测试治具制造技术

本发明专利技术提供一种测试治具，适于调整一待测物的位置，测试治具包括一第一平移机构、一第二平移机构及一高度调整机构。第一平移机构沿一第一轴线移动。第二平移机构设置在第一平移机构上，第二平移机构沿正交于第一轴线的一第二轴线移动。高度调整机构设置在第二平移机构上。高度调整机构适于容置待测物且沿正交于第一轴线及第二轴线的一第三轴线移动。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种测试治具，适于调整一待测物的位置，测试治具包括一第一平移机构、一第二平移机构及一高度调整机构。第一平移机构沿一第一轴线移动。第二平移机构设置在第一平移机构上，第二平移机构沿正交于第一轴线的一第二轴线移动。高度调整机构设置在第二平移机构上。高度调整机构适于容置待测物且沿正交于第一轴线及第二轴线的一第三轴线移动。【专利说明】测试治具
本专利技术是有关于一种测试治具，且特别是有关于一种适于调整且固定一待测物的位置的测试治具。
技术介绍
随着科技的进步，电子装置的外型上朝向轻薄短小的方向发展，且电子装置的种类与功能越来越多元化。以智能型手机为例，除了传统的通讯功能之外，常见的还有在智能型手机上配置镜头模块以具有照相功能。此类具有镜头模块的电子装置，在生产的过程中，为了检验镜头模块的功能是否正常以及安装的角度是否正确，通常是通过操作者以手握持电子装置并朝一目标物进行拍摄来判断拍照结果是否异常。但由于每次测试中，操作者所握持的电子装置与目标物之间的距离以及朝向目标物的角度略有差异，可能会导致误判，而未能有效地检验出不合格的镜头模块。
技术实现思路
本专利技术提供一种测试治具，其可使不同待测物与目标物之间的距离与角度保持一致。本专利技术提出一种测试治具，适于调整一待测物的位置，测试治具包括一第一平移机构、一第二平移机构及一高度调整机构。第一平移机构沿一第一轴线移动。第二平移机构设置在第一平移机构上，第二平移机构沿正交于第一轴线的一第二轴线移动。高度调整机构设置在第二平移机构上。高度调整机构适于容置待测物且沿正交于第一轴线及第二轴线的一第三轴线移动。在本专利技术的一实施例中，上述的第一平移机构包括沿第一轴线的一第一滑设部，第二平移机构包括对应于第一滑设部的一第二滑设部。在本专利技术的一实施例中，上述的第一滑设部包括一滑轨，第二滑设部包括一滑块。在本专利技术的一实施例中，上述的第一平移机构包括一第一固定件，第一固定件可调整地位于第一滑设部以固定第二滑设部。在本专利技术的一实施例中，上述的第一平移机构包括一第一旋钮及连接于第一旋钮的一第一齿轮，第二平移机构包括一第一齿条，第一齿轮哨合于第一齿条，以微调第一平移机构与第二平移机构之间的相对位置。在本专利技术的一实施例中，上述的第二平移机构包括一板体及一承载台，板体包括一第二滑设部及一第三滑设部，第二滑设部及第三滑设部分别设置在板体的两面，第三滑设部沿第二轴线。在本专利技术的一实施例中，上述的承载台包括对应于第三滑设部的一第四滑设部，第四滑设部及高度调整机构分别设置在承载台的相对的两面。在本专利技术的一实施例中，上述的第三滑设部包括一滑轨，第四滑设部包括一滑块。在本专利技术的一实施例中，上述的第二平移机构包括一第二固定件，第二固定件可调整地位于第三滑设部以固定第四滑设部。在本专利技术的一实施例中，上述的板体及承载台的其中之一包括一第二旋钮及连接于第二旋钮的一第二齿轮，板体及承载台的另一包括一第二齿条，第二齿轮啮合于第二齿条，以微调板体与承载台之间的相对位置。在本专利技术的一实施例中，上述的高度调整机构包括一固定座及一移动台，固定座固定于第二平移机构，待测物容置于移动台，移动台相对于固定座沿第三轴线移动。在本专利技术的一实施例中，上述的固定座包括沿第三轴线的一第五滑设部，移动台包括对应于第五滑设部的一第六滑设部。在本专利技术的一实施例中，上述的高度调整机构包括一第三固定件，用以固定固定座及移动台的相对位置。在本专利技术的一实施例中，上述的固定座及移动台的其中之一包括一旋钮及连接于旋钮的一第三齿轮，固定座及移动台的另一包括一第三齿条，第三齿轮哨合于第三齿条，以调整固定座及移动台之间的相对位置。在本专利技术的一实施例中，上述的高度调整机构包括多个孔洞及多个支撑件，这些支撑件可拆卸地插入部分的这些孔洞，以配合待测物的尺寸形成不同大小的一容置空间，容置空间适于容置待测物。在本专利技术的一实施例中，还包括一连接端口，设置于高度调整机构且适于电性连接至待测物。基于上述，本专利技术的测试治具通过第一平移机构、第二平移机构及高度调整机构来调整待测物的三维位置。并通过第一固定件、第二固定件及第三固定件以将待测物的位置固定，以使待测物可与目标物相距特定的距离及角度，以避免人为握持所导致的测试误差。此外，本专利技术的测试治具也可通过旋转第一旋钮、第二旋钮及第三旋钮来微调第一平移机构、第二平移机构及高度调整机构之间的相对位置，以获得更精确的测试结果。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合【专利附图】【附图说明】作详细说明如下。【专利附图】【附图说明】图1是依照本专利技术的一实施例的一种测试治具的示意图；图2是图1的测试治具的第一平移机构的俯视示意图；图3是图1的测试治具的第二平移机构的侧视示意图；图4是图1的测试治具的高度调整机构的示意图；图5是本专利技术的一实施例的一种测试治具的高度调整机构的示意图。附图标记说明Al:第一轴线；A2:第二轴线；A3:第三轴线；10:待测物；100:测试治具；110:第一平移机构；112:第一滑设部；114:第一固定件；116:第一旋钮；118:第一齿轮；120:第二平移机构；122:板体；122a:第二滑设部；122b:第三滑设部；122c:第一齿条；122d:第二旋钮；122e:第二齿轮；124:承载台；124a:第四滑设部；124b:第二齿条；126:第二固定件；130、230:高度调整机构；132、232:固定座；132a:第五滑设部；132b,232b:第三旋钮；134、234:移动台；134a:第六滑设部；136:第三固定件；140:连接端口；232c:第三齿轮；234b:第三齿条；234c:孔洞；234d:支撑件；234e:容置空间。【具体实施方式】图1是依照本专利技术的一实施例的一种测试治具的示意图。请参阅图1，本实施例的测试治具100适于调整且固定一待测物10的位置。在本实施例中，该待测物10可为智能型手机或是平板电脑，但该待测物10的种类不以此为限制。本实施例的测试治具100包括一第一平移机构110、一第二平移机构120及一高度调整机构130。该第一平移机构110沿一第一轴线Al移动。该第二平移机构120设置在该第一平移机构110上,该第二平移机构120沿正交于该第一轴线Al的一第二轴线A2移动。该高度调整机构130设置在该第二平移机构120上。该高度调整机构130适于容置该待测物10且沿正交在该第一轴线Al及该第二轴线A2的一第三轴线A3移动。图2是图1的测试治具的第一平移机构的俯视示意图。图3是图1的测试治具的第二平移机构的侧视示意图。请参阅图2及图3，第一平移机构110包括沿第一轴线Al的一第一滑设部112,第二平移机构120包括对应于该第一滑设部112的一第二滑设部122a。在本实施例中，该第一滑设部112包括一滑轨，该第二滑设部122a包括一滑块，该第二滑设部122a可移动地设置于该第一滑设部112内，以使该第二平移机构120相对于该第一平移机构110沿该第一轴线Al移动。如图2所不,该第一平移机构110包括一第一固定件114及连接于该第一固定件114的一第一旋钮116。在本实施例中，该第一固定件114及该第一旋钮116为一体，本实施例的测试治具100通过将本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试治具，适于调整一待测物的位置，其特征在于，该测试治具包括：一第一平移机构，沿一第一轴线移动；一第二平移机构，设置在该第一平移机构上，该第二平移机构沿正交于该第一轴线的一第二轴线移动；以及一高度调整机构，设置在该第二平移机构上，该高度调整机构适于容置该待测物，且该高度调整机构沿正交于该第一轴线及该第二轴线的一第三轴线移动。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈怡如，
申请(专利权)人：亚旭电脑股份有限公司，
类型：发明
国别省市：台湾;71