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本发明提供一种测试治具，适于调整一待测物的位置，测试治具包括一第一平移机构、一第二平移机构及一高度调整机构。第一平移机构沿一第一轴线移动。第二平移机构设置在第一平移机构上，第二平移机构沿正交于第一轴线的一第二轴线移动。高度调整机构设置在第二...
该专利属于亚旭电脑股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过亚旭电脑股份有限公司授权不得商用。

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