室内覆盖天线的验收方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种室内覆盖天线的验收方法和装置。该方法包括：获取天馈平面图中的天线位置和天馈平面图的比例尺；获取室分器件的拓扑结构，室分器件包括天线和天线的上级器件；根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库；根据天线的位置采集天线的测试数据；将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；天线功率大于或者等于判决门限，验收天线。本发明专利技术实施例可以通过根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库，再通过将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，可以实现入网室分天线点功率自动、全量验收，提高了天线验收的效率。

【技术实现步骤摘要】
室内覆盖天线的验收方法和装置
本专利技术涉及无线通信
，尤其涉及一种室内覆盖天线的验收方法和装置。
技术介绍
随着无线通信技术的快速发展，室内网络信号覆盖逐渐向深度覆盖方向发展。为了保证室内网络信号的良好覆盖，通信企业建设了大量的LTE(LongTermEvolution，长期演进)室内分布系统(简称：室分)。由于室分器件(例如，天线)数量较多、覆盖复杂(现网中天线暗装占比较高)，所以针对室分器件的验收工作量非常大，且验收的难度较高。现有的针对室分器件的验收方法主要采用人工现场随机抽检的测试方式，抽检比例大约10％。现有的针对室分器件的验收方法存在以下技术问题：验收时间长、入网室分天线点无法全量验收、验收自动化不足、验收精度低等问题。由于验收效率较低，直接影响了室分信号深度覆盖。如何提高室内覆盖天线的验收效率，成为业界亟待解决的问题。
技术实现思路
为了提高室内覆盖天线的验收效率，本专利技术实施例提供了一种室内覆盖天线的验收方法和装置。第一方面，提供了室内覆盖天线的验收方法。该方法包括以下步骤：获取天馈平面图中的天线的位置和天馈平面图的比例尺；获取室分器件的拓扑结构，室分器件包括天线和天线的上级器件；根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库；根据天线的位置采集天线的测试数据；将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；天线功率大于或者等于判决门限，验收天线。第二方面，提供了室内覆盖天线的验收装置。该装置包括：第一获取单元，用于获取天馈平面图中的天线的位置和天馈平面图的比例尺；第二获取单元，用于获取室分器件的拓扑结构，室分器件包括天线和天线的上级器件；数据库生成单元，用于根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库；数据采集单元，用于根据天线的位置采集天线的测试数据；功率计算单元，用于将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；天线验收单元，用于天线功率大于或者等于判决门限，验收天线。由此，本专利技术实施例可以通过根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库，可以将图纸转换为测试软件可应用的矢量图层，再通过将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，可以实现入网室分天线点功率自动、全量验收，提高了天线验收的效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一实施例的室内覆盖天线的验收方法的流程示意图。图2是本专利技术一实施例的天线标注和天线点坐标匹配的示意图。图3是本专利技术一实施例的室分器件的拓扑结构示意图。图4是本专利技术一实施例的LTE/WLAN合路方式的示意图。图5(a)是本专利技术一实施例的2叉树的故障节点定位示意图。图5(b)是本专利技术另一实施例的2叉树的故障节点定位示意图。图6是本专利技术另一实施例的三点定位法计算天线实际位置的示意图。图7是本专利技术一实施例的室内覆盖天线的验收装置的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。图1是本专利技术一实施例的室内覆盖天线的验收方法的流程示意图。如图1所示，该方法包括以下步骤：S110，获取天馈平面图中的天线的位置和天馈平面图的比例尺；S120，获取室分器件的拓扑结构，室分器件包括天线和天线的上级器件；S130，根据天线的位置、比例尺和拓扑结构，生成室分器件的图形信息数据库；S140，根据天线的位置采集天线的测试数据；S150，将测试数据与图形信息数据库中天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；S160，天线功率大于或者等于判决门限，验收天线。在步骤S110中，天馈平面图可是包含天线点空间分布及坐标的图纸。该图纸可以在房屋户型图的基础上进行绘制。天线可以是圆形的全向吸顶天线。天线位置的获取方法可以通过图元定位提取算法提取天线点在图纸中的直角坐标(x，y)，再通过高斯投影反计算公式将天线点直角坐标转换为经纬度。例如：首先输入天馈平面图，通过图元定位提取算法提取天线点信息输出天线点直角坐标。然后输入3个参考点(例如直角坐标和经纬度)，通过搞死投影反计算公式输出天线点经纬度。天线直角坐标提取的实现方式可以如下所示：图纸中天线点以预定义图形进行布放(例如全向吸顶天线为圆形)，天线标注则具有规范性语法格式(ANTm-nF，其中：m为天线点编号，n为楼层编号)，但两者并非关联存储。本专利技术实施例自主开发图元定位提取算法，通过遍历图纸中图形和文本，筛选出所有天线标注和天线点坐标，以最小距离实现关联匹配。图2是本专利技术一实施例的天线标注和天线点坐标匹配的示意图。如图2所示，耦合器201与功分器202连接。耦合器201下挂1个天线203(该天线标注为ANT1-1F)。功分器202下挂天线204和天线205(该天线标注为ANT3-1F)。天线204标注和天线点坐标(3，1)匹配的实现方式如下所示：1、天线203的坐标为(1，1)，天线204的坐标为(3，1)，天线205的坐标为(4，2)。2、天线标注ANT2-1F到三个天线点的距离分别为d1、d2、d3。3、判断d1、d2、d3中的最小值，本处为d2＝min{d1，d2，d3}。4、由此得出ANT2-1F对应的天线点坐标为(3，1)，。天线204标注为ANT2-1F。天线点经纬度转换的实现方式可以是：基于三个已知直角坐标和经纬度的参考点，通过高斯反投影计算公式，实现天线点直角坐标转换为经纬度。图纸比例尺提取的实现方式可以如下所示：编程读取X轴(水平方向)、Y轴(垂直方向)的对齐标注信息(含线段图纸长度、图纸缩放比例、线段标注长度)，通过比例尺＝线段图纸长度/图纸缩放比例/线段标注长度，计算出图纸X轴、Y轴的比例尺，为后续计算天线点和采样点间的真实距离做准备。在步骤S120中，室分器件可以包括天线和天线的上级器件。天线的上级器件可以是功分器、合路器、RRU(RadioRemoteUnit，射频拉远单元)等。拓扑结构可以是系统原理图中室分器件的拓扑结构。图3是本专利技术一实施例的室分器件的拓扑结构示意图。如图3所示，在该拓扑结构是1个2叉树结构。该2叉树的根节点是起点301，叶子节点是节点3304和节点5306。节点5306的上级节点是节点4305。节点4305和节点3304的上级节点均是节点2303。节点2303的上级节点是节点1302。节点1302的上级节点是起点301。室分拓扑结构提取的算法原理可以是：利用线段的两个端点和节点图形的重叠关系，判断节点之间的连接和上下级关系，具体判断的步骤可以如下所示：1、确定起点3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种室内覆盖天线的验收方法，其特征在于，包括以下步骤：获取天馈平面图中的天线的位置和所述天馈平面图的比例尺；获取室分器件的拓扑结构，所述室分器件包括所述天线和所述天线的上级器件；根据所述天线的位置、所述比例尺和所述拓扑结构，生成所述室分器件的图形信息数据库；根据所述天线的位置采集所述天线的测试数据；将所述测试数据与所述图形信息数据库中所述天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；所述天线功率大于或者等于判决门限，验收所述天线。

【技术特征摘要】
1.一种室内覆盖天线的验收方法，其特征在于，包括以下步骤：获取天馈平面图中的天线的位置和所述天馈平面图的比例尺；获取室分器件的拓扑结构，所述室分器件包括所述天线和所述天线的上级器件；根据所述天线的位置、所述比例尺和所述拓扑结构，生成所述室分器件的图形信息数据库；根据所述天线的位置采集所述天线的测试数据；将所述测试数据与所述图形信息数据库中所述天线的位置逐一匹配，并计算匹配成功的天线功率；所述天线功率大于或者等于判决门限，验收所述天线。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：所述天线功率小于判决门限，判定所述天线弱覆盖故障；根据所述天线的弱覆盖故障情况，遍历所述拓扑结构的N叉树，生成所述室分器件的遍历故障结果，其中，所述N大于等于2，所述N叉树的叶子节点对应所述天线，所述叶子节点的上级节点对应所述上级器件；采集所述上级器件的运行数据；关联所述遍历故障结果和所述运行数据，并基于弱覆盖根因节点定位算法定位所述室分器件的故障。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述天线的弱覆盖故障情况，遍历所述拓扑结构的N叉树，生成所述室分器件的遍历故障结果，包括：遍历所述拓扑结构的N叉树，判定所述叶子节点是否故障；当所述上级节点的所有叶子节点均故障时，判定所述上级节点故障；当所述上级节点是根节点时，停止遍历所述N叉树。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述室分器件的故障包括以下故障中的至少一种：RRU隐性故障、主干合路器故障、分布系统被破坏故障、无线局域网WLAN合路器不支持长期演进LTE频段故障、支路器件故障、天线老化故障、天线施工与设计不一致故障。5.根据权利要求2-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述弱覆盖根因节点定位算法包括以下判定中的至少一种：当射频拉远单元RRU下挂天线点故障率大于等于天线故障率门限，且RRU无质量告警时，判定RRU隐性故障或者主干合路器故障；当RRU下挂天线点故障率小于天线故障率门限，且弱覆盖楼层数大于等于弱覆盖楼层数门限时，判定分布系统被破坏故障；当WLAN-LTE-Combiner参数置1，LTE弱覆盖楼层和无线接入点AP覆盖楼层的重叠度大于等于LTE弱覆盖楼层的门限，且所述重叠度大于等于合路AP覆盖楼层的门限时，判定WLAN合路器不支持LTE频段；当楼层内天线点故障率数小于天线故障率门限，且功分器下挂天线点或者耦合器下挂天线点全部故障时，判定支路器件故障；当最强天线点参考信号接收功率RSRP小于天线功率低RSRP判决门限，天线点上级节点无故障，且小区入网时间大于等于小区入网天数时，判定天线老化故障；当天线点RSRP大于天线故障RSRP判决门限，且天线设计位置和实际位置偏差值大于天线位置偏差门限时，判定天线安装位置不对故障；当小区入网时间小于小区入网天数，且最强天线点RSRP小于天线功率低RSRP判决门限时，判定天线漏装故障。6.一种室内覆盖天线的验收装置，其特征在于，包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：李素华，蔡万强，
申请(专利权)人：中国移动通信集团湖北有限公司，中国移动通信集团公司，
类型：发明
国别省市：湖北,42