。所述电抗器例如可以为磁耦合型电抗器。据此，与其他种类的电抗器相比较，容易在磁场朝向的分布多样的磁耦合型电抗器的周围配置第一电流传感器和第二电流传感器，从而能够提高设计自由度。可以使所述第一检测元件和所述第二检测元件的规格相同。据此，能够在来自电抗器的漏磁通的影响根据设置场所的不同而不同的情况下，通过统一第一检测元件和第二检测元件的规格来降低第一检测元件和第二检测元件的成本。所述第一铁芯和所述第二铁芯的除所述第一间隙和所述第二间隙以外的外径尺寸可以相同。据此，能够在来自电抗器的漏磁通的影响根据设置场所的不同而不同的情况下，通过使第一铁芯和第二铁芯的外形尺寸相同来降低第一铁芯和第二铁芯的成本。在本专利技术所涉及的电力装置的制造方法中，所述电力装置具有：电抗器，其具有卷线部；第一电流传感器，其具有第一检测元件和形成有第一间隙的环状的第一铁芯，且对在第一电线中流动的第一电流进行检测，其中所述第一检测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电力装置(26)，具有：电抗器(80)，其具有卷线部；第一电线(164)和第二电线(194)，其沿与所述电抗器(80)的轴向正交的方向在所述电抗器(80)的侧方延伸；第一电流传感器(62)，其具有第一检测元件(230)和形成有第一间隙的环状的第一铁芯(212a)，且对在所述第一电线中流动的第一电流进行检测，其中所述第一检测元件(230)配置于所述第一间隙；第二电流传感器(64)，其具有第二检测元件(230)和形成有第二间隙的环状的第二铁芯(212b)，且对在所述第二电线中流动的第二电流进行检测，其中所述第二检测元件(230)配置于所述第二间隙；和电路(300)，其使所述第一电流的最大值大于所述第二电流的最大值，所述电力装置(26)的特征在于，在所述电抗器(80)的轴向上，所述第二检测元件(230)和所述卷线部的中心位置的距离(D2)比所述第一检测元件(230)和所述卷线部的中心位置的距离(D1)短，所述第二间隙的长度、即第二间隙长度(G2)比所述第一间隙的长度、即第一间隙长度(G1)短。

【技术特征摘要】
2017.05.31 JP 2017-1088401.一种电力装置(26)，具有：电抗器(80)，其具有卷线部；第一电线(164)和第二电线(194)，其沿与所述电抗器(80)的轴向正交的方向在所述电抗器(80)的侧方延伸；第一电流传感器(62)，其具有第一检测元件(230)和形成有第一间隙的环状的第一铁芯(212a)，且对在所述第一电线中流动的第一电流进行检测，其中所述第一检测元件(230)配置于所述第一间隙；第二电流传感器(64)，其具有第二检测元件(230)和形成有第二间隙的环状的第二铁芯(212b)，且对在所述第二电线中流动的第二电流进行检测，其中所述第二检测元件(230)配置于所述第二间隙；和电路(300)，其使所述第一电流的最大值大于所述第二电流的最大值，所述电力装置(26)的特征在于，在所述电抗器(80)的轴向上，所述第二检测元件(230)和所述卷线部的中心位置的距离(D2)比所述第一检测元件(230)和所述卷线部的中心位置的距离(D1)短，所述第二间隙的长度、即第二间隙长度(G2)比所述第一间隙的长度、即第一间隙长度(G1)短。2.根据权利要求1所述的电力装置(26)，其特征在于，所述第一检测元件(230)为第一霍尔元件，所述第二检测元件(230)为第二霍尔元件，与所述第二霍尔元件(230)的磁场检测面(252)相比，所述第一霍尔元件的磁场检测面(252)以与所述电抗器(80)所产生的漏磁通的朝向更接近平行的角度配置。3.根据权利要求1所述的电力装置(26)，其特征在于，所述第二检测元件(230)和所述电抗器(80)的第二直线距离(d2)比...

【专利技术属性】
技术研发人员：冈本德明，岛田昌浩，古知直人，桥野哲，藤田晓，
申请(专利权)人：本田技研工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本,JP