一种对模拟波形进行分组测量的方法技术

一种对模拟波形进行分组测量的方法，包括以下步骤：从模拟波形中，确定参考波形；根据测量类型，确定所述参考波形的参考点；根据所述参考点，计算所述参考波形的测量值；根据距离最近且趋势相同的原则，确定其他波形的对应参考点；根据所述对应参考点，计算所述其他波形的测量值。本发明专利技术的优点是：能够根据不同的测量方式来选择参考点，基本思想一致，但具体实现方法不同，因而可适用于多种测量类型；另外，还允许设置测量的位置以及特定的信号阈值，非常灵活，能满足不同用户的各种需求，因而具有良好的可扩展性和实用性。

A method for grouping analog waveforms

A method of grouping measurement of the analog waveform, which comprises the following steps: from the simulation waveform, determine the reference waveform; according to the types of measurement, to determine the reference waveform reference point; according to the reference point, measuring and calculating the reference waveforms value; and the same trend recently according to the distance principle, determine the corresponding reference some other waveform; according to the corresponding reference point, the other measured waveform value. The advantages of the invention are: to select reference points according to different measuring methods, the basic idea is consistent, but the specific implementation method, which is suitable for various types of measurement; in addition, also allows setting the measurement position and signal threshold, the specific is very flexible and can meet the various needs of different users, which has a good scalability and practicality.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路计算机辅助设计领域，尤其涉及一种模拟波形的测量方法。
技术介绍
在集成电路的设计中，仿真过程产生波形后，通常需要计算波形中体现电路特征的各种属性值，以验证仿真结果的正确性，这个过程中会用到很多种测量（Measure）方法。例如，通过电路设计工具的角分析（Multi-Corner）功能产生的多个网表，仿真结束后将产生一组特征相似的波形，如何准确地得出这些波形之间的细微差异，是波形显示器（Viewer）中需要解决的一个重大难题。波形显示器是用于显示波形信号的数值和形状等特征的工具，它还可以通过各种测量操作（如显示X值、Y值和斜率等）来查看波形的局部细节，以验证仿真结果是否符合要求，是电路设计领域必不可少的工具之一。在用户使用电路设计工具的角分析功能时，将会根据设置的不同类型的模型信息生成多个网表文件（Netlist），并顺序进行仿真。仿真结束后，用户需要波形显示器提供对一组信号进行测量计算的功能，如周期（Period）、频率（Frequency）、占空比（DutyCycle）、脉冲宽度（Width）、时间宽度（Raise/FallTime）及斜率（SlewRate）等，并希望波形显示器能够显示测量结果的分布图。对于大多数的测量计算而言，若只是基于单个波形，都已经有非常确切的定义和成熟的方法，因而很容易实现。但是，将多个波形分为一组进行分组计算时，则涉及到如何选择参考波形并且以此为基础去计算其他波形的测量结果。在仿真过程中，要快速准确地比较一组相似波形之间的细微差异，分组测量（GroupMeasure）是一个非常实用的功能。目前，在集成电路仿真领域，比较常用的波形显示器有：Synopsys公司的CustomWaveView、Cadence公司的WaveScan及Silvaco公司的SmartView。但是对于多个模拟波形的分组测量功能，不少波形显示器还在探索阶段。因此，提出一种对模拟波形进行分组测量的方法，成为亟待解决的问题。
技术实现思路
为了解决现有技术存在的不足，本专利技术的目的在于提供一种对模拟波形进行分组测量的方法，能够快速且准确地计算出一组测量结果，增强波形显示器（Viewer）的可用性。为实现上述目的，本专利技术提供的对模拟波形进行分组测量的方法，包括以下步骤：1）从模拟波形中，确定参考波形；2）根据测量类型，确定所述参考波形的参考点；3）根据所述参考点，计算所述参考波形的测量值；4）根据距离最近且趋势相同的原则，确定其他波形的对应参考点；5）根据所述对应参考点，计算所述其他波形的测量值。进一步地，所述参考波形的数目为一个。进一步地，所述步骤1）进一步包括，根据鼠标点击的位置，确定所述模拟波形中与所述位置最近的波形，并将所述波形作为所述参考波形。进一步地，所述步骤2）中所述测量类型包括：第一类，周期、频率及占空比；第二类，脉冲宽度；及第三类，时间宽度及斜率。进一步地，当所述测量类型为所述第一类，周期、频率及占空比时，在所述参考波形中，选择与鼠标点击的位置最近的阈值点作为所述参考点。进一步地，当所述测量类型为所述第二类，脉冲宽度时，选择鼠标点击的位置作为所述参考点。进一步地，当所述测量类型为所述第三类，时间宽度及斜率时，在所述参考波形中，选择与鼠标点击的位置最近的低阈值点及高阈值点作为所述参考点。进一步地，所述步骤3）所述计算所述参考波形的测量值是在所述参考波形中，选择与所述参考点最近的左、右两个阈值点；再根据所述两个阈值点的x值的差值计算所述参考波形的周期、频率及占空比。进一步地，所述步骤3）所述计算所述参考波形的测量值是在所述参考波形中，选择与所述参考点最近的左、右两个阈值点，再根据所述两个阈值点的x值的差值计算所述参考波形的脉冲宽度。进一步地，所述步骤3）所述计算所述参考波形的测量值是在所述参考波形中，选择第一、第二两个参考点，再根据所述两个参考点的x值的差值计算所述参考波形的时间宽度及斜率。所述步骤4）进一步包括，将所述其他波形中与所述参考波形的参考点趋势相同，且与所述参考波形的参考点距离最近的阈值点，作为所述其他波形的对应参考点。所述步骤4）进一步包括，根据所述参考波形中两个阈值点的x值计算出所述两个阈值点的中间点，作为所述其他波形的对应参考点。所述步骤4）进一步包括，将所述其他波形中与所述参考波形的第一参考点趋势相同，且与所述参考波形的第一参考点距离最近的阈值点作为所述其他波形的第一对应参考点；将所述其他波形中与所述参考波形的第二参考点趋势相同，且与所述参考波形的第二参考点距离最近的阈值点作为所述其他波形的第二对应参考点。进一步地，所述步骤5）所述计算所述其他波形的测量值是在所述其他波形中，选择与所述对应参考点最近的左、右两个阈值点；再根据所述两个阈值点的x值的差值计算所述其他波形的周期、频率及占空比。进一步地，所述步骤5）所述计算所述其他波形的测量值是在所述其他波形中，在所述对应参考点左侧，选择与所述对应参考点最近的且与所述参考波形中左阈值点趋势相同的第一阈值点；再在所述对应参考点右侧，选择与所述对应参考点最近的且与所述参考波形中右阈值点趋势相同的第二阈值点；再根据所述第一阈值点及所述第二阈值点的x值的差值计算所述其他波形的脉冲宽度。进一步地，所述步骤5）所述计算所述其他波形的测量值是在所述其他波形中，选择第一、第二两个对应参考点，再根据所述两个对应参考点的x值的差值计算所述其他波形的时间宽度及斜率。本专利技术的优点是：能够根据不同的测量方式来选择参考点，基本思想一致，但具体实现方法不同，因而可适用于多种测量类型；另外，还允许设置测量的位置以及特定的信号阈值，非常灵活，能满足不同用户的各种需求，因而具有良好的可扩展性和实用性。本专利技术的对模拟波形进行分组测量的方法，针对模拟电路仿真产生的多个波形，提出了一种在波形显示器中对其进行分组测量（GroupMeasure）的方法。它的特点是简单明了，能够快速且准确地计算出一组测量结果，增强了波形显示器的可用性。目前本专利技术可应用的测量，包括但不限于周期（Period）、频率（Frequency）、占空比（DutyCycle）、脉冲宽度（Width）、时间宽度（Raise/FallTime）及斜率（SlewRate）等波形显示器中十分常用的测量功能。本专利技术能够用于查看波形的主要特征，以及快速有效地验证电路仿真的结果。本专利技术提出的对模拟波形进行分组测量的方法，能够快速有效地完成对一组信号的相同特征值的测量，对常用的几种测量功能，如占空比、脉冲宽度及时间宽度等，都具有非常准确的结果。尤其适用于在波形显示器中对多个模拟波形进行分组测量，检测一组特征相似的波形之间的微小差异。在实际的工程应用中，此方法可以结合波形显示器的图形化界面，将其差异通过表格和柱状图呈现出来，极大地方便了设计者对仿真结果的验证。本专利技术的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。附图说明附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，并与本专利技术的实施例一起，用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：图1为根据本专利技术的对模拟波形进行分组测量的方法流程图；图2为根据本专利技术的分组测量方法的周期本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：1）从模拟波形中，确定参考波形；2）根据测量类型，确定所述参考波形的参考点；3）根据所述参考点，计算所述参考波形的测量值；4）根据距离最近且趋势相同的原则，确定其他波形的对应参考点；5）根据所述对应参考点，计算所述其他波形的测量值。

【技术特征摘要】
1.一种对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：1）从模拟波形中，确定参考波形；2）根据测量类型，确定所述参考波形的参考点；3）根据所述参考点，计算所述参考波形的测量值；4）根据距离最近且趋势相同的原则，确定其他波形的对应参考点；5）根据所述对应参考点，计算所述其他波形的测量值。2.根据权利要求1所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于：所述参考波形的数目为一个。3.根据权利要求1所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于，所述步骤1）进一步包括，根据鼠标点击的位置，确定所述模拟波形中与所述位置最近的波形，并将所述波形作为所述参考波形。4.根据权利要求1所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于，所述步骤2）中所述测量类型包括：第一类，周期、频率及占空比；第二类，脉冲宽度；及第三类，时间宽度及斜率。5.根据权利要求4所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于：当所述测量类型为所述第一类，周期、频率及占空比时，在所述参考波形中，选择与鼠标点击的位置最近的阈值点作为所述参考点。6.根据权利要求4所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于：当所述测量类型为所述第二类，脉冲宽度时，选择鼠标点击的位置作为所述参考点。7.根据权利要求4所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于：当所述测量类型为所述第三类，时间宽度及斜率时，在所述参考波形中，选择与鼠标点击的位置最近的低阈值点及高阈值点作为所述参考点。8.根据权利要求1所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于：所述步骤3）所述计算所述参考波形的测量值是在所述参考波形中，选择与所述参考点最近的左、右两个阈值点；再根据所述两个阈值点的x值的差值计算所述参考波形的周期、频率及占空比。9.根据权利要求1所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于：所述步骤3）所述计算所述参考波形的测量值是在所述参考波形中，选择与所述参考点最近的左、右两个阈值点，再根据所述两个阈值点的x值的差值计算所述参考波形的脉冲宽度。10.根据权利要求1所述对模拟波形进行分组测量的方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭根华，王晓光，张卫卫，袁振江，
申请(专利权)人：北京华大九天软件有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11