微力测量装置制造方法及图纸

微力测量装置属于微小力值标定与计量测试技术领域，目的在于解决现有技术存在的结构复杂、力的作用线不易固定和成本高昂的问题。本实用新型专利技术的装置包括不等臂天平、力值复现装置、微位移测量装置、计算机控制系统；不等臂天平的长臂端部设置有托盘，短臂端部设置有边刀结构，边刀结构通过力值复现装置与微位移测量装置连接；微位移测量装置的输出端通过连接套与绝缘杆连接，绝缘杆与力值复现装置的内电极上端盖的螺纹孔连接。本实用新型专利技术采用力值复现装置复现微小力值，并改进数显千分尺用来测量内电极的相对微小位移，把力值变化变成电学量相对于位移量的精密电容梯度变化，通过杠杆结构与标准砝码自重力构成平衡，结构简单、成本较低。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
微力测量装置，其特征在于，包括不等臂天平、力值复现装置、微位移测量装置、计算机控制系统；所述不等臂天平的长臂端部设置有托盘（1），短臂端部设置有边刀结构，所述边刀结构通过力值复现装置与微位移测量装置连接；所述微位移测量装置的数显千分尺（13）的输出端通过连接套（11）与所述绝缘杆（12）连接，所述绝缘杆（12）与所述力值复现装置的内电极（7）上端盖的螺纹孔连接，所述轴承座（10）通过支柱（14）与所述不等臂天平的底座（15）连接，计算机控制系统实现对信号的采集、控制和处理。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：于立娟，牛亚楠，张学成，王海军，
申请(专利权)人：吉林大学，
类型：实用新型
国别省市：