一种平面波辐射特性检测天线相位中心调节装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种平面波辐射特性检测天线相位中心的调节装置，其该调节装置包括支架、筒式调整部件、横导轨座和纵导轨座；筒式调整部件包括内套筒和通过直线滚珠丝杠与其连接的外套筒，外套筒水平地固设在支架上，内套筒的一端面上设有底座；横导轨座通过直线滚珠丝杠与底座连接，并在接触面设置有相匹配的第一燕尾槽；横导轨座在直线滚珠丝杠的作用下沿第一燕尾槽滑动，横导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度；纵导轨座通过直线滚珠丝杠与横导轨座连接，并在接触面设置有相匹配的第二燕尾槽，纵导轨座沿第二燕尾槽滑动，纵导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度并与横导轨座的滑动方向相垂直。该调节装置受重力影响小，调节精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种平面波辐射特性检测天线相位中心调节装置
本专利技术涉及一种天线相位中心调节机构，特别是涉及一种平面波辐射特性检测天线相位中心调节装置。
技术介绍
紧缩场是采用精密的反射面或微波透镜，在近距离内将馈源发出的球面波变换为平面波的设备，其产生的准平面波可充分满足天线、天线罩电磁特性及目标RCS测试的环境要求。对紧缩场静区性能校准有多种方法，国际上最通用的方法是探头扫描法，即用标准探头天线直接对紧缩场测试区平面波场的幅度和相位进行测试评估，在探头天线扫描法中，根据国际惯例和实际情况，通常只对静区的典型截面和典型方位上进行检测。探头扫描法的实施过程中，测试设备的一些性能指标都会成为紧缩场性能的影响因素，如探头天线的移动稳定性等。紧缩场测试的频率覆盖范围在0.3GHz～40GHz，频带非常宽，对于不同频段的接收探头天线以及同一探头天线的不同频点，其相位中心都是变化的，在紧缩场测试的频率范围内，所涉及到的探头天线的相位中心变化的最大空间位移在10cm～20cm的量级。对紧缩场测试区平面波场的幅度和相位进行测试评估时需要检测同一截面上不同频点的幅相性能，需要不同频点的探头天线相位中心均调节于探测截面上。因此，需要提供一种探头天线相位中心调节机构，该机构能够满足接收探头天线与被检平面位置的一致性的要求，因低频探头天线的结构尺寸较大、重量较重，当低频探头天线安装在相位中心调节机构上时，容易使相位中心调节机构上的竖直方向的调整机构受到重力的影响而产生位移，从而给紧缩场静区性能校准带来误差。本专利技术是根据探头天线辐相特性调节探头天线相位中心的空间位置，以达到接收探头天线相位中心位置补偿的目的，使各频段接收探头天线的相位中心与被检平面位置保持一致，确保紧缩场静区测试结果的准确性(或统一性)。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种平面波辐射特性检测天线相位中心调节装置，该相位中心调解装置受探头天线的重力影响小，测试准确。为解决上述技术问题，本专利技术采用下述技术方案：一种平面波辐射特性检测天线相位中心的调节装置，该调节装置包括支架、筒式调整部件、横导轨座和纵导轨座；所述筒式调整部件包括内套筒和通过直线滚珠丝杠与其连接的外套筒，所述外套筒水平地固设在支架上，所述内套筒的一端位于外套筒的内部，所述内套筒的另一端面上设有底座，所述底座与内套筒的轴线相垂直；所述横导轨座通过直线滚珠丝杠与底座连接，所述横导轨座与底座接触面设置有相匹配的第一燕尾槽；所述横导轨座在直线滚珠丝杠的作用下沿第一燕尾槽滑动，所述横导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度；所述纵导轨座通过直线滚珠丝杠与所述横导轨座连接，所述纵导轨座与横导轨座的接触面设置有相匹配的第二燕尾槽，所述纵导轨座在直线滚珠丝杠的作用下沿第二燕尾槽滑动，所述纵导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度并与横导轨座的滑动方向相垂直。采用上述结构后，检测天线所受到的重力被第一燕尾槽和第二燕尾槽所承担，有效减少了直线滚珠丝杠受检测天线重力的影响，提高测试的精度。优选地，所述内套筒的外侧壁上沿轴线方向对称设有凸台，所述外套筒的内侧壁上设有与所述凸台匹配的凹槽，所述内套筒在直线滚珠丝杠的作用线沿所述凹槽滑动。优选地，所述凸台的横截面为T型形状。优选地，所述直线滚珠丝杠的精度为小于等于0.1mm。本专利技术的有益效果如下：通过本专利技术可以将被测平面内的天线相位调整为一致，统一被测天线参数，起到归一化的作用。并且有效减少了直线滚珠丝杠受检测天线重力的影响，提高测试的精度。附图说明下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步详细的说明。图1示出本专利技术的结构示意图。图2示出本专利技术的筒式调整部件的横截面示意图。图3示出本专利技术的局部结构示意图。具体实施方式为了更清楚地说明本专利技术，下面结合优选实施例和附图对本专利技术做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解，下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的，不应以此限制本专利技术的保护范围。如图1～3所示，一种平面波辐射特性检测天线相位中心调节装置包括支架1、筒式调整部件2、横导轨座3和纵导轨座4。筒式调整部件2包括均为中空的圆筒状的外套筒21和内套筒22，内套筒22位于外套筒21的内部并通过直线滚珠丝杠与外套筒21滑动连接，内套筒22位于外套筒21的外侧端面上固定设置有底座23，底座23垂直于内套筒22的轴线，外套筒21水平地设置在支架1上。内套筒22的外侧壁上沿轴线方向对称设有4个凸台25，凸台25的横截面为T型，外套筒21的内侧壁上设有与凸台25相匹配的凹槽。横导轨座3通过直线滚珠丝杠与底座23滑动连接，并且横导轨座3和底座23的接触面设置有相互匹配的第一燕尾槽24，横导轨座3在直线滚珠丝杠的作用下能够沿第一燕尾槽24滑动，横导轨座3的滑动方向与水平面呈45度。纵导轨座4通过直线滚珠丝杠与横导轨座3滑动连接，并且纵导轨座4和横导轨座3的接触面设置有相互匹配的第二燕尾槽31，纵导轨座4在直线滚珠丝杠的作用下能够沿第二燕尾槽31滑动，纵导轨座4的滑动方向与水平面呈45度，且与横导轨座3的滑动方向相垂直。直线滚珠丝杠的精度为小于等于0.1mm。检测天线固定设置在纵导轨座4上随其移动，因横导轨座3和纵导轨座4的运动方向均是与水平面呈斜向45度，检测天线所受到的重力能够被第一燕尾槽24和第二燕尾槽31分别承担，减小了对直线滚珠丝杠的作用力，因此提高了整个调节装置的运动精度。显然，本专利技术的上述实施例仅仅是为清楚地说明本专利技术所作的举例，而并非是对本专利技术的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本专利技术的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本专利技术的保护范围之列。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种平面波辐射特性检测天线相位中心的调节装置，其特征在于：该调节装置包括支架、筒式调整部件、横导轨座和纵导轨座；所述筒式调整部件包括内套筒和通过直线滚珠丝杠与其连接的外套筒，所述外套筒水平地固设在支架上，所述内套筒的一端位于外套筒的内部，所述内套筒的另一端面上设有底座，所述底座与内套筒的轴线相垂直；所述横导轨座通过直线滚珠丝杠与底座连接，所述横导轨座与底座接触面设置有相匹配的第一燕尾槽；所述横导轨座在直线滚珠丝杠的作用下沿第一燕尾槽滑动，所述横导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度；所述纵导轨座通过直线滚珠丝杠与所述横导轨座连接，所述纵导轨座与横导轨座的接触面设置有相匹配的第二燕尾槽，所述纵导轨座在直线滚珠丝杠的作用下沿第二燕尾槽滑动，所述纵导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度并与横导轨座的滑动方向相垂直。

【技术特征摘要】
1.一种平面波辐射特性检测天线相位中心的调节装置，其特征在于：该调节装置包括支架、筒式调整部件、横导轨座和纵导轨座；所述筒式调整部件包括内套筒和通过直线滚珠丝杠与其连接的外套筒，所述外套筒水平地固设在支架上，所述内套筒的一端位于外套筒的内部，所述内套筒的另一端面上设有底座，所述底座与内套筒的轴线相垂直；所述横导轨座通过直线滚珠丝杠与底座连接，所述横导轨座与底座接触面设置有第一燕尾槽，所述第一燕尾槽开设在底座上，所述横导轨座上设置有与第一燕尾槽相匹配的结构；所述横导轨座在直线滚珠丝杠的作用下沿第一燕尾槽滑动，所述横导轨座的滑动方向与水平面的夹角为45度；所述纵导轨座通过直线滚珠丝杠与所述横导轨座连...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄建领，马永光，韩玉峰，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11