【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及天线、雷达成像和信号处理
，特别是。
技术介绍
基于多相位中心时空分布的微波三维成像模式能够获取观测场景整个立体空间中的波数信息。针对多相位中心时空分布的微波三维成像模式，目前尚无明确统一的成像方法。专利技术人在考虑观测约束条件的情况下，提出了多相位中心三维成像方法。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题为解决上述的一个或多个问题，本专利技术提供了基于多相位中心观测约束优化的三维成像方法。( 二 )技术方案本专利技术提供了一种，包括:步骤A:由多相位中心对目标进行成像，并对成像后接收到的目标回波信号进行预处理；步骤B:对预处理后的回波信号进行距离衰减因子补偿和天线方向图校正处理；步骤C:采用观测约束优化方法对所述补偿和校正后的回波信号进行处理；步骤D:从步骤C的处理结果中提取观测区域三维微波散射图像、观测区域场景三维数字表面模型或观测区域场景正射投影微波图像。其中，所述步骤A中多相位中心为由多物理天线形成的空间多相位中心或者通过单个或多个天线通过一定时间运动形成的时间多相位中心。其中，对于空间多相位中心，所述预处理包括补偿多个物理天线之间的幅度误差和相位误差。其中，对于时间多相位中心，所述预处理包括补偿天线的位置、姿态误差以及天线之间收发过程中平台运动带来的多普勒偏移误差。对于子步骤A2:针对单个或多个天线通过一定时间运动形成的多相位中心,成像处理之前，需要。其中，步骤B中对回波信号进行距离衰减因子补偿和天线方向图校正处理如下式所示:
【技术保护点】
一种基于多相位中心观测约束优化的微波三维成像方法，其特征在于，包括：步骤A：由多相位中心对目标进行成像，并对成像后接收到的目标回波信号进行预处理；步骤B：对预处理后的回波信号进行距离衰减因子补偿和天线方向图校正处理；步骤C：采用观测约束优化方法对所述补偿和校正后的回波信号进行处理；步骤D：从步骤C的处理结果中提取观测区域三维微波散射图像、观测区域场景三维数字表面模型或观测区域场景正射投影微波图像。
【技术特征摘要】
1.一种基于多相位中心观测约束优化的微波三维成像方法，其特征在于，包括: 步骤A:由多相位中心对目标进行成像，并对成像后接收到的目标回波信号进行预处理； 步骤B:对预处理后的回波信号进行距离衰减因子补偿和天线方向图校正处理； 步骤C:采用观测约束优化方法对所述补偿和校正后的回波信号进行处理； 步骤D:从步骤C的处理结果中提取观测区域三维微波散射图像、观测区域场景三维数字表面模型或观测区域场景正射投影微波图像。2.如权利要求1所述的方法，其中，所述步骤A中多相位中心为由多物理天线形成的空间多相位中心或者通过单个或多个天线通过一定时间运动形成的时间多相位中心。3.如权利要求2所述的方法，其中，对于空间多相位中心，所述预处理包括补偿多个物理天线之间的幅度误差和相位误差。4.如权利要求2所述的方法，其中，对于时间多相位中心，所述预处理包括补偿天线的位置、姿态误差以及天线之间收发过程中平台运动带来的多普勒偏移误差。 对于子步骤A2:针对单个或多个天线通过一定时间运动形成的多相位中心,成像处理之前，需要。5.如权利要求1所述的方法，其中，...
【专利技术属性】
技术研发人员：洪文，王彦平，谭维贤，彭学明，林赟，丁赤飚，
申请(专利权)人：中国科学院电子学研究所，
类型：发明
国别省市：
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