静电衰减性能测试的静电探测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及防护材料静电防护性能试验装置技术。本实用新型专利技术的静电衰减性能测试的静电探测装置，包括探头铜片、探头片隔圈、探头片衬套、接地铜片、接地垫圈、探头外罩、探头体、走线套、出线螺帽与外接线缆，探头铜片、探头体皆设置在探头外罩内，探头铜片、探头体之间设有探头片隔圈、探头片衬套、接地铜片与接地垫圈，探头体套接在走线套的外侧，探头体的下端连接出线螺帽，外接线缆贯穿出线螺帽、走线套后与探头铜片连接。本实用新型专利技术的静电衰减性能测试的静电探测装置，测试灵敏、性能良好，可精确感应出被测试样表面经电晕放电后所产生的电压信号，实现试样表面感应静电信号的探测功能。该装置结构设计简单、成本低、制作方便。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
静电衰减性能测试的静电探测装置
本技术涉及防护材料静电防护性能试验装置
，具体涉及一种能够精确感应出被测试样表面经电晕放电后所产生的电压信号的装置。
技术介绍
目前国内外关于电荷衰减性能测试方法多种多样。根据被测试样带电方式不同，常用测试方法主要有三种:充电法、电晕喷电法或摩擦法。通过使被测试样带电至初始静电电压后，撤除作用于被测试样的静电发生装置，然后将被测试样迅速接地使其开始放电，同时利用实时监测系统实时测量被测试样表面静电电位随时间变化的衰减信号，计算出电荷衰减至设定终止电位的衰减时间，并以此为依据来评价被测材料的防静电性能。对于电晕喷电法和摩擦法，被测试样表面静电衰减性能测试的静电探测装置是整个测试装置中的关键部件之一。
技术实现思路
本技术的技术效果能够克服上述缺陷，提供一种静电衰减性能测试的静电探测装置，其可精确感应出被测试样表面经电晕放电后所产生的电压信号，实现试样表面感应静电信号的探测功能。为实现上述目的，本技术采用如下技术方案:其包括探头铜片、探头片隔圈、探头片衬套、接地铜片、接地垫圈、探头外罩、探头体、走线套、出线螺帽与外接线缆，探头铜片、探头体皆设置在探头外罩内，探头铜片、探头体之间设有探头片隔圈、探头片衬套、接地铜片与接地垫圈，探头体套接在走线套的外侧，探头体的下端连接出线螺帽，外接线缆贯穿出线螺帽、走线套后与探头铜片连接。所述的探头铜片与探头片衬套之间间隙配合，探头铜片从探头片衬套内孔装入，通过探头铜片上的定位凸肩安装到位，并限定铜片伸出探头体的凸缘长度，确保探测装置端面为一平面，以保证试验过程中探头平面与被测试样平面之间测试距离相同。所述的探头片隔圈由聚四氟乙烯材料制成，它与探头片衬套之间间隙配合，探头片隔圈从探头片衬套内孔装入，与探头片衬套的内孔定位台阶一起将探头铜片夹持住。使得探头铜片在整个探测装置中轴向定位精确且与探头外罩绝缘良好，可保证被测试样表面的电压信号传输安全可靠。所述的探头片衬套与探头外罩之间间隙配合，靠探头片衬套的外圆定位台阶限位安装到探头外罩内，为整个探测器探头主体提供良好的绝缘保障。所述的接地铜片与探头片衬套之间间隙配合。接地铜片从探头片衬套内孔装入，靠探头片隔圈定位，探头片隔圈为机加工件，可以充分保证其轴向尺寸的精度要求，从而确保了接地铜片与探头铜片之间的距离。接地线焊接于接地铜片上，使得接地铜片与探头铜片上感应到的静电形成一个准确的电位差，为探测器测试结果的准确性和重现性提供良好的保障。接地铜片中心开有通孔，方便走线套从中间穿过与探头铜片进行螺纹连接。所述的接地垫圈与探头片衬套之间为间隙配合。接地垫圈从探头片衬套内孔装入，靠接地铜片定位，靠探头体螺纹拧紧与探头片衬套、探头铜片、探头片隔圈共同构成静电探测器探头的主体。探头体与接地铜片通过接地垫圈相连通，共同接地。所述的探头外罩与探头体之间螺纹连接，靠静电探测器探头的主体限定两者之间的啮合长度，同时通过两者的旋紧为探头主体进行轴向压紧定位。探头外罩与探头体为整个探测器主体提供了良好的接地屏蔽作用。所述的走线套由绝缘极好的聚四氟乙烯材料制作。走线套上端部开有内螺纹，与探头铜片下端的外螺纹配合拧紧连接。走线套开有中心孔，外接线缆从中心孔穿过，与探头铜片下端的螺纹端部焊接。方便探头铜片感应信号的传输。所述的出线螺帽由绝缘性能良好的夹布胶木制作，与探头体之间靠螺纹连接，出线螺帽开有中心孔，探头铜片的外接线缆可穿过中心孔自由出入。出线螺帽与探头体之间的螺纹拧紧又为走线套轴向压紧定位。本技术的静电衰减性能测试的静电探测装置，测试灵敏、性能良好，可精确感应出被测试样表面经电晕放电后所产生的电压信号，实现试样表面感应静电信号的探测功能。该装置结构设计简单、成本低、制作方便、使用安全。【附图说明】图1为本技术的结构示意图；1-探头铜片；2_探头片隔圈；3_探头片衬套；4_接地铜片；5_接地垫圈；6-探头外罩；7_探头体；8_走线套；9_出线螺帽；10_外接线缆；101.定位凸肩；301.内孔定位台阶；302.外圆定位台阶。【具体实施方式】如图1所示，本技术的静电衰减性能测试的静电探测装置，包括探头铜片1、探头片隔圈2、探头片衬套3、接地铜片4、接地垫圈5、探头外罩6、探头体7、走线套8、出线螺帽9与外接线缆10，探头铜片1、探头体7皆设置在探头外罩6内，探头铜片1、探头体7之间设有探头片隔圈2、探头片衬套3、接地铜片4与接地垫圈5，探头体7套接在走线套8的外侧，探头体7的下端连接出线螺帽9，外接线缆10贯穿出线螺帽9、走线套8后与探头铜片I连接。所述的探头铜片I与探头片衬套3之间为间隙配合，探头铜片I从探头片衬套3内孔装入，靠探头铜片I上的定位凸肩101安装到位，并限定探头铜片I伸出探头体7的凸缘长度，确保探测装置端面为一平面。所述的探头片隔圈2与探头片衬套3之间为间隙配合，探头片隔圈2从探头片衬套3内孔装入，与探头片衬套3的内孔定位台阶301 —起将探头铜片I夹持住。所述的探头片衬套3与探头外罩6之间为间隙配合，通过探头片衬套的外圆定位台阶302限位安装到探头外罩6内。所述的接地铜片4与探头片衬套3之间为间隙配合，接地铜片4从探头片衬套3内孔装入，通过探头片隔圈2定位，接地铜片4焊接接地线，接地铜片4中心开有通孔，走线套8从通孔中间穿过并与探头铜片I螺纹连接。所述的接地垫圈5与探头片衬套3之间为间隙配合，接地垫圈5从探头片衬套3内孔装入，通过接地铜片4、探头体7定位，探头体7与接地铜片4通过接地垫圈5相连通后共同接地，接地垫圈5、探头片衬套3、探头铜片1、探头片隔圈3共同构成静电探测器探头的主体。所述的探头外罩6与探头体7之间螺纹连接，通过静电探测器探头的主体限定两者之间的啮合长度，同时通过两者的旋紧为探头主体进行轴向压紧定位。所述的走线套8上端部开有内螺纹，与探头铜片I下端的外螺纹配合拧紧连接，走线套8开有中心孔，外接线缆10从中心孔穿过，与探头铜片I下端的螺纹端部焊接。所述的出线螺帽9与探头体7之间螺纹连接，出线螺帽9开有中心孔，探头铜片的外接线缆10可穿过中心孔自由出入，出线螺帽9与探头体7之间的螺纹拧紧为走线套8轴向压紧定位。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种静电衰减性能测试的静电探测装置，其特征在于，包括探头铜片（1）、探头片隔圈（2）、探头片衬套（3）、接地铜片（4）、接地垫圈（5）、探头外罩（6）、探头体（7）、走线套（8）、出线螺帽（9）与外接线缆（10），探头铜片（1）、探头体（7）皆设置在探头外罩（6）内，探头铜片（1）、探头体（7）之间设有探头片隔圈（2）、探头片衬套（3）、接地铜片（4）与接地垫圈（5），探头体（7）套接在走线套（8）的外侧，探头体（7）的下端连接出线螺帽（9），外接线缆（10）贯穿出线螺帽（9）、走线套（8）后与探头铜片（1）连接。

【技术特征摘要】
1.一种静电衰减性能测试的静电探测装置，其特征在于，包括探头铜片(I)、探头片隔圈(2)、探头片衬套(3)、接地铜片(4)、接地垫圈(5)、探头外罩(6)、探头体(7)、走线套(8)、出线螺帽(9)与外接线缆(10)，探头铜片(I)、探头体(7)皆设置在探头外罩(6)内，探头铜片(I)、探头体(7)之间设有探头片隔圈(2)、探头片衬套(3)、接地铜片(4)与接地垫圈(5)，探头体(7)套接在走线套(8)的外侧，探头体(7)的下端连接出线螺帽(9)，外接线缆(10)贯穿出线螺帽(9)、走线套(8)后与探头铜片(I)连接。2.根据权利要求1所述的静电衰减性能测试的静电探测装置，其特征在于，所述的探头铜片(I)与探头片衬套(3)之间间隙配合，探头铜片(I)从探头片衬套(3)内孔装入，通过探头铜片(I)上的定位凸肩(101)安装到位，并限定探头铜片(I)伸出探头体(7)的凸缘长度，确保探测装置端面为一平面。3.根据权利要求2所述的静电衰减性能测试的静电探测装置，其特征在于，所述的探头片隔圈(2)与探头片衬套(3)之间间隙配合，探头片隔圈(2)从探头片衬套(3)内孔装入，与探头片衬套(3 )的内孔定位台阶(301) —起将探头铜片(I)夹持住。4.根据权利要求3所述的静电衰减性能测试的静电探测装置，其特征在于，所述的探头片衬套(3)与探头外罩(6)之间间隙配合，通过探头片衬套的外圆定位台阶(302)限位安装到探头外罩(6)内。5.根据权利要求3所述的静电衰减性能测试的静电探测装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨成丽，李娟娟，付伟，焦亮，
申请(专利权)人：山东省纺织科学研究院，
类型：实用新型
国别省市：