一种测试针装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种测试针装置，包括用于引入被测信号的测试头组件、与所述测试头组件连接并形成电连接的信号传导组件、以及至少包围所述测试头组件与所述信号传导组件之间的连接部分的信号屏蔽组件。本实用新型专利技术通过增加信号屏蔽组件，在保证测试信号能精准的采集传输的同时还能屏蔽外来的干扰信号，从而增加了测试针的可靠性，使得本测试针装置拥有更加宽广的运用范围。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及印制电路板测试领域，具体涉及一种测试针装置。
技术介绍
对于现代的电子产品，生产数量非常庞大，制造商为确保生产出来的电路板功能正常，必须对电路板进行一轮测试，以此提高产品的生产效率和生产品质，因此需要相应的电路板测试工具。常用的电路板测试工具有很多：万用表、示波器、信号源、测试针等。考虑到生产效率，我们常采用测试针来对大规模生产的电路板进行测试。在电路板批量生产过程中需要自动测试的时候，需要我们将测试针接触到电路板上的测试点，然后对测试点的信号进行测试，但若被测的信号为容易受到干扰的敏感信号，那么信号被测试针引出来时没有进行屏蔽则存在测试引入干扰的可能。因此，亟待一种带屏蔽功能的测试针装置，来克服上述缺陷。
技术实现思路
本技术的目的是，提供一种测试针装置，其适用于在电路板批量生产过程中需要自动测试时对测试点进行测量，同时相对于其他的测试针则具有屏蔽外来干扰信号保护被测信号，增加测试针的测量精准度的优点。为了达到上述目的，本技术采用如下技术方案；提供一种测试针装置，包括用于引入被测信号的测试头组件、与所述测试头组件连接并形成电连接的信号传导组件、以及至少包围所述测试头组件与所述信号传导组件之间的连接部分的信号屏蔽组件。较佳的，所述信号屏蔽组件包括包围所述连接部分设置的绝缘层以及包围所述绝缘层设置的金属屏蔽层。在一种实施方式中，所述金属屏蔽层包括套设在所述绝缘层上的第一金属套管。在另一种实施方式中，所述金属屏蔽层包括套设在所述绝缘层上的第二金属套管、以及套设在所述第二金属套管上并包围所述第二金属套管的后端的第三金属套管；所述第二金属套管的前端从所述第三金属套管的前端伸出，并包围所述测试头组件；所述第二金属套管可沿所述第三金属套管的轴向前后移动。较佳的，所述测试针装置还包括用于将第二金属套管的后端复位至所述第三金属套管的前端的相应位置的第一复位弹簧。较佳的，所述第一复位弹簧的一端与所述第三金属套管内部抵接，另一端与所述第二金属套管的后端抵接。优选的，所述第二金属套管的后端设有第一凸缘；所述第三金属套管的前端设有与所述第一凸缘配合的第一限位部。较佳的，所述第二金属管的前端设有多个第一凸起部。较佳的，所述信号屏蔽组件包括包围所述连接部分设置的绝缘层以及包围所述绝缘层设置的金属屏蔽层。优选的，所述第一凸起部为齿状。相比于现有技术，本技术的一种测试针装置的有益效果在于：所述测试针装置包括用于引入被测信号的测试头组件、与所述测试头组件连接并形成电连接的信号传导组件、以及至少包围所述测试头组件与所述信号传导组件之间的连接部分的信号屏蔽组件。本测试针装置通过增加信号屏蔽组件，在保证测试信号能精准的采集传输的同时还能屏蔽外来的干扰信号，从而增加了测试针的可靠性，使得本测试针装置拥有更加宽广的运用范围。附图说明图1是本技术第一实施例提供的一种测试针装置的结构示意图；图2是本技术第二实施例提供的一种测试针装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。如图1所示，其是本技术第一实施例提供的一种测试针装置的结构示意图。所述测试针装置包括用于引入被测信号的测试头组件1、与所述测试头组件1连接并形成电连接的信号传导组件2、以及至少包围所述测试头组件1与所述信号传导组件2之间的连接部分的信号屏蔽组件3。本技术第一实施例通过信号屏蔽组件3屏蔽外界游离信号，使得测试头组件1和信号传导组件2工作在无干扰信号的环境中，帮助测试头组件1和信号传导组件2传输信号。这样的设计使得测试针除了可以传输一般信号，还可以传输在易受干扰的敏感信号。较佳的，所述信号屏蔽组件3包括包围所述连接部分设置的绝缘层31以及包围所述绝缘层31设置的金属屏蔽层。所述金属屏蔽层用于屏蔽外界干扰信号，所述绝缘层31的存在是为了防止信号传导组件2和测试头组件1跟所述金属屏蔽层发生电连接，导致信号采取失败甚至烧毁电路板。较佳的，所述金属屏蔽层包括套设在所述绝缘层上31的第一金属套管32。所述信号传导组件2包括第四金属套管21；所述测试头组件1活动地插接在所述第四金属套管21的前端并与所述第四金属套管21电连接。由于所述测试头组件1可以活动地插接在所述第四金属套管21的前端，可以在所述测试头组件1损坏时方便地更换。同时所述信号传导件2与所述测试头组件1是活动的，需要更换所述测试头组件时1便能从所述测试针装置中拆除更换，这样就能在面对不同的电路板需求时更换不同的测试头组件1。较佳的，所述信号传导组件2还包括设置在所述第四金属套管21的后端的固定杆22。需要注意的是，所述固定杆22为金属材质，所述固定杆22在起固定作用的同时起着传输信号的作用。较佳的，所述测试头组件1包括第五金属套管12以及可沿所述第五金属套管12的轴向移动的探头11；所述第五金属套管12包围所述探头11的尾部并与其电连接；所述探头11的头部伸出所述第五金属套管12的前端。在测试过程中，所述探头11可能需要接触电路板上不同高度的测试点，因此通过调整所述探头11的伸出长度，可以方便对不同高度的测试点进行测试。需要说明的是，所述探头11与所述第五金属套管12通过电连接的方式连接，能使得由所述探头11引入的信号能由所述第五金属套管12传入到信号传导组件2。较佳的，所述测试头组件1还包括用于将所述探头11的尾部复位至所述第五金属套管12的前端的相应位置的第二复位弹簧13；所述第二复位弹簧13的一端与所述第五金属套管12内部抵接，另一端与所述探头11的尾部抵接。即所述探头11的尾部可以在所述第五金属套管12内前后移动，并且可以通过所述第二复位弹簧13复位至所述第五金属套管12的前端。通过设置所述第二复位弹簧13可以让所述探头11获得一定的缓冲，使得在测试时不会因为所述探头11的使用而损伤电路板的测试点，同时所述第二复位弹簧13的弹力可以保持所述探头11与测试点之间良好的接触，使所述探头11自适应不同的测试点。较佳的，所述探头11的尾部设有第二凸缘；所述第二金属套管12的前端设有与所述第二凸缘配合的第二限位部。通过所述第二凸缘和所述第二限位部的配合，可以将所述探头11的尾部限制在所述第五金属套管12内，防止所述探头11从所述第五金属套管12脱离。较佳的，所述探头11的头部设有多个第二凸起部111。测试点上可能会有氧化层，导致所述探头11和测试点之间接触不良。影响被测信号的传输，而设置在所述探头11的头部的所述第二凸起部111可以刺穿所述氧化层，使所述探头11与所述测试点之间有良好的接触。优选地，所述第二凸起部111为齿状，从而使所述探头11能更容易的穿过所述氧化层从而使所述探头11与所述测试点之间有更好的接触。本技术的第一实施例工作过程如下：探头11接触测试点，一定的按压使得第二复位弹簧13压缩，同时导致所述探头11对于所述测试点产生挤压，由于第二凸起部111的存在，所述探头11会略微刺入氧化层，使得所述测试点本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试针装置，其特征在于，包括用于引入被测信号的测试头组件、与所述测试头组件连接并形成电连接的信号传导组件、以及至少包围所述测试头组件与所述信号传导组件之间的连接部分的信号屏蔽组件。

【技术特征摘要】
1.一种测试针装置，其特征在于，包括用于引入被测信号的测试头组件、与所述测试头组件连接并形成电连接的信号传导组件、以及至少包围所述测试头组件与所述信号传导组件之间的连接部分的信号屏蔽组件。2.如权利要求1所述的测试针装置，其特征在于，所述信号屏蔽组件包括包围所述连接部分设置的绝缘层以及包围所述绝缘层设置的金属屏蔽层。3.如权利要求2所述的测试针装置，其特征在于，所述金属屏蔽层包括套设在所述绝缘层上的第一金属套管。4.如权利要求2所述的测试针装置，其特征在于，所述金属屏蔽层包括套设在所述绝缘层上的第二金属套管、以及套设在所述第二金属套管上并包围所述第二金属套管的后端的第三金属套管；所述第二金属套管的前端从所述第三金属套管的前端伸出，并包围所...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓良俊，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44