【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供了一种应用于锁相环辐照实验的装置，包括辐照检测芯片和FPGA芯片，辐照检测芯片与待测芯片相连，用于检测待测芯片是否发生单粒子事件，以及发生单粒子事件的是待测芯片的哪一部分，然后将判断结果信号发送给FPGA芯片，FPGA芯片通过信号线连接到远程监控中心服务器。所述辐照检测芯片包括：第一锁定检测电路、第二锁定检测电路、纹波检测电路、频率检测电路、信号判决电路、逻辑判断电路，以及一个与待测芯片中结构相同的鉴频鉴相器、一个与待测芯片中结构相同的分频器。本专利技术的优点是：能够自动检测锁相环各个部分的辐照情况，并可通过以太网将检测结果发送到远离辐照试验环境的监控中心，保护了测试人员的人身安全。【专利说明】—种应用于锁相环辐照实验的装置
本专利技术属于集成电路测量
，可用于辐照实验中锁相环的辐照能力的测量。
技术介绍
随着我国航空航天事业的发展，抗辐照集成电路的需求也越来越大，而我国抗辐照集成电路技术水平还比较薄弱，特别是抗辐照集成电路的测试技术，一直都是抗辐照集成电路的软肋。目前测试人员通常的做法是将有限的关键信号通过芯片外部引脚...
【技术保护点】
一种应用于锁相环辐照实验的装置，其特征在于：包括互相连接的辐照检测芯片和FPGA芯片，辐照检测芯片与待测芯片相连，用于检测待测芯片是否发生单粒子事件，以及发生单粒子事件的是待测芯片的哪一部分，然后将判断结果信号发送给FPGA芯片，FPGA芯片通过信号线连接到远程监控中心服务器，将辐照检测芯片发送过来的信号发送给服务器；所述待测芯片包括依次连接的鉴频鉴相器、电荷泵与环路滤波器模块、压控振荡器、分频器，所述分频器的输出端再连接鉴频鉴相器的输入，形成锁相环；所述辐照检测芯片包括：第一锁定检测电路、第二锁定检测电路、纹波检测电路、频率检测电路、信号判决电路、逻辑判断电路，以及一个与...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：万书芹，黄召军，张涛，季惠才，蒋颖丹，杨霄垒，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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