一种光学膜片翘曲度检验装置制造方法及图纸
Optical film warpage test device
An optical film warpage test device comprises a horizontal base, including vertical fixed on the base of the measuring surface, the measurement of the surface with grid scale line; the measuring surface is opened at the top and the base of parallel slide, the slide rail is arranged on the measuring surface and always vertical slide bar, the slide the rod is provided with a slide block, the slide block is provided with a telescopic ruler, the ruler is perpendicular to the base. The utility model has the advantages that the device can reduce the influence of human factors, and can conveniently measure the warpage by measuring the surface and moving the slider.
【技术实现步骤摘要】
本技术属于光学膜片检测领域，具体的说，涉及一种光学膜片翘曲度检验装置。
技术介绍
在现有技术中，光学膜片的质检程序分为在线检和线下检，在线检主要通过一些在线光学检测设备对产品进行光学检测，而后对异常数据进行对比判定，并在产品上进行异常打印；线下检测包括目视检测、树脂黏着度测试、翘曲度测试、保护膜黏度测试、wet-out检验、保护膜入料检验、残胶瑕疵测试、光学量测、可靠度测试、收缩率等测试，其中，翘曲度测试是非常重要的测试项目之一。翘曲的原因有许多种，如温度及湿度的变化、冷热交替冲击、模切等，如果光学膜片发生翘曲，将会影响最终整个背光模组的质量。在现实生产中，光学膜片的翘曲度检验基本都是以将光学膜片放置在水平的平台上而后通过目测的方式完成的，其检验结果受检验者的视线、角度等影响较大。
技术实现思路
本技术旨在提供一种专用于光学膜片翘曲度检验的装置，尽量减少人为误差，使得结果更准确。具体方案如下：一种光学膜片翘曲度检验装置，包括水平底座，还包括垂直固定在底座上的测量面，所述测量面上刻有网格刻度线；所述测量面的顶部开有与底座平行的滑轨，所述滑轨上设有滑杆，所述滑杆上设有滑块，滑块上装有可伸缩的刻度尺，所述刻度尺垂直于底座。进一步地，所述测量面为两个，两个测量面彼此垂直且固定连接。使用本技术所述装置对光学膜片的翘曲度检验，可以最大化的减少人为因素影响，通过测量面以及移动滑块，也可以很方便的测量翘曲量。附图说明图1为本技术所述装置的结构示意图。具体实施方式下面结合说明书附图对本技术作进一步的说明。如图1所示，两个测量面21、22彼此垂直且均垂直固定在底座1上，测量面2...
【技术保护点】
一种光学膜片翘曲度检验装置，包括水平底座，其特征在于：还包括垂直固定在底座上的测量面，所述测量面上刻有网格刻度线；所述测量面的顶部开有与底座平行的滑轨，所述滑轨上设有始终与测量面垂直的滑杆，所述滑杆上设有滑块，滑块上装有可伸缩的刻度尺，所述刻度尺垂直于底座。
【技术特征摘要】
1.一种光学膜片翘曲度检验装置，包括水平底座，其特征在于：还包括垂直固定在底座上的测量面，所述测量面上刻有网格刻度线；所述测量面的顶部开有与底座平行的滑轨，所述滑轨上设有始终与测量面垂...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘勇，
申请(专利权)人：南京贝迪电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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