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本发明提供了一种应用于锁相环辐照实验的装置，包括辐照检测芯片和FPGA芯片，辐照检测芯片与待测芯片相连，用于检测待测芯片是否发生单粒子事件，以及发生单粒子事件的是待测芯片的哪一部分，然后将判断结果信号发送给FPGA芯片，FPGA芯片通过信号...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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