一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统，所述方法包括：在测试系统的电源设置模块中增加辅助电源，并且对辅助电源的管脚配置进行设置；在相应的电源设置模块中分别设置辅助电源的电压值、限流、延迟参数；将待测电平转换器的相应接口连接到测试系统中，且将待测电平转换器的输出接口均分别通过电阻连接到辅助电源上；按照测试需求，建立待测电平转换器的测试流程并在测试系统中选取相应的测试方法进行电平转换器的测试。所述TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统通过新增辅助电源并且相应的设置参数，使得测试系统能够满足电平转换器的测试需求，进而完成电平转换器的各项测试，提高了电平转换器性能测试的稳定性和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统
本专利技术涉及电平转换器测试的
，特别是指一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统。
技术介绍
TTL(Transister-Transister-Logic)电路是指晶体管-晶体管逻辑电路，是数字集成电路的一大门类。TTL电路采用双极型工艺制造，具有高速度低功耗和品种多等特点。ECL(EmitterCoupleLogic)电路是指射极耦合逻辑集成电路，与TTL电路不同，ECL电路的最大特点是其基本门电路工作在非饱和状态。所以，ECL电路的最大优点是具有相当高的速度，这种电路的平均延迟时间可达几个毫微秒甚至亚毫微秒数量级。这使得ECL集成电路在高速和超高速数字系统中具有较大的优势，能够广泛用于数字通信、雷达等领域。在新一代电子电路设计中，随着低电压逻辑的引入，系统内部常常出现输入/输出逻辑不协调的问题，从而提高了系统设计的复杂性。例如，当1.8V的数字电路与工作在3.3V的模拟电路进行通信时，需要首先解决两种电平的转换问题，这时就需要通过电平转换器来实现这一功能。同时，随着不同工作电压的数字IC的不断涌现，逻辑电平转换的必要性更加突出，电平转换方式也将随逻辑电压、数据总线的形式(例如4线SPI、32位并行数据总线等)以及数据传输速率的不同而改变。但是，对于TTL到差分ECL的电平转换器来说，由于其输出为差分ECL信号，所以功能及交直流参数的测试条件比较特殊。从而导致常见的测试系统有时候不能满足某些TTL到差分ECL的电平转换器的测试需求，例如J750测试系统的数字通道电压范围为-1V至6V，截止电压的最小值为-1V；MagnumII测试系统的数字通道电压范围为-1.5V至6.5V；MagnumV测试系统的数字通道电压范围为-1.5V至4.5V；T5385ES测试系统的数字通道电压范围为-1.5V至5V；M5S测试系统的数字通道电压范围为-1.5V至6.5V。这些测试系统的截止电压最小值均为-1.5V或-1V，而有一些TTL到差分ECL的电平转换器的测试条件为“50ohmto-2V”，也即需要的测试电压为-2V，若是现有测试系统不能满足电平转换器的测试条件，将会影响这一类电平转换器逻辑功能、交流参数以及直流参数VOH、VOL等的测试。进而给这一类电平转换器的使用带来不便。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提出一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统，使得测试系统能够满足电平转换器的测试需求。基于上述目的本专利技术提供的一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法，包括：在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源，并且对辅助电源的管脚配置进行设置；在辅助电源相应的电源设置模块中分别设置辅助电源的电压值、限流、延迟参数；将待测电平转换器的相应接口连接到测试系统中，且将待测电平转换器的输出接口均分别通过电阻连接到辅助电源上；按照测试需求，建立待测电平转换器的测试流程并在测试系统中选取相应的测试方法进行电平转换器的测试。可选的，所述在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源的步骤之前还包括：判断待测电平转换器的测试电压是否超出测试系统数字通道的电压范围，若是，则执行在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源的步骤；否则，直接进行待测试电平转换器的测试。可选的，所述测试系统为V93000测试系统，所述待测电平转换器为SY100ELT24。进一步，所述待测电平转换器SY100ELT24与测试系统V93000的连接方式为：测试系统的电源通道DPS1、DPS2分别连接到待测电平转换器的正负电源电压管脚VCC、VEE；测试系统的数字通道1连接到待测电平转换器的输入信号管脚D；待测电平转换器的输出信号管脚Q、分别连接到测试系统的数字通道2和数字通道3，同时所述输出信号管脚Q、分别通过一个电阻串联到增加的辅助电源DPS3中。进一步，在所述V93000测试系统中，所述辅助电源的限流、延时参数通过电平定义功能中的DPS模块设置。可选的，所述管脚配置包括：名称定义、编号设置、类型设置、测试通道设置以及极性设置。本专利技术还提供了一种TTL到ECL的电平转换器的测试系统，包括：电平转换器，用于将TTL信号转换为ECL信号，作为系统的待测模块；测试系统，用于给电平转换器提供电源并输入TTL信号，接收电平转换器输出的ECL信号，进而测试电平转换器的性能；其中，在所述测试系统中按照电平转换器的测试需求添加一个辅助电源，并且相应的设置辅助电源的电压值、限流、延迟参数；在测试时，将电平转换器的相应管脚与测试系统的相应管脚相互连接，然后将电平转换器的输出管脚均分别通过电阻串联到增加的辅助电源中。从上面所述可以看出，本专利技术提供的一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统，通过在测试系统的电源设置模块中添加辅助电源，并且对辅助电源的参数和管脚相应的设置，通过将添加的辅助电源通过电阻分别连接到待测电平转换器的输出接口，进而能够满足电平转换器的测试需求，最后按照测试需求，建立待测电平转换器的测试流程并在测试系统中选取相应的测试方法进行电平转换器的测试。本专利技术所述的TTL到ECL的电平转换器的测试方法及系统通过新增辅助电源并且相应的设置参数，使得测试系统能够满足电平转换器的测试需求，进而完成电平转换器的各项测试，极大地保证了电平转换器性能测试的稳定性和可靠性。附图说明图1为本专利技术提供的一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法的实施例的流程图；图2为本专利技术提供的一种TTL到ECL的电平转换器的测试系统的实施例的结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术进一步详细说明。需要说明的是，本专利技术实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本专利技术实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。参照图1所示，为本专利技术提供的一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法的实施例的流程图。所述TTL到ECL的电平转换器的测试方法，包括：步骤101，在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源，并且对辅助电源的管脚配置进行设置；其中，所述测试系统是指常见可用的测试系统，例如：V93000测试系统、MagnumII测试系统、MagnumV测试系统、T5385ES测试系统、M5S测试系统。所述电源设置模块是指对应系统中用于设置电源通道的模块，能够设置增删电源以及相应的设置这些电源的参数。在原始的测试系统中通常具有多个电源通道管脚以及数字通道管脚等等用于测试的通道或管脚，需要测试人员预先在测试系统中相应的设置这些管脚的参数才能相应的实现测试功能。步骤102，在辅助电源相应的电源设置模块中分别设置辅助电源的电压值、限流、延迟参数；其中，需要根据待测电平转换器的测试条件，相应的设置增加的辅助电源的电压值、限流参数、延迟参数等等相关参数。例如：待测电平转换器的测试条件包含-2V的电压，则相应的辅助电源的电压值设置为-2V。所述限流参数、延迟参数的设置起到保护、限制的作用，使得测试过程更加稳定、可靠。步骤103，将待测电平转换器的相应接口连接到测试系统中，且将待测电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法，其特征在于，包括：在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源，并且对辅助电源的管脚配置进行设置；在辅助电源相应的电源设置模块中分别设置辅助电源的电压值、限流、延迟参数；将待测电平转换器的相应接口连接到测试系统中，且将待测电平转换器的输出接口均分别通过电阻连接到辅助电源上；按照测试需求，建立待测电平转换器的测试流程并在测试系统中选取相应的测试方法进行电平转换器的测试。

【技术特征摘要】
1.一种TTL到ECL的电平转换器的测试方法，其特征在于，包括：在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源，并且对辅助电源的管脚配置进行设置；在辅助电源相应的电源设置模块中分别设置辅助电源的电压值、限流、延迟参数；将待测电平转换器的相应接口连接到测试系统中，且将待测电平转换器的输出接口均分别通过电阻连接到辅助电源上；按照测试需求，建立待测电平转换器的测试流程并在测试系统中选取相应的测试方法进行电平转换器的测试。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源的步骤之前还包括：判断待测电平转换器的测试电压是否超出测试系统数字通道的电压范围，若是，则执行在测试系统的电源设置模块中增加一个辅助电源的步骤；否则，直接进行待测试电平转换器的测试。3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述测试系统为V93000测试系统，所述待测电平转换器为SY100ELT24。4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述待测电平转换器SY100ELT24与测试系统V93000的连接方式为：测试系统的电源通道DPS1、DPS2分别连接到待测电...

【专利技术属性】
技术研发人员：张晓羽，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：北京,11