一种太阳能电池片PID测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种太阳能电池片电势诱导衰减（PID）测试装置及测试方法。测试装置包括直流电压器、电阻测试仪、金属电极排和金属托盘。测试方法步骤为：⑴将电池片置于金属托盘上，控制温度0~100℃，湿度0~100%；⑵开启直流电压器，使离子流作用于太阳能电池片表面；⑶持续进行离子辐射，实时测试电池片并联电阻变化情况；⑷作曲线图记录并联电阻变化情况。本发明专利技术是对太阳能电池片直接进行并联电阻测试，判断抗PID效果，即在太阳能电池端进行抗PID效果检测，节约了检测成本和测试时间，有利于及时优化抗PID电池的生产工艺，同时可对其进行有效的监控。

【技术实现步骤摘要】
—种太阳能电池片PID测试装置及测试方法
本专利技术属于晶体硅太阳能电池制造领域，具体涉及一种太阳能电池片电势诱导衰减(PID)测试装置及测试方法。
技术介绍
PID (Potential Induced Degradation)效应称为高压诱导衰减效应,是最近几年光伏领域出现的较新的衰减效应。随着光伏并网系统的逐渐推广应用，系统电压越来越高，常用的有600V和1000V。组件内部电池片相对于大地的压力越来越高，有的甚至达到600-1000V。一般组件的铝边框都要求接地，这样在电池片和铝边框之间就形成了 600-1000V的高压。一般来说，组件封装的层压过程中，结构为5层。电池片在EVA中间，玻璃和背板在最外层，层压过程中EVA形成了透明、电绝缘的物质。然而，任何塑料材料都不可能100%的绝缘，都有一定程度的导电性，特别是在湿度较大的环境中。会有漏电流通过电池片、封装材料、玻璃、背板、铝边框流过，如果在内部电路和铝边框之间形成高电压，漏电流将会达到微安或毫安级别，这就是太阳能电池的高压诱导效应，PID效应使得电池表面钝化效果恶化和形成漏电回路，导致填充因子、开路电压、短路电流本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种太阳能电池片PID测试装置，其特征在于：包括直流电压器、电阻测试仪、金属电极排和金属托盘，所述金属电极排与直流电压器的正极相连接，所述金属托盘与直流电压器的负极相连接，所述电阻测试仪的测试线之一与金属托盘相连接，另一测试线用于连接太阳能电池片电极。

【技术特征摘要】
1.一种太阳能电池片PID测试装置，其特征在于:包括直流电压器、电阻测试仪、金属电极排和金属托盘，所述金属电极排与直流电压器的正极相连接，所述金属托盘与直流电压器的负极相连接，所述电阻测试仪的测试线之一与金属托盘相连接，另一测试线用于连接太阳能电池片电极。2.根据权利要求1所述的太阳能电池片PID测试装置，其特征在于:所述金属电极排和金属托盘间的距离能够调整，使得测试时当太阳能电池片放置在金属托盘上时，所述金属电极排与太阳能电池片电极间的距离为0.f 10cm。3.根据权利要求1或2所述的太阳能电池片PID测试装置，其特征在于:所述金属电极排由若干金属电极焊接于金属板构成。4.根据权利要求1所述的太阳能电池片PID测试装置，其特征在于:所述直流电压器能产生20KV的高压。5.一种太阳能电池片PID测试方法，其特征在于，使用太阳能电池片PID测试装置，所述测试装置如权利要求1所述，包括直流电压器、电阻测试仪、金属电极排和金属托盘，所述金属电极排与直流电压器的正极相连接，所述金属托盘与直流电压器的负极相连接，所述电阻测试仪的测试线之一与金属托盘相连接，另一测试线用于连接太阳能电池片电极；具体测...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘长明，陈康平，金浩，黄琳，
申请(专利权)人：浙江晶科能源有限公司，晶科能源有限公司，
类型：发明
国别省市：