接触测试构件及接触测试装置制造方法及图纸

技术编号:17370717 阅读:33 留言:0更新日期:2018-03-01 05:22
本实用新型专利技术涉及一种接触测试构件,包括壳体、一接触弹片和至少一传导弹片,各传导弹片均收容于壳体内且依次连接,接触弹片穿设于壳体上且位于壳体内的插拔端由其中一所述传导弹片压靠抵紧在壳体的内壁上。另外还涉及一种接触测试装置,包括上述接触测试构件以及用于驱动接触弹片靠近或远离测试位的驱动机构。接触弹片由于是穿设在壳体上,并且由传导弹片压靠抵紧在壳体内,而传导弹片本身具有的可压缩性使得其既可以依靠弹力压紧接触弹片,也可以容许接触弹片插入,从而实现接触弹片可插拔连接在壳体上,方便更换、安装,使得本接触测试构件在损坏时能够快速维修。

Contact test component and contact testing device

The utility model relates to a contact test component, which comprises a shell, a contact spring and at least one piece from each piece of missile, missile is accommodated in the shell and connected contact spring is arranged on the shell and put in the shell end plug by one of the film pressed against the missile in the inner wall of the shell on. In addition, a contact testing device is also involved, including the above contact test components and driving mechanism for driving contact shrapnel near or away from the test bit. Contact spring because it is put on the shell, and pressed tightly in the shell by a missile, and pass the missile itself may have the compressibility which makes them not only can rely on an elastic pressing contact with shrapnel, but also can allow the contact spring insert, so as to realize the contact spring plug connected to the casing, convenient replacement, the installation, contact the test component to the rapid repair when damaged.

【技术实现步骤摘要】
接触测试构件及接触测试装置
本技术涉及一种接触测试构件及接触测试装置。
技术介绍
在一些生产线测试台位,需要使用接触的方法连接样品的连接点进行测试,并且使用频率很高。普通的连接器由于其材料和结构的限制,要么寿命达不到要求,要么维修难度高。
技术实现思路
本技术实施例涉及一种接触测试构件及接触测试装置,至少可解决现有技术的部分缺陷。本技术实施例涉及一种接触测试构件,包括壳体、一个接触弹片和至少一个传导弹片,各所述传导弹片均收容于所述壳体内且依次连接,所述接触弹片穿设于所述壳体上且位于所述壳体内的插拔端由其中一所述传导弹片压靠抵紧在所述壳体的内壁上。作为实施例之一,所述壳体具有一安装侧壁,所述安装侧壁上开设有一个插拔槽,所述插拔槽贯通所述安装侧壁的其中一侧边缘并形成一贯通端口,所述插拔槽的其中一槽壁上设有插拔口且通过所述插拔口与其中一所述传导弹片所在的收容腔导通,所述接触弹片部分收容于所述插拔槽内,所述插拔端穿过所述插拔口并与对应的所述传导弹片压靠抵接。作为实施例之一,所述安装侧壁上还开设有至少一个收容槽,所述收容槽与所述传导弹片的数量相同且一一对应收容,各所述收容槽依照各所述传导弹片的连接方向依次设置,相邻两所述收容槽相互导通,每一所述传导弹片的相应端伸入至相邻的所述收容槽内并与该收容槽内的传导弹片连接;所述插拔口与其中一所述收容槽连通,所述插拔端由对应的所述传导弹片压靠抵紧在对应的所述收容槽的槽壁上。作为实施例之一,各所述传导弹片均蛇形卷取收容在对应的所述收容槽内。作为实施例之一,所述插拔口与所述贯通端口正对设置。作为实施例之一,所述插拔槽具有第一插拔槽壁和第二插拔槽壁,所述第一插拔槽壁连接于所述第二插拔槽壁的内侧端部上,所述插拔口开设于所述第一插拔槽壁上,所述第二插拔槽壁向所述壳体外延伸形成有第一抵靠壁,所述接触弹片蛇形卷取,所述接触弹片的板面与所述第一抵靠壁的壁面平行。作为实施例之一,所述第一抵靠壁上凸设有第二抵靠壁,所述第二抵靠壁与所述第一插拔槽壁位于所述第二插拔槽壁的同一侧,所述第二抵靠壁的长度小于所述第一插拔槽壁的长度,所述接触弹片部分承托于所述第二抵靠壁上。本技术实施例涉及一种接触测试装置,包括如上所述的接触测试构件以及用于驱动所述接触弹片靠近或远离测试位的驱动机构,所述驱动机构与所述壳体连接。作为实施例之一,所述驱动机构包括安装架、转轴和配重块,所述壳体通过所述转轴可转动安装于所述安装架上,所述转轴的轴向平行于所述接触弹片的板面,所述配重块连接于所述壳体的一端,所述壳体、所述转轴及所述配重块构成一个以所述转轴为支点的杠杆结构,所述配重块与所述接触弹片分别位于所述杠杆结构的施力端和阻力端。作为实施例之一,所述接触测试构件为多组,所述驱动机构的输出端连接有一同步结构,各所述壳体均与所述同步结构连接。本技术实施例至少具有如下有益效果:接触弹片由于是穿设在壳体上,并且由传导弹片压靠抵紧在壳体内,而传导弹片本身具有的可压缩性使得其既可以依靠弹力压紧接触弹片,也可以容许接触弹片插入,从而实现接触弹片可插拔连接在壳体上,方便更换、安装,使得本接触测试构件在损坏时能够快速维修。采用该接触测试构件的接触测试装置通过设置驱动机构,需要进行测试时带动接触弹片运动至测试位,测试完成后带动接触弹片自动复位,保证本接触测试装置的可持续使用。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本技术实施例提供的接触测试构件的结构示意图;图2为本技术实施例提供的接触弹片的结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本技术保护的范围。实施例一如图1和图2,本技术实施例提供一种接触测试构件,包括壳体1、一个接触弹片2和至少一个传导弹片3,各所述传导弹片3均收容于所述壳体1内且依次连接,所述接触弹片2穿设于所述壳体1上且位于所述壳体1内的插拔端由其中一所述传导弹片3压靠抵紧在所述壳体1的内壁上。无疑义地,上述接触弹片2及各传导弹片3均为可导电弹片,接触弹片2用于与待测试样品进行接触,各传导弹片3则用于连接电导线以连接相应的测试仪器;本实施例中,仅使用一个传导弹片3即可。上述的接触弹片2由于是穿设在壳体1上,并且由传导弹片3压靠抵紧在壳体1内,而传导弹片3本身具有的可压缩性使得其既可以依靠弹力压紧接触弹片2,也可以容许接触弹片2插入,从而实现接触弹片2可插拔连接在壳体1上,方便更换、安装,使得本接触测试构件在损坏时能够快速维修。接续该接触测试构件的结构,如图1,所述壳体1具有一安装侧壁,所述安装侧壁上开设有一个插拔槽111,所述插拔槽111贯通所述安装侧壁的其中一侧边缘并形成一贯通端口,该贯通端口作为插拔槽111的一个开口,可作为接触弹片2深入该插拔槽111的通道,所述插拔槽111的其中一槽壁上设有插拔口且通过所述插拔口与其中一所述传导弹片3所在的收容腔导通,所述接触弹片2部分收容于所述插拔槽111内,所述插拔端穿过所述插拔口并与对应的所述传导弹片3压靠抵接。上述接触弹片2部分收容于插拔槽111内,位于插拔槽111外的部分则用于与待测试样品接触,其可以是引出部分弹片板体,该引出的部分弹片板体可以借由外设的支撑板支撑以便在与样品接触时不至于变形弯折而与样品脱离,该支撑板可固定在壳体1上或安装在测试位旁;本实施例中,采取如下的优选结构:如图1,所述插拔槽111具有第一插拔槽壁1111和第二插拔槽壁1112,所述第一插拔槽壁1111连接于所述第二插拔槽壁1112的内侧端部上,所述插拔口开设于所述第一插拔槽壁1111上,所述第二插拔槽壁1112向所述壳体1外延伸形成有第一抵靠壁1114,所述接触弹片2蛇形卷取,所述接触弹片2的板面与所述第一抵靠壁1114的壁面平行。如图2,接触弹片2包括插拔部分21和卷取部分22,插拔部分21穿设在插拔口上且其插拔端进入传导弹片3所在的收容腔内(图1中的收容槽112),卷取部分22则部分收容于插拔槽111中,部分露出于该插拔槽111外用于与样品接触。由于插拔槽111一端贯通安装侧壁的其中一侧边缘,上述第二插拔槽壁1112即为延伸至该插拔槽111所贯通的安装侧壁的边缘处的侧壁,则该第二插拔槽壁1112的内侧即为其远离上述贯通端口的一侧,也即其远离壳体1外部的一侧,而上述的第一抵靠壁1114为自该第二插拔槽壁1112的外侧端部继续向外延伸形成的壁体,该第一抵靠壁1114与第二插拔槽壁1112为一体成型结构,与第二插拔槽壁1112的壁面平滑拼接,该第一抵靠壁1114用于对接触弹片2进行支撑,以便该接触弹片2在与样品接触时不至于变形弯折而与样品脱离。接触弹片2初始状态下可以与该第一抵靠壁1114接触也可以本文档来自技高网...
接触测试构件及接触测试装置

【技术保护点】
一种接触测试构件,其特征在于:包括壳体、一个接触弹片和至少一个传导弹片,各所述传导弹片均收容于所述壳体内且依次连接,所述接触弹片穿设于所述壳体上且位于所述壳体内的插拔端由其中一所述传导弹片压靠抵紧在所述壳体的内壁上。

【技术特征摘要】
1.一种接触测试构件,其特征在于:包括壳体、一个接触弹片和至少一个传导弹片,各所述传导弹片均收容于所述壳体内且依次连接,所述接触弹片穿设于所述壳体上且位于所述壳体内的插拔端由其中一所述传导弹片压靠抵紧在所述壳体的内壁上。2.如权利要求1所述的接触测试构件,其特征在于:所述壳体具有一安装侧壁,所述安装侧壁上开设有一个插拔槽,所述插拔槽贯通所述安装侧壁的其中一侧边缘并形成一贯通端口,所述插拔槽的其中一槽壁上设有插拔口且通过所述插拔口与其中一所述传导弹片所在的收容腔导通,所述接触弹片部分收容于所述插拔槽内,所述插拔端穿过所述插拔口并与对应的所述传导弹片压靠抵接。3.如权利要求2所述的接触测试构件,其特征在于:所述安装侧壁上还开设有至少一个收容槽,所述收容槽与所述传导弹片的数量相同且一一对应收容,各所述收容槽依照各所述传导弹片的连接方向依次设置,相邻两所述收容槽相互导通,每一所述传导弹片的相应端伸入至相邻的所述收容槽内并与该收容槽内的传导弹片连接;所述插拔口与其中一所述收容槽连通,所述插拔端由对应的所述传导弹片压靠抵紧在对应的所述收容槽的槽壁上。4.如权利要求3所述的接触测试构件,其特征在于:各所述传导弹片均蛇形卷取收容在对应的所述收容槽内。5.如权利要求2所述的接触测试构件,其特征在于:所述插拔口与所述贯通端口正对设置。6.如权利要求2...

【专利技术属性】
技术研发人员:周童
申请(专利权)人:武汉华工正源光子技术有限公司
类型:新型
国别省市:湖北,42

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