一种元器件测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术实施例公开了一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，所述元器件测试装置包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：所述测试点调节组件设置于所述基板上；所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节机构驱动相对于所述基板的表面可移动。本实用新型专利技术所提供的一种元器件测试装置，利用三维可调节的测试点调节组件来调整用于对待测对象进行测试的测试端位置，且同时使得测试端对测试点具有预定的夹持力来实现测试夹紧过程，实现简单且可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种元器件测试装置
本技术涉及一种测试装置，特别地涉及一种元器件测试装置，属于电路测试

技术介绍
纹波是叠加在直流信号上的交流干扰信号，是电源测试中的一个很重要的标准，因此，对电路板上的电源纹波进行测试也是电路板性能测试中的关键步骤。现有技术中，在对电路板上的电源纹波进行测试时，为了能够对用电器件附近的真实用电情况进行充分测试，通常都会选取在用电器件的电源附近的电容作为测试对象。但是，如果待测试对象为比较小体积的器件，比如04020201封装的电容，通过一般的探头进行探测时测试点接触操作往往比较困难，而且人工操作容易出现失误。另一方面，当前使用的测试探头中，信号探测点是一个固定的金属探针，而接地点为一个弹簧结构的柔性探针，使用时一般将固定的金属探针接触在电容一端，而另一端借用弹簧的张力实现各种尺寸电容的匹配，该结构虽然可以适用于多种尺寸，甚至小尺寸电容的测试，但是柔性探针不容易操作，对于测试人员要求较高，否则不能保证整个测试过程中的可靠性。
技术实现思路
本技术提供一种元器件测试装置，解决现有技术中无法对小体积元器件进行可靠测试的技术问题。本技术实施例提供一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，所述元器件测试装置还包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：所述测试点调节组件设置于所述基板上；所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节机构驱动相对于所述基板的表面可移动。可选地，所述测试点调节组件包括：平动方向相互垂直的X方向平动机构、Y方向平动机构和Z方向平动机构，其中：所述X方向平动机构设置于所述基板上；所述Z方向平动机构设置于所述X方向平动机构之上，由所述X方向平动机构驱动其在X方向移动；所述Y方向平动机构设置于Z方向平动机构之上，由所述Z方向平动机构驱动其在Z方向移动；所述夹持组件设置于所述Y方向平动机构之上，由所述Y方向平动机构驱动其在Y方向移动。可选地，所述夹持组件包括：设置于所述测试点调节组件上的支撑板，所述支撑板上设置有可相向运动且均向所述基板表面延伸设定距离的两个测试夹持板，所述测试夹持板的相对表面分别设置有测试端。可选地，所述测试端所在表面设置有压力传感器。可选地，所述两个测试夹持板分别为固定夹持板和移动夹持板，所述固定夹持板固定于所述支撑板，所述移动夹持板可以向所述固定夹持板运动。可选地，所述测试夹持为T型结构。可选地，所述测试夹持板的底面设置有内凹槽，所述的内凹槽的底面设置有初始长度大于内凹槽深度但压缩长度可小于内凹槽深度的弹簧，所述的弹簧自由端固定有可嵌入所述内凹槽的底挡板。进一步可选地，所述内凹槽的底面沿中心轴线设置有两个弹簧。进一步可选地，所述内凹槽底面设置有测距传感器，在所述测距传感器的测距媒介通行线路对应的所述底挡板位置设置有通孔。进一步可选地，所述测试夹持板的侧面设置有侧凹槽，所述的侧凹槽的底面设置有初始长度大于侧凹槽深度但压缩长度可小于侧凹槽深度的弹簧，所述的弹簧自由端固定有可嵌入所述侧凹槽的侧挡板，所述侧挡板外侧面设置有测试端。本技术所提供的一种元器件测试装置，利用三维可调节的测试点调节组件来调整用于对待测对象进行测试的测试端位置，且同时使得测试端对测试点具有预定的夹持力来实现测试夹紧过程，实现简单且可靠。本技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本技术而了解。本技术的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。附图说明附图用来提供对本技术技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本技术的技术方案，并不构成对本技术技术方案的限制，并且附图中的所有尺寸只是示意性的而并未按照比例示出。图1为本技术实施例的一种元器件测试装置的结构示意图；图2为本技术实施例中夹持组件的示意图；图3为图2中所示出的夹持板的P向视图。具体实施方式下文中将结合附图对本技术的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。参见图1，本技术实施例提出了一种元器件测试装置，包括：基板1，设置于所述基板1上的测试点调节组件2，以及设置于所述测试点调节组件2上的夹持组件3，所述夹持组件3由所述测试点调节组件2驱动相对于所述基板1的表面可移动；其中：所述基板1上设置有固定其上有待测试对象的待测试电路板的定位件11；该定位件11可以是相对尺寸可调节的，也可以是位置确定的，这可以根据待测试场景确定，此处并不限定，定位件11的个数图中示出为4个也仅仅是示意性的，对于定位件11的设置只要能够实现对于待测电路板的固定即可；所述测试点调节组件2，包括平动方向相互垂直的X方向平动机构、Y方向平动机构和Z方向平动机构，所述X方向和所述Y方向为与所述基板1上安装待测试电路板的平面平行的方向，而所述Z方向为与所述基板1上安装待测试电路板的平面垂直的方向，其中：所述X方向平动机构设置于所述基板1上，所述Z方向平动机构设置于所述X方向平动机构之上，由所述X方向平动机构驱动其在X方向移动；所述Y方向平动机构设置于Z方向平动机构之上，由所述Z方向平动机构驱动其在Z方向移动；较优选的，其中的X方向平动机构设置于邻近所述基板1的一个侧面，以使得所述基板1的表面积可以较为有效地利用；所述夹持组件2，用于完成对待测试元器件夹持、预夹紧、完全夹紧的全过程，以形成对待测试对象的充分夹持，其可以如图1中所示出的设置于所述Y方向平动机构上，由所述Y方向平动机构驱动其在Y方向移动；具体的，参考图2所示，所述夹持组件2包括：支撑板21，设置于所述测试点调节组件上，且沿着夹持方向延伸，所述夹持方向为所述待测试元器件的夹持方向(即：与测试电路板的平面平行但朝向待测试元器件的测试点的方向)，为了更好地说明，图2中仅示意性地示出了位于两个夹持板之间的待测试元器件100，夹持方向可以是，例如，图1中所示出为X方向，当然也可能是Y方向，其可能与固定支撑板21的某个方向平动机构同向也可能与该方向平动机构垂直，并且对于待测试元器件在测试点的夹持，由于电路板在所述基板1上的固定位置是可能成角度改变的，因此，夹持方向只是为了表述两个测试夹持板相对运动的方向而设置，而无特定的方向指向。两个测试夹持板22、23，设置于所述支撑板21上，且可相向运动并均向所述基板1的表面延伸一段距离(例如，不小于1mm，这可以由本领域技术人员根据待测对象设置)，所述测试夹持板22、23的相对表面分别设置有夹持待测试对象100测试点的测试端(典型的，测试端可以设置为测试极板结构)，所述测试端与外部可形成电连接。较佳的，所述测试端所在表面设置有压力传感器(图中未示出)，以指示测试端相对于所述待测试对象的测试点是否已经达到预设的夹紧力，预设的夹紧力为保证可靠测试所需的测试端所承受的压力，该压力传感器的设置使得测试距离不再完全依靠于人为判断。由此，利用上述元器件测试装置对选定元器件进行测试的过程如下：将包括待测试对象的测试电路板安装到所述基板1上，且所述待测试对象的测试点夹持方向与所述装置的夹持方向一致；调节所述测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，其特征在于，所述元器件测试装置还包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：所述测试点调节组件设置于所述基板上；所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节组件驱动相对于所述基板的表面可移动。

【技术特征摘要】
1.一种元器件测试装置，包括与待测试元器件可形成电连接的测试端，其特征在于，所述元器件测试装置还包括：基板、测试点调节组件和夹持组件，其中：所述测试点调节组件设置于所述基板上；所述夹持组件设置于所述测试点调节组件上，且由所述测试点调节组件驱动相对于所述基板的表面可移动。2.如权利要求1所述的元器件测试装置，其特征在于，所述测试点调节组件包括：平动方向相互垂直的X方向平动机构、Y方向平动机构和Z方向平动机构，其中：所述X方向平动机构设置于所述基板上；所述Z方向平动机构设置于所述X方向平动机构之上，由所述X方向平动机构驱动其在X方向移动；所述Y方向平动机构设置于Z方向平动机构之上，由所述Z方向平动机构驱动其在Z方向移动；所述夹持组件设置于所述Y方向平动机构之上，由所述Y方向平动机构驱动其在Y方向移动。3.根据权利要求1或2所述的元器件测试装置，其特征在于，所述夹持组件包括：设置于所述测试点调节组件上的支撑板，所述支撑板上设置有可相向运动且均向所述基板表面延伸设定距离的两个测试夹持板，所述测试夹持板的相对表面分别设置有测试端。4.根据权利要求3所述的元器件测试装置，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨校华，刘兵，李旭东，
申请(专利权)人：瑞斯康达科技发展股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京,11