一种光谱分析小样品表面定位装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种光谱分析小样品表面定位装置，该装置安装于光谱分析仪器中，包括装有样品（1）的样品盒（2），若干或多个样品盒（2）放置在样品盒平台（3）上，样品盒平台（3）设置在X轴与Y轴组成的运行装置上，样品盒（2）内部的样品（1）下方设置有样品顶紧装置（8），使样品（1）的上分析表面与光谱分析仪采光高度位置一致；本实用新型专利技术的X轴与Y轴运行装置为正交连接；本实用新型专利技术可同时进行多品种或多型号样品的分析，使分析效率提高，分析过程更加方便以及分析结果更加精确。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
一种光谱分析小样品表面定位装置
本技术涉及光谱分析
，尤其是一种用于激光诱导击穿光谱分析仪样品密封环境中将多个小样品分析表面固定到同一高度的定位装置。
技术介绍
在光谱分析领域，依靠标准样品绘制工作曲线，然后依据工作曲线对相关样品进行定性或定量分析。此类分析过程都是在光谱分析仪采光位置固定不变的情况下进行的，但采用激光器作为光源激发样品进行分析时，样品或标准样品的分析表面位置的固定相对来讲不太方便，不能保证进入光谱分析仪的采光高度与样品表面位置的一致性。此外，激光诱导击穿光谱仪的样品环境为密闭充氩环境，一次放置一块样品进行分析，无法对多种小样品进行采集和分析，分析速度慢，分析效率低。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种光谱分析小样品表面定位装置，用于解决多种样品的采集和分析，以及解决样品表面与光谱分析仪采光高度位置一致性的问题。为了实现上述目的，本技术采用如下技术方案:本技术的光谱分析小样品表面定位装置安装于光谱分析仪器中，包括装有样品I的样品盒2，若干样品盒2放置在样品盒平台3上，样品盒平台3设置在X轴与Y轴组成的运行装置上，样品盒2内部的样品I下方设置有样品顶紧装置8。本技术所述样品盒2的顶部设置有小于样品盒3外圆的台阶，该台阶的内表面到样品盒2外表面底部的高度与光谱分析仪采光高度位置一致；所述若干样品盒2设计为多种规格或同一规格型号。本技术还在于所述样品盒平台3与所述X轴与Y轴运行装置之间还设置有样品盒转接台4 ;所述X轴与Y轴运行装置为正交连接，在所述X轴5与Y轴7之间还设置有XY轴转接板6。本技术的在分析过程中可保持标准或待分析样品的上表面与光谱分析仪采光高度位置均处于同一高度，可同时进行多品种或多型号样品的分析，使分析效率提高，分析过程更加方便以及分析结果更加精确。【附图说明】图1为本技术的总体结构示意图；图2为样品盒2的结构示意图。附图标记为:样品I，样品盒2,样品盒平台3,样品盒转接台4, X轴5, XY轴转接板6，Y轴7，样品顶紧装置8。【具体实施方式】以下结合附图以及示例性实施例，进一步详细描述本技术的结构设计与组成，使本技术的技术解决方案更加清楚。本技术是一种用于激光诱导击穿光谱分析仪样品密封环境中，将小样品待分析表面固定到与光谱分析仪采光高度同一个特定高度，以及可同时放置多品种和多型号小样品的定位装置。本技术的激光诱导击穿光谱仪的样品环境为密闭充氩环境，可通过一次放置多个或多型号样品对样品的待分析表面进行原位分布扫描统计分析。参照图1和图2，本技术的光谱分析小样品表面定位装置包括装有样品I的样品盒2，若干或多个样品盒2同时放置在样品盒平台3上，样品盒2的顶部设置有小于样品盒3外圆的台阶，该台阶的内表面到样品盒2外表面底部的高度满足与光谱分析仪采光高度位置一致的条件，在样品盒2内部的下方设置有样品顶紧装置8，若干或多个样品盒2设计为多种规格或同一规格型号，以满足相同或不同尺寸大小样品的放置。在放置过程中，将相同或不同的待分析样品或标准样品分别放入设置有台阶的多个样品盒2中，使样品I的表面紧贴在样品盒台阶的内表面，调节样品盒2内底部的样品顶紧装置8并固定样品顶紧装置8以达到顶紧待分析样品或标准样品的目的。参照图1和图2，本技术将样品盒平台3设置在X轴与Y轴组成的运行装置上，在所述样品盒平台3与所述X轴与Y轴运行装置之间还设置有样品盒转接台4，以使在分析过程中各样品之间的切换运行；本技术的X轴与Y轴组成的运行装置为正交连接，包括设置在Y轴7之上并沿Y方向运行的X轴5，或者设计为设置在X轴5之上并沿X方向运行的Y轴7 ;在所述X轴5与Y轴7之间还设置有XY轴转接板6，以完成X轴5到Y轴7的转换，并且通过各自连接的电机独立控制各轴的运动，经X轴5和Y轴7的电机带动实现同一样品位置的改变或者不同样品的切换。本技术可将样品盒平台3和X轴与Y轴组成的运行装置预先安装在激光诱导击穿光谱分析仪的密闭样品室内，再将装好样品I的样品盒2放入密闭样品室内的样品盒平台3。实施例1参照图1和图2，将相同或不同的待分析样品或标准样品分别放入设置有台阶的多个样品盒2中，使每个样品I的表面紧贴在样品盒台阶的内表面，调节样品盒2内底部的样品顶紧装置8，用六角扳手拧紧样品顶紧装置8，使样品固定在样品盒的内表面，再将多个样品盒2放置在样品盒平台3上，此时，样品的表面到样品盒2外表面底部的高度即满足与光谱分析仪采光高度位置一致的条件。为提高分析效率，本技术设计了多个同一规格型号，或多种规格型号的样品盒2，以满足多个相同或不同尺寸大小样品的放置。参照图1和图2，将装入样品I的多个样品盒2放置于光谱分析仪器中的样品盒平台3上，样品盒平台3上设置在X轴与Y轴组成的运行装置上，X轴与Y轴组成的运行装置为正交连接，即由设置在Y轴7之上并沿Y方向运行的X轴5 ;在所述X轴5与Y轴7之间还设置有XY轴转接板6，以完成X轴5到Y轴7的转换；X轴与Y轴各自连接有电机独立控制各轴的运动来实现样品位置的改变。然后按照激光诱导击穿光谱仪的操作方法进行相应的分析操作。实施例2参照图1，图2，本技术的结构形式和工作方式如实施例1所述，本实施例的X轴5和Y轴7的正交连接为或由设置在X轴5之上并沿X方向运行的Y轴7组成，X轴与Y轴在各自电机的独立控制下，通过各轴的运动来实现样品位置的改变，然后按照激光诱导击穿光谱仪的操作方法进行相应的分析操作。本技术安置于光谱分析仪器的密闭环境中，用于对金属材料的表面成分分析，尤其是对于光谱仪分析过程中多个小样品的上表面定位和分析，既可在保持标准样品及待分析样品的上表面与采光设计一致，又可放置多个样品盒，减少了样品更换次数，解决了样品在密闭环境中频繁更换的问题，增加了分析预处理的效率。尽管本技术已对其优选实施方案进行了描述，但本技术的上述实施例仅为示例性实施例，本领域技术人员可以根据本技术的设计原理采取其它实施方式，在不脱离本技术设计思想的范围内，可以进行各种变形和修改，这些变化均属于本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光谱分析小样品表面定位装置，安装于光谱分析仪器中，其特征在于包括装有样品（1）的样品盒（2），若干样品盒（2）放置在样品盒平台（3）上，样品盒平台（3）设置在X轴与Y轴组成的运行装置上，样品盒（2）内部的样品（1）下方设置有样品顶紧装置（8）； 所述样品盒（2）的顶部设置有小于样品盒（2）外圆的台阶，该台阶内表面到样品盒（2）外表面底部的高度与光谱分析仪采光高度位置一致。

【技术特征摘要】
1.一种光谱分析小样品表面定位装置，安装于光谱分析仪器中，其特征在于包括装有样品(I)的样品盒(2)，若干样品盒(2)放置在样品盒平台(3)上，样品盒平台(3)设置在X轴与Y轴组成的运行装置上，样品盒(2)内部的样品(I)下方设置有样品顶紧装置(8); 所述样品盒(2)的顶部设置有小于样品盒(2)外圆的台阶，该台阶内表面到样品盒(2)外表面底部的高度与光谱分析仪采光高度位置一致。2.根据权利要求1所述表面定位装置，其特征在于所述若干样品盒(2)设计为多种规...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈永彦，张勇，韩鹏程，屈华阳，赵雷，刘佳，
申请(专利权)人：钢研纳克检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11