【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种硬盘温度侦测系统，包括一设置于硬盘内部的三极管、一温度传感器及一通过I2C总线与温度传感器相连的基板管理控制器。所述三极管的基极与集电极相连，所述三极管的集电极还与硬盘接口的第一闲置引脚相连，所述三极管的发射极与硬盘接口的第二闲置引脚相连。所述温度传感器与硬盘接口的第一及第二闲置引脚相连，所述温度传感器通过侦测三极管的集电极与发射极之间的电压差来获得硬盘的温度值。所述基板管理控制器用于接收温度传感器所得到的温度值。上述硬盘温度侦测系统能实时且在不影响系统性能的情况下获取硬盘的温度。【专利说明】硬盘温度侦测系统
本专利技术涉及一种硬盘温度侦测系统。
技术介绍
硬盘的温度是硬盘的一项重要工作参数，而对于服务器来说这种参数显得尤为重要，其是影响系统稳定工作的一大因素。目前的硬盘温度读取均依赖于硬盘的SMART(self-monitoring analysis and reporting technology)技术。硬盘记录 SMART 信息有两种方式，第一是在线(on-line)收集，即当硬盘工作时，根据实际的工作状态收集到的信息，硬盘在指定时间段内更新自身的SMART数据；第二是离线(off-line)收集，即硬盘收到主机发来的特定指令时进行的自检，此时硬盘将作大量动作以测试健康状态，从而会导致硬盘对主机发出的正常要求产生延迟，造成系统性能的下降。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种在不影响系统性能的情况下实时获取硬盘的温度的侦测系统。一种硬盘温度侦测系统,包括: 一三极管，设置于硬盘内部，所述三极管的基极与集电极相连，所述三...
【技术保护点】
一种硬盘温度侦测系统，包括：一三极管，设置于硬盘内部，所述三极管的基极与集电极相连，所述三极管的集电极还与硬盘接口的第一闲置引脚相连，所述三极管的发射极与硬盘接口的第二闲置引脚相连；一温度传感器，与硬盘接口的第一及第二闲置引脚相连，所述温度传感器通过侦测三极管的集电极与发射极之间的电压差来获得硬盘的温度值；以及一基板管理控制器，与温度传感器相连，用于接收温度传感器所得到的温度值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴亢，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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