应用于触控装置的测试系统及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术所提供的触控装置测试系统包含触碰模拟模块、控制模块及判断模块。触碰模拟模块包含多个导电元件，与一触控装置的多个触控感应区域一一对应。控制模块用以选择性地将一测试信号提供至该多个导电元件中的一个或多个。该判断模块用以判断该触控装置是否正确回应该控制模块透过该触碰模拟模块施于该多个触控感应区域的一测试。

【技术实现步骤摘要】
应用于触控装置的测试系统及测试方法
本专利技术与测试技术相关，并且尤其与用以测试触控装置是否能正确回应使用者触碰的技术相关。
技术介绍
随着科技日益进步，近年来各种电子产品的操作介面都愈来愈人性化。举例而言，透过触控屏幕，使用者可直接以手指或触控笔在屏幕上操作程式、输入讯息/文字/图样，省去使用键盘或按键等输入装置的麻烦。实际上，触控屏幕通常由一感应面板及设置于感应面板后方的显示器组成。电子装置根据使用者在感应面板上所触碰的位置，以及当时显示器所呈现的画面，来判断该次触碰的意涵，并执行相对应的操作结果。现有的电容式触控技术可分为自容式(self-capacitance)和互容式(mutual-capacitance)两类。相对于互容式触控面板，自容式触控面板能藉由制程较单纯的单层电极结构实现，具有成本较低的优点，因此被广泛应用在低阶电子产品中。图1为一已知自容式触控面板的感应电极配置范例。区域100内设有多个等宽且各自近似于一直角三角形的感应电极(例如电极11)。每个感应电极都各自连接至一感应器(未绘示)。使用者触碰会影响电极周边的磁力线分布，进而造成感应器检测到的电容值发生变化。根据出现电容值变化的感应电极位置以及电容值变化量，即可推算使用者触碰的发生位置。由于制作感应电极的程序可能会发生偏差，感应电极的实际形状往往不尽理想。图2呈现了两种误差范例：区域12A有断线问题，区域12B则存在缺角问题。这些误差降低了感应结果的正确性，甚至会造成误判触碰发生位置的情况。为了避免上述问题，必须在产品出厂前进行测试，预先筛检出有问题的产品。现行的测试方案大多是以人工进行。举例而言，由于金属具导电性，若将金属棒贴近感应电极上方(例如置于图3所绘示的位置30)，会造成感应器检测到的电容值发生变化，等同于使用者对感应电极施以触碰。理论上，放置金属棒的位置不同，也会令各感应器产生的检测结果有所不同。因此，藉由比对检测结果的理论值和实际值，测试人员可推估各感应电极是否皆正确反应出将金属棒置于该位置时应有的电容变化量。在现行的测试方案中，确认了某个金属棒位置所对应的检测结果正常后，测试人员必须手动将金属棒挪移至另一位置进行测试。显然，在采用现行测试方案的情况下，若无法负担大量测试人力，制造者通常仅能随机抽样检查少数产品。针对各个受测触控面板，测试人员亦仅能就少数几个特定位置进行测试。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提出一种新的测试系统及测试方法。根据本专利技术的测试系统和测试方法可被设计为全自动，无须人力介入。相较于传统的人工测试方法，根据本专利技术的测试系统和测试方法的效率极高，并且其测试范围可大致涵盖待测装置中的所有触控感应区域。此外，只要设计适当的测试机台，测试系统和待测装置的相对位置可被固定，其准确性远高于以人工放置金属棒。根据本专利技术的一具体实施例为一种触控装置测试系统，用以测试一触控装置，其中包含一触碰模拟模块、一控制模块及一判断模块。该触碰模拟模块包含多个导电元件，分别对应于该触控装置的多个触控感应区域。该控制模块耦接至该多个导电元件，并用以选择性地将一测试信号提供至该多个导电元件中的一个或多个。该判断模块可耦接至该触控装置，并用以判断该触控装置是否正确回应该控制模块透过该触碰模拟模块施于该多个触控感应区域的一测试。根据本专利技术的另一具体实施例为一种触控装置测试方法，用以测试一触控装置。该测试方法首先执行一移动步骤，将一触碰模拟模块贴近该触控装置。该触碰模拟模块包含多个导电元件，分别对应于该待测装置的多个触控感应区域。随后，该测试方法执行一自动测试程序，选择性地将一测试信号提供至该多个导电元件中的一个或多个。接着，该测试方法执行一判断步骤，判断该触控装置是否正确回应该自动测试程序。关于本专利技术的优点与精神可以藉由以下专利技术详述及附图得到进一步的了解。附图说明图1为一自容式触控面板的感应电极配置范例。图2用以呈现电极误差范例。图3用以表示测试用金属棒的放置位置与感应电极的相对关系。图4为根据本专利技术的一实施例中的测试系统电路方块图。图5A用以表示根据本专利技术的一实施例中的触碰模拟模块；图5B绘示了根据本专利技术的一实施例中的测试系统的详细电路连接关系；图5C绘示了测试系统与待测装置在测试过程中的配置相对关系范例。图6为根据本专利技术的一实施例中的测试方法流程图。主要元件符号说明100：感应电极配置区域11：电极12A、12B：电极缺限区域30：金属棒放置位置400：测试系统42：触碰模拟模块44：控制模块46：判断模块48：感应器500：待测装置42A~42F：导电元件S61~S63：流程步骤具体实施方式根据本专利技术的一实施例为图4所示的测试系统400，其中包含触碰模拟模块42、控制模块44、判断模块46以及多个感应器48。测试系统400用以测试待测装置500能否正确回应使用者触碰。实务上，待测装置500可为一个完整的触控式电子装置，也可为触控式电子装置的一部分，例如一触控面板或是一自容式触控面板中的感应电极层。待测装置500可包括多个触控感应区域，该些触控感应区域可由该些感应电极构成。须说明的是，这些外接的感应器48并非测试系统400的必要元件。若待测装置500本身已内建有感应器，判断模块46可直接接收待测装置500内的感应器产生的检测结果，而不须透过另行设置感应器48产生检测结果。以下说明以图1的已知感应电极层为待测装置500的一实施例。如图5A所示，本实施例中的触碰模拟模块42的一表面平行设置有六个长条状导电元件42A~42F。实务上，导电元件42A~42F的材质可包含铜等导电性良好的金属，但不以此为限。由图5B可看出，导电元件42A~42F分别连接至控制模块44。图5C绘示测试系统400与待测装置500在测试过程中的配置相对关系。待测装置500中的每个三角形感应电极都各自连接至一个感应器48(为保持图面清晰，省略部分电极和感应器48间的接线)。该些感应电极各自的平面形状近似一不等腰直角三角形，且上下交错设置于一平面。该些感应电极各自的最短边缘平行于一特定方向。导电元件42A~42F为多个平行设置的长条状导电片。当触碰模拟模块42被贴近待测装置500以进行测试时，该些长条状导电片42A~42F平行于该特定方向。由图5C可看出，导电元件42A~42F各自横跨待测装置500中的所有三角形电极，也各自对应待测装置500中不同的触控感应区域。需说明的是，触碰模拟模块42上的导电元件42A~42F不一定要直接接触待测装置500，其间亦可设置有一隔绝层。只要导电元件42A~42F被挪移至贴近待测装置500且被提供以测试信号时，能引发待测装置500产生电容变化即可。由此可知，导电元件42A~42F不一定要设置在触碰模拟模块42的最外层表面。于一实施例中，控制模块44可根据实际测试需要，选择性地将一测试信号提供至导电元件42A~42F中的一个或多个。举例而言，该测试信号可位于一接地电位或是接近接地的电位。透过该测试信号，控制模块44可将导电元件42A~42F中的一个或多个设定为接地或浮接。若控制模块44将导电元件42A设定为接地，可模拟待测装置500中被导电元件42A所覆盖的触控感应区域受使用者触碰的状况。相似地，若控制模块44将导电元件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控装置测试系统，用以测试一触控装置，该测试系统包含：一触碰模拟模块，包含多个导电元件，分别对应于该触控装置的多个触控感应区域；一控制模块，耦接至该多个导电元件，用以选择性地将一测试信号提供至该多个导电元件中的一个或多个；以及一判断模块，耦接至该触控装置，用以判断该触控装置是否正确回应该控制模块透过该触碰模拟模块施于该多个触控感应区域的一测试。

【技术特征摘要】
1.一种触控装置测试系统，用以测试一触控装置，该触控装置包含用于一自容式触控面板的多个感应电极，该触控装置的多个触控感应区域由该多个感应电极构成，该多个感应电极各自的平面形状近似一不等腰直角三角形，且上下交错设置于一平面，该多个感应电极各自的最短边缘平行于一特定方向；该测试系统包含：一触碰模拟模块，包含多个导电元件，分别对应于该多个触控感应区域，每一该多个导电元件横跨该触控装置沿该特定方向的所有触控感应区域；一控制模块，耦接至该多个导电元件，该控制模块将一测试信号依序轮流提供至该多个导电元件；以及一判断模块，耦接至该触控装置，用以判断该触控装置是否正确回应该控制模块透过该触碰模拟模块施于该多个触控感应区域的一测试，当对应于一触控感应区域的多个电容感应量并非依序变大或依序变小时，该判断模块判断该触控装置并未正确回应该测试。2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，该测试信号位于一接地电位。3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，该多个导电元件为多个金属片。4.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，该多个导电元件被设置于该触碰模拟模块的一表面。5.如权利要求4所述的测试系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈建铨，何闿廷，黄有健，
申请(专利权)人：晨星软件研发深圳有限公司， 晨星半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44